【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于机器视觉的非接触测量方法
，具体涉及一种基于双线阵CCD的带材宽度测量方法，还具体涉及基于双线阵CCD的带材宽度测量系统。
技术介绍
带材是长宽比很大的成卷供应的带状金属材料。宽度大于600mm的带材，称为宽带材；宽度小于600mm的带材，称为窄带材。随着现代工业的日益发展，带材的宽度测量是现代工业生产中需要解决的重要问题，带材生产过程中的自动化程度不断提高，带材生产中带材宽度的测量，以便提高带材的成材率，稳定产品质量。在基于机器视觉的非接触测量技术中，比较成熟的应用方案是采用单线阵CCD，原理是光源发出平行的可见光，照向CCD，带材在CCD与光源之间，一部分光源因受到带材边 缘的遮挡而未能到达传感器，而其余部分光线就被CCD接收。这样，CCD上图像信息的变化，经过后续信号处理电路，C⑶上采集的图像信息就可以准确地反应出带材边缘的位置。然而，此方案不能克服带材的振动对测量的影响。也有采用双CCD相机的测量方法，在带材的两个边缘各安装一个CCD相机，通过标定好的测量系统，计算各边缘在对应的CCD相机中的相对位置变化，实现宽度测量，此方案前期标定过程较烦琐，也不能克服带材的振动对测量的影响。因此，在高速生产线中存在受振动干扰的弊端，已成为制约带材生产相关行业发展的瓶颈。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种基于双线阵CCD的带材宽度测量方法，与现有方法相t匕，在测量高速生产线上带材宽度时不受振动干扰，测量精度高。本专利技术的另一目的是提供一种基于双线阵CCD的带材宽度测量系统，结构简单，测量精度高。本专利技术所采用的技术方案是，一种基于双...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于双线阵CCD的带材宽度测量方法，其特征在于，具体步骤如下 步骤I、在待测量带材(2 )的下方设置直线型光源(I )，在待测量带材(2 )的上方设置相间隔的左侧CXD检测传感器(3)和右侧CXD检测传感器(8)，所述左侧CXD检测传感器(3)和右侧CXD检测传感器(8)的连线与带材(2)和光源(I)均相平行；其中，所述左侧C⑶检测传感器(3)光学中心为C1，所述右侧CXD检测传感器(8)光学中心为C2A1和C2的间距为b，所述左侧CXD检测传感器(3)和右侧CXD检测传感器(8)的成像焦距均为f，以C1和C2的连线为X轴方向，以左侧CCD检测传感器(3)的光轴为Y轴方向，建立平面直角坐标系；步骤2、通过左侧CXD检测传感器(3)和右侧CXD检测传感器(8)分别获得带材(2)在光源(I)照射下的两个成像平面信息， 计算带材(2)左端点P点在上述两个成像平面中Y轴坐标的位置差异，将该位置差异定义为P点的视差S1，计算P点在Y轴上的坐标yi vi=^， .Vi 计算带材(2)右端点Q点在上述两个成像平面中Y轴坐标的位置差异，将该位置差异定义为Q点的视差s2,计算Q点在Y轴上的坐标y2 = Si 步骤3、根据几何特性，分别计算P点在X轴上的坐标X1以及Q点在X轴上的坐标X2 ； 步骤4、计算带材(2)的宽度W : W-vO'-!,) -ix2-xif。2.按照权利要求I所述的基于双线阵CCD的带材宽度测量系统，其特征在于，步骤 j *3中，P点在X轴上的坐标X1以及Q点在X轴上的坐标X2的具体计算方法为xi z=±Y~yX2，其中，I1为P点在左侧CXD检测传感器(3)形成的成像平面...
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