不合格原因的分析显示方法及不合格原因的分析显示装置制造方法及图纸

计算装置16基于对每个产品累计产品的生产数据和检查数据而得的代表值来对发生不合格的不合格原因进行分析。显示装置17对从分析结果提取出的数据项目，使用利用统计方法的计算，来从成为分析对象的多个代表值之中，选择成为代表值的基础的生产数据和检查数据，并加以显示。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及ー种不合格原因的分析显示方法及不合格原因的分析显示装置。
技术介绍
在各种产品的生产エ序中，为了以较高的合格率生产出高质量的产品，要对生产エ序中的现象进行分析，并基于该分析来控制生产エ序，这一点十分重要。对于上述方法之一，有以下方法即，在各种产品的生产エ序中，对发生不合格时的不合格原因进行分析，并将其反馈至生产エ序。对于该不合格原因分析，有以下方法即，将从生产エ序中的制造エ艺能获取到的制造エ艺数据、以及从检查エ艺能获取到的检查数据保存至数据库，对这些数据运用统计上的方法，以提取出不合格原因。在进行这样的不合格原因分析的情况下，常将从生产エ艺获取到的数据按照产品単位或一定期间的批次单位进行划分而形成数据集，对这些数据集进行例如像平均值、最大值、最小值、中值那样的统计上的处理，使用作为各产品、或単位期间批次的数据集的代表值的数据。下面，将这样的数据集的代表值记为总计数据。另外，将生成总计数据前的原来的数据记为详细数据。例如，在专利文献I (日本专利特开2003 — 114713号公报)中的分析中，将以产品単位来进行累计的生产エ艺数据作为该产品的总计数据，对这些产品的总计数据进行主成分分析，从而进行不合格原因分析。利用该分析的结果，能获得所提取出的不合格原因项目名称的列表、以及总计数据的各种标图，利用该结果，来对提取项目是不合格原因的情况进行判断。另ー方面，近年来，随着各种传感器、进行数据采集的设备的性能的提高，能够以较短的采样间隔来对遍及整个生产エ艺的利用各种传感器所获得的測量值进行记录和保存，即，能够记录和保存详细数据。这些数据对于确认生产エ艺中的物理现象是有效的，但不适合直接将其用于专利文献I的不合格原因分析。其理由在于，成为总计数据之前的详细数据的数据量极多，全部使用这些详细数据的计算很庞大，从而无法在可实用的时间内结束分析计算，再有虽然能在不合格原因的分析中提取出详细数据的细微的变化，但难以掌握作为生产エ艺而要改进的项目。另外，关于对操作者显示详细数据，像专利文献2 (日本专利特开2004 — 102963号公报)那样，除了累计而得的数据之外，还显示将所获取到的数据按时间序列进行排列后所得的数据(趋势数据)，从而能详细地确认エ艺的现象。然而，需要进行不合格原因分析的产品的生产エ艺较为复杂，所管理的项目的数量也较多，除此以外，如前所述，正在通过完善获取详细数据的环境，来对更多的数据项目记录详细数据。在以上过程中，难以容易地选择需要操作者来确认的数据项目、产品。 另外，在专利文献I那样的生产エ序中的不合格原因分析単元中，在实施分析吋，通过使用总计数据，能提取出不合格原因。然而，在实际的生产エ序中，负载进行不合格原因分析、改进エ序的负责人(以下记为操作者)需要对所提取出的成为不合格原因的项目判断最終所提取出的内容是否是不合格的原因，并判断是否需要制定改进措施，进而在设定该改进措施的具体内容时，确认详细数据，以确认生产エ艺中的现象。此时，详细数据的数据量较为庞大，操作者难以在其中筛选出想要确认的数据、显示这些数据、并确认数据的变化。在不合格原因分析中，虽然对数据项目进行选择，但作为不合格而被分类的产品的数量较多，即使同时显示出所有的数据，操作者也难以从中选择出所需要的数据。此外，在专利文献2中，关于所显示出的详细数据的选择步骤，从多个产品的数据中选择所显示产品的数据的步骤并不明确，无法解决上述问题。专利文献I :日本专利特开2003 — 114713号公报 专利文献2 :日本专利特开2004 — 102963号公报
技术实现思路
因此，本专利技术的问题在于，提供ー种不合格原因的分析显示方法及不合格原因的分析显示装置，所述不合格原因的分析显示方法及不合格原因的分析显示装置在使用了从生产エ艺和检查エ艺所获取到的数据的不合格原因分析中，对于通过分析而作为不合格原因来提取出的数据项目，来选择对判断分析结果的有效性和制定生产エ艺的改进措施所需要的、合适的详细数据。为了解决上述问题，本专利技术的不合格原因的分析显示方法的特征在于，包括从生产エ艺获取由该生产エ艺所制造的产品中的具有多个数据项目的生产数据、并从检查エ艺获取由所述生产エ艺所制造的产品中的具有多个数据项目的检查数据的エ序;基于所述生产数据和所述检查数据、来对每个所述产品计算所述生产数据和所述检查数据之中的至少ー个数据的代表值(以下记为总计数据)的エ序；基于所述所计算出的代表值、来分析所述产品发生不合格的不合格原因的エ序；以及对于作为不合格原因而通过所述不合格原因的分析所提取出的所述数据项目、来显示成为计算与该数据项目相关的代表值的基础的所述至少一个数据(以下记为详细数据)的エ序，在所述进行显示的エ序中，使用利用统计方法的计算，来从成为所述不合格原因的分析对象的多个代表值之中，选择所显示的所述至少ー个数据。根据本专利技术的不合格原因的分析显示方法，由于具有所述获取エ序、所述计算エ序、所述分析エ序、以及所述显示エ序，因此，在产品的生产エ序中对不合格原因进行分析，判断分析结果的有效性，进而基于分析结果来制定生产エ艺的改进措施，对于这样的生产エ序中的一系列工作，在分析不合格原因时，能通过使用总计数据(代表值)来从整个エ艺中提取出不合格原因，此外，在需要评价分析的有效性、确认制定改进措施这样的エ艺中的详细数据的步骤中，能对操作者呈现合适的详细数据(成为代表值计算的基础的至少ー个数据)。因此，对于高效地进行分析、以及在其后高效地进行确认、应对是有效的。另外，在一个实施方式的不合格原因的分析显示方法中，所述利用统计方法的计算是如下计算即，对于成为所述不合格原因的分析对象的产品，将代表值投影至特征空间上，在所投影的特征空间中的合格品或不合格品之中，选择距离合格品或不合格品的分布的中心点最近的产品。根据该实施方式的不合格原因的分析显示方法，由于所述利用统计方法的计算是如下计算S卩，对于成为所述不合格原因的分析对象的产品，将代表值投影至特征空间上，在所投影的特征空间中的合格品或不合格品之中，选择距离合格品或不合格品的分布的中心点最近的产品，因此，能选择最显现出成为对象的产品组的特征的产品。另外，在一个实施方式的不合格原因的分析显示方法中，所述特征空间是在成为不合格原因的分析对象的产品之中、利用所述检查エ艺或预先设定的设定值、根据判定为合格品的产品的数据而求出的特征空间。根据该实施方式的不合格原因的分析显示方法，由于所述特征空间是在成为不合 格原因的分析对象的产品之中、利用所述检查エ艺或预先设定的设定值、根据判定为合格品的产品的数据而求出的特征空间，因此，通过设定以合格品的数据为基准的特征空间，从而投影至该特征空间的不合格品的数据多与合格品的分布范围不同。这是由于存在某种生产エ艺的异常，在该特征空间上，由于能较好地显现出不合格品相对于合格品的特征，从而能选择出代表该特征的不合格品，因此，能选择出合适的不合格品。另外，在一个实施方式的不合格原因的分析显示方法中，所述特征空间是在成为不合格原因的分析对象的产品之中、利用所述检查エ艺或预先设定的设定值、根据判定为合格品的产品的数据而求出的主成分空间。根据该实施方式的不合格原因的分析显示方法，由于所述特征空间是在成为不合格原因的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：清水　一寿，
申请(专利权)人：夏普株式会社，
类型：发明
国别省市：