液晶显示模组的对比度及FLICKER调试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种液晶显示模组的对比度及FLICKER调试系统，其特征在于，所述调试系统包括：一待进行对比度及FLICKER调试的液晶显示模组；一与该液晶显示模组连接，并根据接收到的第一指令和配置参数对液晶显示模组进行对比度及FLICKER调试的ARM调试板；一根据接收到的第二指令通过测试探头测试该液晶显示模组的面板的对比度及FLICKER值的光学参数测试仪；以及一与该ARM调试板及该光学参数测试仪连接，并发送该第一指令和参数至ARM调试板、发送该第二指令至该光学参数测试仪的主机。通过调试系统，可提高液晶显示模组的对比度及FLICKER的调试速度，并进一步提高其可靠性。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及液晶显示模组调试领域，特别涉及ー种液晶显示模组的对比度及FLICKER调试系统。
技术介绍
随着信息产业技术的迅猛发展，液晶显示模组(Liquid Crystal Module,简称LCM)的需求量急増，特别是中小尺寸的液晶显示模组，其应用范围十分广泛。对于中小尺寸的液晶显示模组来说，对比度以及FLICKER (闪烁)的调试一直是很重要的调试项目之一，而液晶显示模组的对比度及FLICKER的调试，目前一般的做法是人エ不停地设置液晶显示模组的驱动IC中对应调节对比度及FLICKER的寄存器值，以达到调试液晶显示模组的对比度及FLCIKER的目的。然而，目前的调试方式主要有两个缺点ー是 人工调试速度缓慢；ニ是调试结果不可靠。因此，现有技术还有待改进和发展。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的不足之处，本技术的目的在于提供ー种液晶显示模组的对比度及FLICKER调试系统，以解决现有技术中的液晶显示模组在进行对比度和FLICKER调试时，耗时过多、调试不准确等问题。为了达到上述目的，本技术采取了以下技术方案ー种液晶显示模组的对比度及FLICKER调试系统，其中，所述调试系统包括一待进行对比度及FLICKER调试的液晶显示模组；一与该液晶显示模组连接，井根据接收到的第一指令和配置參数对液晶显示模组进行对比度及FLICKER调试的ARM调试板；一根据接收到的第二指令通过测试探头测试该液晶显示模组的面板的对比度及FLICKER值的光学參数测试仪；以及一与该ARM调试板及该光学參数测试仪连接，并发送该第一指令和參数至ARM调试板、发送该第二指令至该光学參数测试仪的主机。所述ARM调试板通过PCB转接板与液晶显示模组连接，通过串ロ线与主机连接。所述光学參数测试仪通过USB线与主机连接。所述主机包括ー用于发送该配置參数至该ARM调试板的配置參数发送模块，一用于发送该第一指令至ARM调试板以指示该ARM调试板根据该配置參数对液晶显示模组进行对比度及FLICKER调试的第一指令发送模块，以及ー用于发送该第二指令至该光学參数测试仪以指示该光学參数测试仪测试该液晶显示模组的面板的对比度及FLICKER值的第二指令发送模块。。所述主机还包括一用于将该光学參数测试仪返回的测试结果进行分析与显示的测试结果分析与显示模块。通过本技术提供的ー种液晶显示模组的对比度及FLICKER调试系统，大大提高了液晶模组的对比度及FLICKER值的调试速度，并进ー步提高了 FLICKER值的可靠性。附图说明图I为本技术的液晶显示模组的对比度及FLICKER调试系统的结构框图。具体实施方式本技术提供了ー种液晶模组的对比度及FLICKER值的调试系统。为使本技术的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下參照附图并举实例对本技术进ー步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。请參阅图1，其为本技术的液晶显示模组的对比度及FLICKER调试系统的结 构框图，如图所示,所述液晶显示模组的对比度及FLICKER调试系统包括液晶显示模组10、主机20、ARM调试板30及光学參数测试仪40。具体地,该液晶显示模组10为ー待进行对比度及FLICKER调试的液晶显示模组，其可包括液晶面板和驱动该液晶面板的驱动IC。该主机20与该ARM调试板30及该光学參数测试仪40连接，并发送第一指令和配置參数至ARM调试板30以及发送该第二指令至该光学參数测试仪40。进一步地,该主机20包括一配置參数发送模块210、一第一指令发送模块220及一第二指令发送模块230。该配置參数发送模块210用于发送该配置參数至该ARM调试板30，其中，该配置參数包括该液晶面板对应调试对比度及FLICKER而显示的测试图片和该液晶面板的驱动IC中对应调试对比度及FLICKER的寄存器的值。该第一指令发送模块220用于发送该第一指令至ARM调试板30以指示该ARM调试板30根据该配置參数对液晶显示模组10进行对比度及FLICKER调试。该第二指令发送模块230用于发送该第二指令至该光学參数测试仪40以指示该光学參数测试仪40测试该液晶显示模组10的液晶面板的对比度及FLICKER值。该ARM调试板30与该液晶显示模组10连接，根据接收到的第一指令将接收到的配置參数发送到液晶显示模组10的驱动IC中，以对该液晶显示模组10进行对比度及FLICKER调试。其中，该ARM调试板30可通过ー PCB转接板50 (适配ARM调试板30与液晶显示模组10之间的连接)与液晶显示模组10连接以及通过串ロ线与主机20连接。该光学參数测试仪40用于根据接收到的第二指令通过测试探头测试该液晶显示模组10的液晶面板的对比度及FLICKER值，并将该测试到的该液晶显示模组10的液晶面板的对比度及FLICKER值返回至该主机20。其中，所述光学參数测试仪40通过USB线与主机20连接。优选地，该主机20还可包括ー测试结果显示模块240，该主机20通过该测试结果显示模块240将该光学參数测试仪40返回的测试结果进行显示，以供用户对比分析，从而选择出合适的该液晶面板的对比度及FLICKER參数。综上所述，通过本技术提供的由所述液晶显示模组、ARM调试板、光学參数测试仪及主机组成的ー种液晶显示模组的对比度及FLICKER调试系统，可提高液晶显示模组的对比度及FLICKER的调试速度，并进ー步提高其可靠性。可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本技术所附的权利要求的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.ー种液晶显示模组的对比度及FLICKER调试系统，其特征在于，所述调试系统包括 一待进行对比度及FLICKER调试的液晶显示模组； 一与该液晶显示模组连接，井根据接收到的第一指令和配置參数对液晶显示模组进行对比度及FLICKER调试的ARM调试板； 一根据接收到的第二指令通过测试探头测试该液晶显示模组的面板的对比度及FLICKER值的光学參数测试仪；以及 一与该ARM调试板及该光学參数测试仪连接，并发送该第一指令和參数至ARM调试板、发送该第二指令至该光学參数测试仪的主机。2.根据权利要求I所述的液晶显示模组的对比度及FLICKER调试系统，其特征在于，所述ARM调试板通过PCB转接板与液晶显示模组连接，通过串ロ线与主机连接。3.根据权利要求I所述的液晶显示模...

【专利技术属性】
技术研发人员：行亚鹏，
申请(专利权)人：TCL显示科技惠州有限公司，惠州泰科立集团股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：