智能卡芯片存储器的神经网络测试模块及测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种智能卡芯片存储器的神经网络测试模块及测试系统，神经网络测试模块与多个存储器连接，包括测试控制模块、响应分析模块和数据选择模块，测试控制模块用于接收系统时钟源提供的时钟信号、下载模块提供的使能信号和复位信号作为输入信号，并为每一存储器输出一组测试信号；数据选择模块，用于针对测试控制模块的输出信息，选择出要向不同的存储器输入的信息；响应分析模块，包括响应分析器及解码控制器，该解码控制器，用于将从多个不同的存储器返回的错误信息同时解析出来，并从一个输出端口输出提示各个存储器的错误信息。本实用新型专利技术可在大批量生产智能卡芯片的过程中实现高效测试智能卡芯片存储器。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及智能卡芯片测试
，尤其涉及ー种智能卡芯片存储器的神经网络测试模块及测试系统。
技术介绍
智能卡芯片在生产成型后，首要的任务是对智能卡芯片中的存储器进行测试扫描。传统的测试扫描技术包括软件测试扫描技术和硬件测试扫描技术，其中，软件测试扫描技术也称为自测试技术,硬件测试扫描技术也称为内建自测试技术。软件自测试技术在存储器测试扫描中，存在着诊断分辨率差、诊断时间长、效率低、使用费用较高等缺点。内建自测试技术有效地解决了软件自测试技术在存储器测试扫描中存在的诸多问题，并具有结构简单、有效测试时间短、测试灵活性强、可以实现在线测试等优点。目前，内建自测试技术在对智能卡芯片中的存储器进行测试扫描中仍存在ー些问题。例如，电路只能在CPU工作时才可工作，毎次只能对一片存储器进行测试，测试时间相对较长，不能精确定位错误类型和错误地点，不适用于智能卡芯片的大批量生产。如图I所示，给出了内建自测试技术的电路结构原理图。传统的内建自测试技术的数字电路主要包括测试控制器、测试生成器和响应分析器。在测试控制器内，预设有某种特定算法，而这种算法就决定了测试方案的唯一性。所述测试控制器有3个输入信号，即复位信号、使能信号和时钟信号。复位信号可使测试控制器的状态恢复成原始状态；使能信号用于控制测试控制器是否能正常工作；时钟信号用于控制电路的工作步骤。测试控制器还有5个输出信号，即地址信号、用于确定要写入某片存储器内数据所处的地址；数据信号、用于确定往存储器写入的数据；存储器控制信号、用于控制数据处于哪个输入端ロ ；暂停信号，用于判别存储器的好和坏；响应分析器控制信号，用于将错误的信息传给响应分析器，以便识别存储器的错误地址。测试生成器是由3个数据选择器组成，用来选择输入到存储器中的信号是从内建自测试控制器发出，还是从芯片其他模块发出。由内建自测试控制器输出的3路信号输入到测试生成器中，其他的输入信号则是由芯片内的其它模块根据具体功能要求而输入的。测试生成器中的3个数据选择器分别发出一路输出信号与存储器相连，通知存储器要写入的地址、数据和端ロ编号。响应分析器有3路输入信号和I路输出信号。测试控制器给响应分析器2个输入信号；存储器给响应分析器I个输入信号。这3路输入信号同时控制响应分析器，响应分析器判断错误地址。图I所示的传统的内建自测试技术的电路工作流程如下所述。首先,读卡器通电,读卡器处于正常工作状态，将智能卡插入读卡器内，智能卡内的下载模块首先工作，在下载模块正常工作后再触发智能卡内的CPU开始工作。CPU开始给测试控制器提供复位信号、使能信号和时钟信号，使测试控制器开始エ作。在测试控制器启动后，根据测试控制器事前预置规定的算法，通过测试生成器给存储器发出三个信号，即写入数据信号、地址信号和端口号信号，使存储器处于工作状态。存储器按照测试控制器提供的信息要求执行，工作结束后存储器再将其自身的输出信号传输到响应分析器中，同时测试控制器也要给响应分析器提供两组信号，响应分析器再对其三组输入信号进行分析，响应分析器通过分析以此判断存储器是否发生错误。如果响应分析器判断存储器是发生错误的，则响应分析器发出ー组提示信号，令CPU暂停エ作。反之响应分析器不发出提示信号，CPU正常工作。此时测试工作过程结束。通过对上述传统的内建自测试技术的电路的说明可知,现有的内建自测试技术均是在CPU主导和控制下进行的测试扫描，所以测试过程中存在的缺点主要包括(I)每ー次测试只能针对一片存储器进行检测，导致了测试时间较长，测试效率低；(2)测试精确度低，容错率低，不能精确判断错误类型和错误地点；(3)因测试效率低下，直接导致智能卡芯片产量低。因此，在采用内建自测试技术时，如何针对大批量生产的智能卡芯片内的存储器实现在线测试扫描成为需要解决的技术问题。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题在于，提供ー种智能卡芯片存储器的神经网络测试模块及测试系统。为了解决上述问题，本技术提出了ー种智能卡芯片存储器的神经网络测试模块，其与多个存储器连接，包括测试控制模块、响应分析模块和数据选择模块，其中所述测试控制模块，用于接收系统时钟源提供的时钟信号、下载模块提供的使能信号和下载模块提供的复位信号作为输入信号，并为每一存储器输出一组测试信号；所述数据选择模块，包括数据选择器，该数据选择器用于针对测试控制模块的输出信息，选择出要向不同的存储器输入的信息；所述响应分析模块，包括响应分析器及解码控制器，该解码控制器，用于将从多个不同的存储器返回的错误信息同时解析出来，并从ー个输出端ロ输出提示各个存储器的错误信息。其中，所述测试控制模块为每一存储器输出一组测试信号以及所述数据选择模块为存储器选择的输入信息包括但不限于端ロ选择信号，读使能信号，写使能信号，写数据信号，写地址信号。其中，所述测试控制模块是根据March Cff算法设计的测试电路模块。 其中，所述测试控制模块的输出信号还包括用于控制响应分析模块的控制信号，以及用于向神经网络测试模块外输出的暂停信号。其中，所述响应分析模块通过解码及分析获得的错误信息包括但不限干错误类型、错误地址和错误存储器号。本技术还提供一种智能卡芯片存储器的神经网络测试系统，包括神经网络测试模块，以及测试时与其相连的多个存储器；其中，所述神经网络测试模块，用于为每一个存储器输出ー组测试信号，并在所述存储器测试结束后接收每一存储器返回的信号作为输入信号，并对接收的存储器返回的输入信号进行分析，判断各个存储器是否发生错误，并将判断结果输出。进ー步地，所述神经网络测试模块，包括测试控制模块、响应分析模块和数据选择模块，其中所述测试控制模块，用于接收系统时钟源提供的时钟信号、下载模块提供的使能信号和下载模块提供的复位信号作为输入信号，并为每一存储器输出一组测试信号；所述数据选择模块，包括数据选择器，该数据选择器用于针对测试控制模块的输出信息，选择出要向不同的存储器输入的信息； 所述响应分析模块，包括响应分析器及解码控制器，该解码控制器，用于将从多个不同的存储器返回的错误信息同时解析出来，并从ー个输出端ロ输出提示各个存储器的错误信息。其中，所述测试控制模块为每一存储器输出一组测试信号以及所述数据选择模块为存储器选择的输入信息包括但不限于端ロ选择信号，读使能信号，写使能信号，写数据信号，写地址信号。其中，所述测试控制模块是根据March CW算法设计的测试电路模块；所述测试控制模块的输出信号还包括用于控制响应分析模块的控制信号，以及用于向神经网络测试模块外输出的暂停信号。其中，所述响应分析模块通过解码及分析获得的错误信息包括但不限干错误类型、错误地址和错误存储器号。本技术的ー种智能卡芯片存储器的神经网络测试模块及测试系统，完全不需要CPU主导和控制进行测试扫描；在成品智能卡芯片的测试阶段，可以同时对多片的单、双ロ存储器进行检测，有高的测试效率；该神经网络测试模块所用元件少；无需外加激励；可精确定位错误位置；可嵌入性好。有效解决了在大批量生产智能卡芯片的过程中，测试存储器时依赖CPU且测试效率低等问题。附图说明图I是内建自测试技术电路结构原理图；图2是神经网络测试模块内部各个子模块的连接关系图；图3是智能卡芯片存储器本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郝晓东，张莹，
申请(专利权)人：大唐微电子技术有限公司，
类型：实用新型
国别省市：