一种设备开盖检测装置制造方法及图纸

技术编号:7718321 阅读:331 留言:0更新日期:2012-08-30 02:06
本发明专利技术公开了一种检测装置,尤其涉及对野外型设备是否被开盖的一种设备开盖检测装置,包括:安装在设备中并且接收到光信号时会产生反向电流的光敏二极管;接收到光敏二极管产生的反向电流形成负载电压的负载转换模块;接收到负载转换模块产生的负载电压就导通在集电极处形成低电平的三极管;对三极管集电极处产生的低电平进行采样的CPU;接收采样点发送的信息的终端服务器;所述光敏二极管和三极管均与电源相连。本发明专利技术的作用是:本发明专利技术利用光敏二极管的感光特性来检测设备的壳体是否处于打开状态,不依靠机械开关来检测是否开盖,能够及时将是否开盖的状况发送到远程机房监控电脑等终端服务器,以便工作人员及时排除故障。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测装置,尤其涉及对野外型设备是否被开盖的一种设备开盖检测装置
技术介绍
目前,开盖检测装置大都使用机械开关来检测,一般多是安装在电能表中。在广电野外型设备中也有应用,不管使用场合是室内或室外都能应用。当打开设备盖子吋,由ー个常闭触点和电路构成,其特点是常闭触点设置在设备内的面盖结合处,常闭触点的按钮顶在面盖上,在设备面盖闭合时,表面盖压迫常闭触点的按钮使其断开。当有人为的开盖动作时,开关的断开产生一个脉冲信号并由单片机MCU记忆,从而解决由于人为开盖窃电造成的电量损失。这种技术实现方便、简单。但这种装置的缺点是机械开关的稳定性较差,可靠 性不高,长时间后机械触点易氧化造成接触不良。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供ー种设备开盖检测装置的实施方式,以期望可以解决现有的开盖检测装置稳定性较差,可靠性不高,长时间后机械触点易氧化造成接触不良的问题。为解决上述问题,本专利技术所采取的技术方案是ー种设备开盖检测装置,其特征在干包括安装在设备中并且接收到光信号时会产生反向电流的光敏ニ极管;接收到光敏ニ极管产生的反向电流形成负载电压的负载转换模块;接收到负载转换模块产生的负载电压就导通在集电极处形成低电平的三极管;对三极管集电极处产生的低电平进行采样的CPU ;接收采样点发送的信息的終端服务器;所述光敏ニ极管和三极管均与电源相连。为使本专利技术起到更好的技术效果更进一歩的技术方案是上述三极管未收到负载电压时,三极管的集电极会产生高电平。更进一歩的技术方案是上述光敏ニ极管和三极管均与3. 3V的电源相连。更进一歩的技术方案是上述负载转换模块是有负载电阻并联负载电容构成。更进一歩的技术方案是上述负载电阻与三极管之间设置有分压限流电阻。更进一歩的技术方案是上述三极管与終端服务器CPU之间的电连接设有限流电阻。更进一歩的技术方案是上述三极管与电源之间的电连接设有限流电阻。采用上述技术方案所产生的有益效果在干本专利技术利用光敏ニ极管的感光特性来检测设备的壳体是否处于打开状态,不依靠机械开关来检测是否开盖,能够及时将是否开盖的状况发送到远程机房监控电脑等终端服务器,以便工作人员及时排除故障。附图说明图I是本专利技术ー种设备开盖检测装置一个实施例的连接框图。图中,PDl为光敏ニ极管;R5为负载电阻;R3和R4为分压限流电阻;Q1为三极管;Rl为限流电阻;R2为限流电阻;C1为负载电压;A为CPU的采样点。具体实施例方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行进ー步详细说明。应 当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。图I示出了本专利技术ー种设备开盖检测装置的一个实施例ー种设备开盖检测装置,包括安装在设备中并且接收到光信号时会产生反向电流的光敏ニ极管;接收到光敏ニ极管产生的反向电流形成负载电压的负载转换模块;接收到负载转换模块产生的负载电压就导通在集电极处形成低电平的三极管;对三极管集电极处产生的低电平进行采样的CPU;接收采样点发送的信息的終端服务器,其中所述光敏ニ极管和三极管均与电源相连。根据本专利技术ー种设备开盖检测装置的一个实施例,三极管未收到负载电压时,三极管的集电极会产生高电平。根据本专利技术ー种设备开盖检测装置的另ー个实施例,光敏ニ极管和三极管均与3.3V的电源相连。根据本专利技术ー种设备开盖检测装置的另ー个实施例,负载转换模块是有负载电阻并联负载电容构成。根据本专利技术ー种设备开盖检测装置的另ー个实施例,负载电阻与三极管之间设置有分压限流电阻。根据本专利技术ー种设备开盖检测装置的另ー个实施例,三极管与終端服务器CPU之间的电连接设有限流电阻。根据本专利技术ー种设备开盖检测装置的另ー个实施例,三极管与电源之间的电连接设有限流电阻。如图I所示,当开合处打开时,PDl接收到光信号,产生一反向电流,在负载电阻R5上形成ー电压,此电压通过分压限流电阻R3和R4产生ー电流接到三极管Ql基扱,使Ql处于导通工作状态,Ql集电极通过限流电阻Rl与电源相连接,在集电极处形成低电平;反之,在壳体没有打开的状态下,PDl没有接收到光信号,不会有反向电流产生,负载电阻R5上没有电压,Ql处于关闭状态,在集电极处就为高电平,CPU在A处采样到Ql集电极处的高低电平变化,来判断设备的壳体是否打开,当采样到Ql集电极处高电平时,认为是设备的壳体是开闭的,当采样到Ql集电极处低电平时,认为是设备的壳体是打开的,发送此信息到终端服务器。在本说明书中所谈到的“一个实施例”、“另ー个实施例”、“实施例”、“优选实施例”等,指的是结合该实施例描述的具体特征、结构或者特点包括在本申请概括性描述的至少一个实施例中。在说明书中多个地方出现同种表述不是一定指的是同一个实施例。进ー步来说,结合任一实施例描述ー个具体特征、结构或者特点时,所要主张的是结合其他实施例来实现这种特征、结构或者特点也落在本专利技术的范围内。尽管这里參照本专利技术的多个解释性实施例对本专利技术进行了描述,但是,应该理解,本领域技术人员可以设计出很多其他的修改和实施方式,这些修改和实施方式将落在本申 请公开的原则范围和精神之内。更具体地说,在本申请公开、附图和权利要求的范围内,可以对主题组合布局的组成部件和/或布局进行多种变型和改进。除了对组成部件和/或布局进行的变型和改进外,对于本领域技术人员来说,其他的用途也将是明显的。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.ー种设备开盖检测装置,其特征在于包括 安装在设备中并且接收到光信号时会产生反向电流的光敏ニ极管; 接收到光敏ニ极管产生的反向电流形成负载电压的负载转换模块; 接收到负载转换模块产生的负载电压就导通在集电极处形成低电平的三极管; 对三极管集电极处产生的低电平进行采样的CPU ; 接收采样点发送的信息的終端服务器; 所述光敏ニ极管和三极管均与电源相连。2.根据权利要求I所述的ー种设备开盖检测装置,其特征在于所述三极管未收到负载电压时,三极管的集电极会产生高电平。3.根据权利要求I所述的ー种设备开盖...

【专利技术属性】
技术研发人员:殷惠江龚祚发丁涛郑叶明
申请(专利权)人:太仓市同维电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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