本发明专利技术公开一种用于检测图像传感器的装置，按照光传播的方向依次包括：光源、光衰减器、第一透镜组、第二透镜组、光阑及图像传感器，通过调整所述光衰减器的透过率以获得不同光光强下所述图像传感器的曝光图像。本发明专利技术同时公开一种用于检测图像传感器的方法，包括：获得不同光强下的传感器曝光图像，根据所述曝光图像标定所述传感器的坏点，根据坏簇定义标定出传感器的坏簇区域，对所述坏簇区域排序后寻找测量效果好的区域。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及ー种用于图像设备的检测装置及检测方法，尤其涉及ー种。
技术介绍
图像传感器，是组成数字摄像头的重要组成部分。根据元件的不同，可分为CCD (ChargeCoupled Device,电荷稱合兀件)和 CMOS (Complementary Metal-OxideSemiconductor,金属氧化物半导体元件)两大类。受到制造エ艺的限制，目前制造的图像传感器中不可避免存在一些缺陷，如存在 坏像素点(以下简称坏点)。坏点一般是指该像素的暗电流偏大或其増益与其他像素点存在明显差异，坏点的存在是造成图像质量下降的原因之一。现有技术中针对上述缺陷，通常事先对其进行检测。常用的检测方式为通过曝光获取图像，然后对所获取的图像进行分析，以坏像素点的形式对缺陷进行标定。如专利CN201010230267. I中公开的技术方案，通过匹配合理的曝光參数以及多帧图像扫描，进ー步提高了坏像素点的检测精度。现有技术中常使用的坏点补偿方法主要包括两种一是采用实时检测补偿，对图像传感器进行实时检测，并对检测到的坏点进行补偿。该方法的缺点是受硬件条件约束(如内存)同时也受到检测时间、算法复杂度的影响，很难进行准确的检测和补偿。ニ是采用维护坏点列表，通过选取坏点临近像素对该坏点进行插值补偿。常规补偿算法如《红外焦平面器件盲元检测及补偿算法》(2004年5月公开)中描述的那样，选取与坏像素相邻点对该坏像素插值。由于坏点不一定是孤立存在的，当出现数个坏点相邻时，会降低插值的精度。在专利CN200810112796. 4中，则采用坏像素点周围多个像素点对该坏像素点进行插值，避免了坏像素直接相邻带来的影响，但当出现某块区域内坏像素密集分布时，插值精度仍会受到影响。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种用于检测图像传感器的装置及用于检测图像传感器的方法，该装置及方法能在存在多个坏点时，最大限度获得较优成像区，提高成像质量和后续处理精度。本专利技术为满足上述专利技术目的，公开ー种用于检测图像传感器的装置，按照光传播的方向依次包括光源、光衰减器、第一透镜组、第二透镜组、光阑及图像传感器，通过调整所述光衰减器的透过率以获得不同光光强下所述图像传感器的曝光图像。更进一歩地，该光衰减器是ー衰减片。该光源发出的光束经第一透镜组后转换为平行光、所述平行光经第二透镜组后转换为汇聚光。本专利技术同时公开一种用于检测图像传感器的方法，包括获得不同光强下的传感器曝光图像，根据所述曝光图像标定所述传感器的坏点，根据坏簇定义标定出传感器的坏簇区域，对所述坏簇区域排序后寻找测量效果好的区域。更进一歩地，对所述坏簇区域排序包括按照所需要的測量效果好的区域的位置、大小及所述坏簇区域的位置进行排序。与现有技术相比较，利用本专利技术所公开的装置与方法能够有效避免ROI区域中出现坏点密集分布的情况，并且还可以灵活设置不同的ROI区域，以适应具有不同坏点情况的探测器并能相较现有技术提高成像质量。附图说明关于本专利技术的优点与精神可以通过以下的专利技术详述及所附图式得到进ー步的了解。图I是本专利技术所涉及的检测图像传感器的装置； 图2是本专利技术所涉及的检测图像传感器的方法；图3是图像传感器的坏簇分布示意图。具体实施例方式下面结合附图详细说明本专利技术的具体实施例。如图I中所示，图I是本专利技术所涉及的检测图像传感器的装置，该装置结构简単，成本低廉，非常易于实现。该检测装置按照光路传播的方向依次包括光源101、光衰减器102、第一透镜组103、第二透镜组104、光阑105及图像传感器106。光源I出射的光经过光衰减器102产生合适的检测照明光強。光衰减器102用于对光功率进行衰减的器件，在本实施方式中优选地使用了结构简单的衰减片作示意性说明。从衰减片102中出来的光束，经过第一透镜组103被转换为平行光，该平行光经过第二透镜组104后成为汇聚光束。该汇聚光束经过光阑105去处杂散光后照射到图像传感器106的表面。通过调整积分时间可以获得不同強度的输入信号，并检测出图像传感器对应的输出。通过控制衰减片102的透过率可以控制曝光光强，从而可以获得不同光强下的传感器曝光图像。根据检测结果，可以标定传感器上的坏点。本专利技术所涉及的检测图像传感器的装置及方法，其主要专利技术构思是不直接对坏点采取补偿，而是通过寻找坏点以获得不完全包括包含坏点的小型坏簇区域。在将图像传感器应用到エ业设备的实践过程中发现，有些时候所需采集或处理的图像仅为整个传感器采集图像的一部分，所以使所需图像直接在传感器好的区域内成像，可以从根本上提高成像质量和后续处理精度。因此本专利技术通过多次对传感器进行多次曝光，标定出ー个图像传感器测量效果好的区域(以下均简称为ROI (region of interest)),以供测量使用。本专利技术所涉及的检测图像传感器的方法的流程图如图2中所示。该方法从开始到结束包括以下几个步骤SI，对待侧传感器在不同曝光剂量下进行曝光，获取曝光图像；S2，对所述曝光图像进行分析，根据分析结果标定出传感器的坏像素点；S3，根据坏簇定义标定出传感器的坏簇区域；S4，对所述坏簇区域进行标记，方便捜索；S5，按ROI的需求对坏簇进行筛选排序，排序顺序由目标ROI的位置、大小、坏簇位直决定;S6,按顺序寻找ROI区域；S7，记录下可能满足条件的ROI区域；以及S8,寻找满足要求的ROI区域。在图2中详细阐述了根据待侧传感器的曝光图像获得满足条件的ROI区域的各个步骤。本专利技术的另ー优点在于，可以灵活设置不同的ROI区域，以适应具有不同坏点情况的探测器并能相较现有技术提高成像质量。例如可以设置ROI区域不包含小型坏簇(即2*2区域内坏点的数量大于等于2)保证成像区域内不存在相邻的坏像素；也可以设置ROI区域不包含中型坏簇(即30*30区域内坏点的数量大于等于25)保证整个成像区域内的不存在某块区域内出现坏像素密集分布。 在本实施例中，需要在待测的图像传感器上标定ー个最大的ROI区域。该待测的图像传感器是ー个CMOS传感器，像素为512*512。要求该ROI区域满足以下条件1)无坏簇；2)无行列缺陷；3)R0I区域为不小于CMOS 1/4的正方形；4)该ROI区域需尽量靠近传感器中心。同时对坏簇的定义如下小型坏簇，2*2区域内坏像素点大于等于2个。中型坏簇，30*30区域内坏像素点大于等于25个。行列缺陷定义如下传感器上面某一行或者某一列都为坏点。ROI区域寻找的思路主要包括I.根据目标区域(即要求该ROI区域满足的条件)对搜索顺序进行优化；2.根据已完成的捜索结果对后续搜索进行取舍；3.将不包含区域(坏簇)转换为不包含点(坏簇标记点)。根据已经标定的坏像素和坏簇定义，对坏簇进行标定，标记点为坏簇的左上角点和右下角点。如图3中所示，图3是本实施例中CMOS图像传感器的坏簇分布示意图。该CMOS图像传感器的像素为512*512。图3中的符号I至14均表示分布在该传感器上的坏簇，并且根据目标ROI的位置、大小、坏簇位置，对上述坏簇进行排序，排序后的坏簇顺序如编号所示。如图3中所示，ROI (包括图中的ROIl与R0I2)区域的左边界和上边界只需不包含坏簇的左上角标记点，右边界和下边界只需不包含坏簇的右下角标记点。这样在寻找ROI边界的时候，只需要判本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于检测图像传感器的装置，按照光传播的方向依次包括光源、光衰减器、第一透镜组、第二透镜组、光阑及图像传感器，其特征在于，通过调整所述光衰减器的透过率以获得不同光光强下所述图像传感器的曝光图像。2.如权利要求I所述用于检测图像传感器的装置，其特征在于，所述光衰减器是ー衰减片。3.如权利要求I所述用于检测图像传感器的装置，其特征在于，所述光源发出的光束经第一透镜组后转换为平行光...
【专利技术属性】
技术研发人员：葛亮，王帆，
申请(专利权)人：上海微电子装备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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