【技术实现步骤摘要】
本专利技术是一种,特别是一种协助劈裂破片晶圆的。
技术介绍
晶圆是通过晶圆劈裂机被分割成多数晶粒,晶粒进一歩固设在载体上并执行电路布设,接着进行封装作业而制成半导体元件,其中,晶圆在运送途中会因碰撞而产生破片情形,又因晶圆的价格昂贵,所以破片的晶圆仍需要进入晶圆劈裂机进行分割作业,避免浪费 材料与成本,其中,晶圆在进行劈裂之前,需要在晶圆上激光切割出横向、纵向的预切线,接着进行保护处理之后,再将处理过后的晶圆放置在晶圆劈裂机的工作台上,并以单一影像读取单元读取晶圆的轮廓影像,并将数据传输至一运算单元,进而定位晶圆,且晶圆劈裂机上的劈刀受驱动而对晶圆的预切线处进行劈裂作业。然而,破片晶圆的边界呈不规则状,以及预切线的长度也不一定,晶圆劈裂机对在不同长度的预切线均施加相同的劈裂深度,在劈裂晶圆长度较短的预切线,施加的批裂强度超过其负荷而易损坏,在劈裂晶圆长度较长的预切线,可能造成无法一次即劈断预切线的情形,因此晶圆劈裂机需要对同一预切线重复劈裂,造成耗エ费时的问题。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种,改善现有晶圆劈裂方法无法针对破片晶圆提供适当劈裂深度的问题。本专利技术的技术解决方案是提供一种,其中,所述包含有ー摄像步骤,以ー第一摄像单元读取破片晶圆的轮廓,并将数据传送至一运算单元;一定位步骤,将破片晶圆定位在一旋转台上;一决定长度步骤,取出一基准点,以破片晶圆的轮廓数据决定一第二摄像单元的移动路径,由第二摄像单元取得预切线与轮廓交界的坐标数据,并传送至运算单元以计算每ー预切线的长度;以及一决定劈裂深度步骤,依据每ー预切线的长度,可由运算单元的 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种晶圆劈裂的前置检测方法,其特征在于,所述晶圆劈裂的前置检测方法包含 ー摄像步骤,以ー第一摄像单元读取破片晶圆的轮廓,并将数据传送至一运算单元; 一定位步骤,将破片晶圆定位在一旋转台上; 一决定长度步骤,取出一基准点,以破片晶圆的轮廓数据决定一第二摄像单元的移动路径,由第二摄像单元取得预切线与轮廓交界的坐标数据,并传送至运算单元以计算每ー预切...
【专利技术属性】
技术研发人员:李明勋,张宏铭,
申请(专利权)人:竑腾科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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