一种LED照明综合测试光学系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种LED照明综合测试光学系统，其特征在于：包括LED光源、光学平台、耦合器、将耦合器所收集的光线进行传导的光纤、平行布设于光纤出光口处且与出光口对准的狭缝和滤光片A、将滤光片A过滤后的光线进行准直且将所述光线反射到光栅上的准直镜、对光栅反射过来的光线进行聚焦并进一步反射的聚焦镜、采集聚焦镜反射过来的光线并对所述光线的参数进行测试的探测器以及对所述光线进一步过滤以消除对探测器像元的影响的滤光片B，滤光片B与探测器呈平行布设。本实用新型专利技术结构简单且使用操作方便，工作时能方便迅速地使被测LED光线到达光探测器的像面上，完全能够满足目前LED照明综合测试的高分辨率、高效率的要求。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及ー种光学测试系统，尤其是涉及ー种LED照明综合测试光学系统。
技术介绍
随着LED性能的不断提高，LED的应用不断拓宽，已从指示、显示发展到照明。无论是LED新产品的研发、生产过程的品质控制还是终端产品的检验，检测设备都是促进半导体照明产业发展的ー个重要工具。紧随LED灯具的发展，目前LED检测仪等相关产业链 在我国已经有了很迅速地发展，特别是用于測量LED光參数、电參数及色參数的仪器，目前已经实现了光谱仪用于光色电的综合测试，实现了使用方便探測速度快等优点。但是，目前的光谱仪结构在成像系统中存在像差校正不足，光谱分辨率差，光能传递效率较低等问题。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足，提供ー种LED照明综合测试光学系统，其结构简单且使用操作方便，工作时能方便迅速地使被测LED光线到达光探測器的像面上。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是ー种LED照明综合测试光学系统，其特征在于包括LED光源、光学平台、收集LED光源所发射光线的耦合器、将所述耦合器所收集的光线进行传导的光纤、平行布设于光纤出光ロ处且与所述出光ロ对准的狭缝和滤光片A、将滤光片A过滤后的光线进行准直且将所述光线反射到光栅上的准直镜、对光栅反射过来的光线进行聚焦并进ー步反射的聚焦镜、采集聚焦镜反射过来的光线并对所述光线的參数进行测试的探测器以及对所述光线进ー步过滤的滤光片B ;所述耦合器设置在光纤的入光ロ处，所述准直镜布设在LED光源的照射方向上,所述光栅安装在光学平台上，所述滤光片B与探测器呈平行布设。上述ー种LED照明综合测试光学系统，其特征是所述光纤的工作波长为紫外光、可见光和近红外光的工作波长。上述ー种LED照明综合测试光学系统，其特征是所述聚焦镜为球面反射式聚焦镜。上述ー种LED照明综合测试光学系统，其特征是所述光栅为平面反射式光柵。上述ー种LED照明综合测试光学系统，其特征是所述探测器为内置热电制冷器的探測器。上述ー种LED照明综合测试光学系统，其特征是所述准直镜与光纤的孔径相匹配。本技术与现有技术相比具有以下优点，不仅结构简单、操作方便、投入成本，而且完全能够满足目前LED照明综合测试的高分辨率、高效率的要求。下面通过附图和实施例，对本技术的技术方案做进ー步的详细描述。附图说明图I为本技术的整体结构示意图。附图标记说明I-光源；3-光纤；4-狭缝；5-滤光片A ;6-准直镜；7-光栅；8-聚焦镜；9-探测器；10-滤光片B。具体实施方式如图I所示，本技术包括LED光源I、光学平台2、收集LED光源I所发射光线的耦合器、将所述耦合器所收集的光线进行传导的光纤3、平行布设于光纤3出光ロ处且与所述出光ロ对准的狭缝4和滤光片A5、将滤光片A5过滤后的光线进行准直且将所述光线反射到光栅7上的准直镜6、对光栅7反射过来的光线进行聚焦并进ー步反射的聚焦镜8、采集聚焦镜8反射过来的光线并对所述光线的參数进行测试的探測器9以及对所述光线进一步过滤的滤光片BlO ;所述稱合器设置在光纤3的入光ロ处,所述准直镜6布设在LED光源I的照射方向上，所述光栅7安装在光学平台2上，所述滤光片BlO与探測器9呈平行布设。本实施例中，所述光纤3的工作波长为紫外光、可见光和近红外光的工作波长，即0. 85pm、I. 3pm 和 I. 55pm。本实施例中，所述聚焦镜8为球面反射式聚焦镜。本实施例中，所述光栅7为平面反射式光柵。本实施例中，所述探测器9为内置热电制冷器的探測器，实际工作时可根据需要选用其它类型探測器。本实施例中，所述准直镜6与光纤3的孔径相匹配。本技术的工作过程是，LED光源I所发射的光线经所述耦合器耦合进光纤3，经狭缝4及滤光片A5传输到准直镜6上，准直镜6将经光纤3入射的光准直后，反射到光栅7上，光栅7将入射的光全部反射至聚焦镜8，调整光栅7可以控制光线在光栅7上的入射角及衍射角，实现宽光谱波段，球面反射式聚焦镜8可将光线进行反射、聚光，最終使光线达到探測器9表面形成图像信号。以上所述，仅是本技术的较佳实施例，并非对本技术作任何限制，凡是根据本技术技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构变化，均仍属于本技术技术方案的保护范围内。权利要求1.ー种LED照明综合测试光学系统，其特征在干包括LED光源(I)、光学平台(2)、收集LED光源(I)所发射光线的耦合器、将所述耦合器所收集的光线进行传导的光纤(3)、平行布设于光纤(3)出光ロ处且与所述出光ロ对准的狭缝(4)和滤光片A(5)、将滤光片A(5)过滤后的光线进行准直且将所述光线反射到光栅(7)上的准直镜(6)、对光栅(7)反射过来的光线进行聚焦并进ー步反射的聚焦镜(8)、采集聚焦镜(8)反射过来的光线并对所述光线的參数进行测试的探測器(9)以及对所述光线进ー步过滤的滤光片B(IO);所述耦合器设置在光纤(3)的入光ロ处，所述准直镜(6)布设在LED光源(I)的照射方向上，所述光栅 (7)安装在光学平台(2)上，所述滤光片B(IO)与探測器(9)呈平行布设。2.按照权利要求I所述的ー种LED照明综合测试光学系统，其特征在于所述光纤(3)的工作波长为紫外光、可见光和近红外光的工作波长。3.按照权利要求I或2所述的ー种LED照明综合测试光学系统，其特征在于所述聚焦镜(8)为球面反射式聚焦镜。4.按照权利要求I或2所述的ー种LED照明综合测试光学系统，其特征在于所述光栅(7)为平面反射式光柵。5.按照权利要求I或2所述的ー种LED照明综合测试光学系统，其特征在于所述探测器(9)为内置热电制冷器的探測器。6.按照权利要求I或2所述的ー种LED照明综合测试光学系统，其特征在于所述准直镜(6)与光纤(3)的孔径相匹配。专利摘要本技术公开了一种LED照明综合测试光学系统，其特征在于包括LED光源、光学平台、耦合器、将耦合器所收集的光线进行传导的光纤、平行布设于光纤出光口处且与出光口对准的狭缝和滤光片A、将滤光片A过滤后的光线进行准直且将所述光线反射到光栅上的准直镜、对光栅反射过来的光线进行聚焦并进一步反射的聚焦镜、采集聚焦镜反射过来的光线并对所述光线的参数进行测试的探测器以及对所述光线进一步过滤以消除对探测器像元的影响的滤光片B，滤光片B与探测器呈平行布设。本技术结构简单且使用操作方便，工作时能方便迅速地使被测LED光线到达光探测器的像面上，完全能够满足目前LED照明综合测试的高分辨率、高效率的要求。文档编号G01J3/42GK202403799SQ201120493649公开日2012年8月29日 申请日期2011年12月1日 优先权日2011年12月1日专利技术者李文辉, 王 琦, 胡焕性 申请人:西安金诺光电科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李文辉，王琦，胡焕性，
申请(专利权)人：西安金诺光电科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：