本发明专利技术提供一种光学检测装置，上述装置包含平台，其在第一方向上延伸的；传送单元，用于在上述第一方向上由其输入埠输送至少一载板至输出埠，上述至少一载板的每一个用于支撑要被检测的至少一物件其中之一；第一探测器，其设置在上述平台之上，并在与上述第一方向垂直的第二方向上延伸，用于检测在上述至少一载板上的上述至少一物件，上述第一探测器包括第一扫描仪，其在上述第二方向上延伸于上述输入埠与上述输出埠之间；以及第一滚轮组，其位于上述第一扫描仪与上述输入埠之间，用于施加力量至上述至少一物件的每一个的表面上。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术总体涉及光学检测，特别涉及一种用于检测相关物件的缺陷或特征的装置。
技术介绍
例如液晶显示器(Liquid crystal display,「LCD」)装置的显示装置,是用于电子式显示包括文字、影像及动画的信息。IXD可以包括一些迭层，例如可判定上述IXD的质量的偏光滤光板、玻璃基板、彩色滤光板、液晶及反射表面。为了检查LCD是否合格，也就是说，上述LCD是否具有少于预定数量的缺陷，有时候采用肉眼来检测。但是，肉眼检测在LCD 的大量生产中代表耗时、耗工及不准确。再者，随着半导体制造的进步，由肉眼检测来检验具较小尺寸特征的LCD产品变得更为困难。因此，已经开发出用于自动检测LCD面板的检测系统或装置。然而，一些自动扫描系统可能无法辨识，除非在特定方向上观看才能看到或探测到的光学特性的缺陷。另外，在检测程序期间，外来物质(例如尘土或灰尘等)可能被错认为缺陷。再者，在检测之前可能需要手动开启面板，这使得这种扫描系统并非如此自动化。因此需要提供一种能够辨识光学特性的缺陷，且在检测期间能够移除面板表面上的外来物质的装置。另外，还需要提供一种能够供应电力给检测中的面板的装置。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种光学检测装置。上述装置包含平台，其在第一方向上延伸的；传送单元，用于在上述第一方向上由其输入埠输送至少一个载板至输出埠，上述至少一载板的每一个用于支撑要被检测的至少一物件其中之一个；第一探测器，其设置在上述平台之上，并在与上述第一方向垂直的第二方向上延伸，用于检测在上述至少一个载板上的上述至少一物件，上述第一探测器包括第一扫描仪，其在上述第二方向上延伸于上述输入埠与上述输出埠之间；以及第一滚轮组，其位于上述第一扫描仪与上述输入埠之间，用于施加力量至上述至少一物件的每一个的表面上。本专利技术的实例也可提供一种光学检测装置。上述装置包括第一装置单元，其包含第一平台，其在第一方向上延伸；第一传送单兀，用于在上述第一方向上由其一第一输入埤输送载板至第一输出埠；以及第一探测器，其设置在上述第一平台之上，并在与上述第一方向垂直的第二方向上延伸，用于纵向地检测在上述载板上的物件；以及第二装置单元，其包含第二平台，其在上述第二方向上延伸；第二传送单元，用于在上述第二方向上由其第二输入埠输送上述载板至第二输出埠；以及第二探测器，其设置在上述第二平台之上，并在上述第一方向上延伸，用于横向地检测在上述载板上的上述物件。本专利技术的实例另可以提供一种光学检测装置。上述装置包括平台，其在第一方向上延伸；第一探测器，其设置在上述平台之上，并在与上述第一方向垂直的第二方向上延伸，用于检测物件；以及传送单兀，用于在上述第一方向上由其输入埤输送载板至输出埤，其中上述载板具有第一表面以支撑在其上的上述物件，及第二表面，在其上提供电力控制单元以控制对上述物件的电力供应，上述载板包括在上述第二表面上的一对导电轨，用于在检测期间当上述载板由上述传送单元输送时，通过上述传送单元电气连接上述电力控制单元至电源。于下文的说明中将部份提出本专利技术的其它特点与优点，而且从上述说明中将了解本专利技术其中一部份，或者通过实施本专利技术也可得知。凭借随附的权利要求中特别列出的元件与组合将可了解且达成本专利技术的特点与优点。应该了解的是，上文的概要说明以及下文的详细说明都仅供作示例与解释，其并未限制本文所主张的专利技术。附图说明结合以下附图进行阅读，即可更好地了解本专利技术的上述详细说明。为达到本专利技术的说明目的，各附图中图绘有实施例。应当了解本专利技术并不限于实施例中所示的精确排置方式及设备装置。图I为根据本专利技术一个实施例的光学检测装置的示意图；图2为图I所示的装置的清洗器的放大图；图3A为图I所示的装置的探测器的俯视图；图3B为图3A所示的装置的探测器的后视立面图；图3C为图I所示的装置的左侧示意图；图3D为根据本专利技术另一个实施例如图I所示的装置的左侧示意图；图3E为根据本专利技术一个实施例的滚轮调整机构的示意图；图3F为根据本专利技术另一个实施例的滚轮调整机构的示意图；图3G为根据本专利技术又另一个实施例的滚轮调整机构的示意图；图4为根据本专利技术另一个实施例的光学检测装置的示意图；图5A及5B为根据本专利技术又另一个实施例的光学检测装置的示意俯视图；图6A为图I所示的光学检测装置中载板的俯视立面图；图6B为图6A所示的载板的底视图；图7-1到7-6为其中可应用根据本专利技术的载板的不同尺寸的面板的示意图；图8A为显示根据本专利技术一个实施例中当其上固定有第一物件的载板的俯视立面图； 图SB为显示根据本专利技术一个实施例中当其上固定有第二物件的上述载板的俯视立面图；图SC为显示根据本专利技术一个实施例中当其上固定有第三物件的上述载板的俯视立面图；图9A为图8A所示的上述第一物件的底视图；以及图9B为显示当其上固定有上述第一物件的上述载板的底视图。主要元件符号说明20光学检测装置21 平台22探测器22k第三调整工具22H第一调整工具22R第二调整工具 220支撑结构221第一扫描仪222第二扫描仪227滚轮支撑227R滚轮支撑单元228第一组滚轮229第二组滚轮23清洗器23R第四调整工具231离子移除器232空气刀24传送单元241输送带242输入埠243输出埠25-1 载板25-2 载板25-3 载板251 第一开口252 第二开口253 第三开口254连接器25t上方或第一表面25b底面或第二表面26b底表面26-1 物件26-2 物件26-3 物件27控制器30光学检测装置32探测器327滚轮支撑328 单一滚轮329直线沟槽428 单一滚轮429对角线沟槽50光学检测装置51第一装置单元52第二装置单元 60电力控制单元61，62 导电轨81插头82可挠性电路板83夹钳92条形码Xl第一轴X2第二轴S3第三传感器yl缺陷y2缺陷具体实施例方式现将详细参照于本专利技术的实施例，其实施例的图解在说明书附图中。尽其可能，所有附图中将依相同元件符号以代表相同或类似的部件。图I为根据本专利技术一个实施例的光学检测装置20的示意图。请参照图1，装置20可包括平台21、探测器22、清洗器23、传送单元24、复数个载板25_1、25_2与25_3用于在检测时分别承载物件26-1、26-2与26-3、及控制器27。平台21可作为光学检测用的工作台。在根据本专利技术的一个实施例中，平台21可包括金属架构，并延伸于第一方向上。此外，平台21的长度可设计成允许排列例如六个物件。传送单兀24可包括一组输送带241及导轨(图中未表不)，用于在上述第一方向上由其输入埠242输送物件26-1到26-3至输出埠243。探测器22可包括一个或多个扫描仪用于检测物件26-1到26_3。上述扫描仪可包括由Cooper S. K. Kuo与Ron Tsai (与本申请的专利技术人相同)在2010年3月26日申请的美国专利，申请编号12/732,586(名为「检测系统(Inspection System) J )中描述与示例的扫描仪。探测器22可以设置在平台21之上，并在实质上与上述第一方向垂直的第二方向上延伸。清洗器23可用于移除外来物质，例如由于环境因素而在检测时附着在物件的表面上的灰尘或尘土。这些外来物质如果没有经过适当地移除会被探测器22探测到，并本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭上鲲，蔡荣华，李小麟，
申请(专利权)人：郭上鲲，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。