本发明专利技术提供了一种测量装置及其使用方法。该装置包括平台、安装在平台上的分度头及可沿着平台滑动的工具显微镜。其还包括高度仪、测微表及法兰盘。其中，高度仪垂直地固定安装在工具显微镜上。测微表可上下滑动地安装在高度仪上。分度头包括可同时驱动旋转的主轴及分度盘，其中，分度盘轴向地放置于平台上，主轴的第一端垂直地固定连接分度盘。主轴的第二端垂直地固定设置法兰盘，待测工件固定安装在法兰盘上；测微表的指针可操作触碰待测工件。本发明专利技术的测量装置可以实现对待测工件的跳动测量，角度测量及长度测量。同时，该装置结构简单、成本低、操作方便、灵活、测量结果准确且可实现测量点无断点连续的跳动测量，实用性很好。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及机械零件測量仪器领域，特别地，涉及ー种测量装置。此外，本专利技术还涉及上述測量装置的使用方法。
技术介绍
在机械零件制造过程的质量控制中，我们往往需要对零件的圆跳动和端面跳动进行检测。目前測量圆跳动和端面跳动的测量工具主要采用圆柱度仪、转台、三坐标等设备进行測量。但采用圆柱度仪价格较高，且其测头的形状、数量有限，有时会出现某些測量位置 触测不到的情況。转台由于只有一个单ー的旋转轴，没有辅助的直角坐标轴，操作很不方便，无法完成对零件某些指定位置的測量。三坐标一般不配备转台，測量时触测的点不连续，测点的间隔较大，导致測量结果不能真实反映零件的实际情況。从以上可以看出，目前现有相关技术的圆跳动和端面跳动测量仪器存在測量成本过高、操作复杂、測量结果不准确以及不连续的问题。
技术实现思路
本专利技术目的在于提供一种，以解决相关技术的圆跳动和端面跳动测量仪器存在測量成本过高、操作复杂、測量结果不准确以及不连续的技术问题。为实现上述目的，根据本专利技术的ー个方面，提供了一种测量装置，其包括平台、安装在平台上的分度头及可沿着平台滑动的工具显微镜，測量装置还包括高度仪、测微表及法兰盘，其中，高度仪垂直地固定安装在工具显微镜上；测微表可上下滑动地安装在高度仪上；分度头包括可同时驱动旋转的主轴及分度盘，其中，分度盘轴向地放置于平台上，主轴的第一端垂直地固定连接分度盘；主轴的第二端垂直地固定设置法兰盘，待测エ件固定安装在法兰盘上；测微表的指针可操作触碰待测エ件。进ー步地，測量装置还包括调整附件，调整附件放置在法兰盘上，待测エ件固定在调整附件上。进ー步地，測量装置还包括滑动安装在高度仪上的加长杆，高度仪通过加长杆连接测微表。进ー步地，分度头还包括外壳体及设置于外壳体上的数显屏，主轴及分度盘容纳于外壳体内，且主轴的第二端延伸出外壳体。进ー步地，调整附件包括千斤顶及第ニ调心板，其中，千斤顶放置在法兰盘上；第ニ调心板放置在千斤顶上；待测エ件固定安装在第二调心板上。 进ー步地，调整附件还包括第一调心板，第一调心板放置于法兰盘与千斤顶之间。根据本专利技术的另一方面，还提供了一种测量装置的使用方法，用于测量待测エ件的跳动，使用上述測量装置实现对待测エ件的跳动测量方法依次包括如下步骤第一歩，将待测エ件固定安装在測量装置的调整附件上；第二步，通过测量装置的工具显微镜和高度仪调整待测エ件的X轴，Y轴，Z轴坐标，使得測量装置的测微表的指针与待测エ件的基准表面碰触；第三歩，转动测量装置的主轴，并同时通过调整调整附件找正待测エ件的基准圆或基准面；第四歩，通过同时移动工具显微镜和高度仪，使得测微表的指针与待测エ件的外周面或端面碰触，同时，测微表归零；第五歩，驱动主轴旋转一周，主轴旋转一周后测微表测得的最大值与最小值之差为待测エ件的圆跳动或端面跳动。根据本专利技术的另一方面，还提供了一种测量装置的使用方法，用于测量待测エ件上两个元素之间的角度，使用上述測量装置实现对待测エ件上两个元素之间角度的測量方法依次包括如下步骤第一歩，将待测エ件固定安装在測量装置的调整附件上；第二歩，通过测量装置的工具显微镜和高度仪调整待测エ件的X轴、Y轴、Z轴坐标，使得測量装置的测微表的指针与待测エ件的基准表面碰触；第三歩，转动测量装置的主轴，并同时通过调整调整附件找正待测エ件的基准圆或基准面；第四步，通过同时移动工具显微镜和高度仪，使得测微表的指针与待测エ件的外周面或端面碰触，同时，测微表归零；第五歩，驱动主轴旋转， 使得测微表的指针触测待测エ件上的第一被测元素，并读取第一被测元素对应在分度盘的第一角度值，并记下指针的位置；第六步，通过移动工具显微镜将测微表移开；第七步，再次驱动主轴旋转，将指针回复到原来的位置，使得指针触测待测エ件上的第二被测元素，并读取第二被测元素对应在分度盘的第二角度值；第八歩，计算第一角度值与第二角度值之间的差。根据本专利技术的另一方面，还提供了一种测量装置的使用方法，用于测量待测エ件上两个位置之间的长度，使用上述測量装置实现对待测エ件上两个位置之间长度的測量方法依次包括如下步骤第一歩，将待测エ件固定安装在測量装置的调整附件上；第二歩，通过调整附件对待测エ件进行调整；第三步，通过移动工具显微镜使得测微表的指针触碰待测エ件上的第一位置，并通过工具显微镜及高度仪记下第一位置的第一坐标值；第四步，通过移动工具显微镜使得测微表的指针触碰待测エ件上的第二位置，并通过工具显微镜及高度仪记下第二位置的第二坐标值；第五步，根据第一坐标值及第ニ坐标值计算第一位置与第二位置的长度值。本专利技术具有以下有益效果本专利技术的測量装置不仅可以实现对待测エ件的圆跳动及端面跳动的测量，还可以实现对待测零件上两个元素之间的角度及长度的測量。同时，本专利技术的測量装置用于测量待测エ件的跳动时，不仅结构简单，成本低，而且操作极其简単、方便、灵活、測量结果准确且可实现测量点无断点连续的跳动测量，实用性很好。除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本专利技术还有其它的目的、特征和优点。下面将參照图，对本专利技术作进ー步详细的说明。附图说明构成本申请的一部分的附图用来提供对本专利技术的进ー步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中图I是本专利技术优选实施例的測量装置的结构示意图。具体实施例方式以下结合附图对本专利技术的实施例进行详细说明，但是本专利技术可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。參见图1，本专利技术的測量装置包括平台I、分度头2及工具显微镜3。其中，分度头2安装在平台I的第一端；工具显微镜3可滑动地安装在平台I的第二端，且工具显微镜3可沿着平台I滑动。具体地，工具显微镜3自带有多根导轨(图未示)，该导轨铺设在上述的平台I上。因此，工具显微镜3可沿着导轨左右前后地滑动。优选地，工具显微镜3可以为数显大型エ具显微镜。这样，操作人员可以更直观地得知工具显微镜3所测得的X轴及Y轴的坐标值。优选地，分度头2与工具显微镜3相隔大约50cm左右。其中，工具显微镜3上垂直地固定安装ー个高度仪4。该高度仪4上滑动安装有一个可沿着该高度仪4上下滑动的加长杆5，且加长杆5上连接ー个测微表6，即是高度仪4 上优选通过ー加长杆5连接ー个测微表6。该测微表6与加长杆5可一起沿着高度仪4上下滑动。工具显微镜3及高度仪4用来确定待测エ件9的三维坐标，即X轴，Y轴，Z轴坐标。在其它实施方式中，也可以不设加长杆5，测微表6可直接滑动的安装在高度仪4上。优选地，高度仪4可以为数显高度仪。这样，操作人员可以更直观地得知高度仪4所测得的Z轴的坐标值。分度头2包括主轴21及分度盘(图未示)。其中，分度盘轴向地放置在平台I上，主轴21的第一端垂直地固定连接分度盘。主轴21及分度盘在其它的驱动部件(图未示)的驱动下可同时旋转。优选地，该分度头2还设置有外壳体22及数显屏23。其中，数显屏23设置在外壳体22的外壁上。在此设置数显屏23的目的在于使得操作人员更直观地了解分度盘转过的角度值。如图I所示，数显屏23上显示的15. 00，代表主轴21旋转了 15度。上述的主轴21及分度盘均收容于外壳体22内，且主轴21的第二端轴向地延伸出外壳体22。在主轴21的第二端的端壁垂直地固定安装ー个法兰盘7，该法兰盘7上安装一系列可操作的调本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测量装置，其特征在于，包括平台、安装在所述平台上的分度头及可沿着所述平台滑动的工具显微镜，所述测量装置还包括高度仪、测微表及法兰盘，其中， 所述高度仪垂直地固定安装在所述工具显微镜上； 所述测微表可上下滑动地安装在所述高度仪上； 所述分度头包括可同时驱动旋转的主轴及分度盘，其中，所述分度盘轴向地放置于所述平台上，所述主轴的第一端垂直地固定连接所述分度盘； 所述主轴的第二端垂直地固定设置所述法兰盘，待测工件固定安装在所述法兰盘上； 所述测微表的指针可操作触碰所述待测工件。2.根据权利要求I所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括调整附件，所述调整附件放置在所述法兰盘上，所述待测工件固定在所述调整附件上。3.根据权利要求I所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括滑动安装在所述高度仪上的加长杆，所述高度仪通过所述加长杆连接所述测微表。4.根据权利要求I所述的测量装置，其特征在于，所述分度头还包括外壳体及设置于所述外壳体上的数显屏，所述主轴及所述分度盘容纳于所述外壳体内，且所述主轴的第二端延伸出所述外壳体。5.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述调整附件包括千斤顶及第二调心板，其中， 所述千斤顶放置在所述法兰盘上； 所述第二调心板放置在所述千斤顶上； 所述待测工件固定安装在所述第二调心板上。6.根据权利要求5所述的测量装置，其特征在于，所述调整附件还包括第一调心板，所述第一调心板放置于所述法兰盘与所述千斤顶之间。7.一种测量装置的使用方法，用于测量待测工件的跳动，其特征在于，使用权利要求I至6中任意一项所述的测量装置实现对所述待测工件的跳动测量，所述使用方法依次包括如下步骤 第一步，将待测工件固定安装在所述测量装置的调整附件上； 第二步，通过所述测量装置的工具显微镜和高度仪调整所述待测工件的X轴、Y轴、Z轴坐标，使得所述测量装置的测微表的指针与所述待测工件的基准表面碰触； 第三步，转动所述测量装置的主轴，并同时通过调整所述调整附件找正所述待测工件的基准圆或基准面； 第四步，通过同时移动所述工具显微镜和所述高度仪，使得所述测微表的指针与所述待测工件的外周面或端面碰触，同时...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩晓明，
申请(专利权)人：中国航空动力机械研究所，
类型：发明
国别省市：
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