辉度测量系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种辉度测量系统，其包括有支撑平台与设于支撑平台上的测量主体，该测量主体内设有待测样品，该测量主体一端设有安装于该支撑平台上的用以测量待测样品辉度的辉度计，该测量主体另一端设有安装于支撑平台上的用于对待测样品进行照射的标准光源，该测量主体外部设置温控装置，该辉度计通过RS232接口与计算机连接。本实用新型专利技术的辉度测量系统具有可移动、距离可调、温度可控、试样换取方便及数据实时采集等优点，并能提高高分子材料的辉度测量准确度。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术有关一种辉度测量系统，特别是指一种用于测量辉光材料辉度、且测量精度高的辉度测量系统。
技术介绍
辉光高分子材料产业在欧美等西方发达国家正在兴起，其应用领域涉及消防、船舶、建筑、交通、铁路、军事等。目前国外许多大型国际机场、地铁、飞机及世界著名建筑等诸多领域，都采用了储能自辉光高分子材料标志指示产品。西方多数国家已经通过立法规定，建筑中必须使用新型环保高分子辉光产品，欧盟国家也已颁布相应行业标准。在国内，也广泛进行了辉光材料的研发与应用。目前辉光材料的辉度测量一般采用亮度计进行测量，但这种测量方式将受到人为主观因素、环境因素的影响，造成测量准确性降低，影响对材料发光特性的正确评价。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的主要目的在于提供一种对辉光高分子材料测量精度高的辉度测量系统。为达到上述目的，本技术提供一种辉度测量系统，其包括有支撑平台与设于支撑平台上的测量主体，该测量主体内设有待测样品，该测量主体一端设有安装于该支撑平台上的用以测量待测样品辉度的辉度计，该测量主体另一端设有安装于支撑平台上的用于对待测样品进行照射的标准光源，该测量主体外部设置温控装置，该辉度计通过RS232接口与计算机连接。优选地，所述测量主体为伸缩式结构，由2飞个内径不同的套筒依次套合组成。该伸缩式的测量主体由两个套筒组成，为内筒与外筒，该内筒套合在外筒内，该内筒靠近所述辉度计的一端设有前挡板，该前挡板设有取光孔，该外筒靠近所述标准光源的一端设有后挡板，所述测量主体后部设置滑槽，该后挡板与所述测量主体插入式连接。所述后挡板设有后盖板滑槽，该后盖板滑槽中插入有测量板，该测量板为透明板，内设置有内径为KTlOOmm大小不同的圆环，这些圆环依次嵌合并能拆卸，圆环内孔为测量孔，测量孔内安放有待测样品。所述前挡板与后挡板之间设置有计量测量距离的伸缩尺。所述支撑平台上设置有能调节所述套筒移动距离的滑板和固定螺栓。优选地，所述测量主体为滑板式结构，其为中空的矩形体，所述测量主体顶端横向方向开设有两条上下平行的滑槽，所述测量主体内部设有纵向的测量滑板，该测量滑板顶端两侧突出部分嵌合在下部滑槽中，测量滑板能够沿下部滑槽在所述测量主体内前后运行，所述测量主体上方盖有上盖板，该上盖板能在上部的滑槽中运行。所述测量主体靠近所述辉度计的一端设有前挡板，该前挡板上设有取光孔，所述测量滑板由两层板组成，所述测量滑板中间开有放置待测样品的多个不同直径的圆孔。、所述测量滑板与所述前挡板之间设置有能计量测量距离的伸缩尺。所述支撑平台宽为100mm 1500mm,长为200mm 5000mm,高为IOOmm 2000mm,上面布置广8个支撑梁，所述支撑平台设置有滚轮。本技术的辉度测量系统具有可移动、距离可调、温度可控、试样换取方便及数据实时采集等优点，并能提高高分子材料的辉度测量准确度。附图说明图I为本技术辉度测量系统第一实施例的结 构示意图；图2为本技术辉度测量系统中前挡板平面示意图；图3为本技术辉度测量系统中后挡板平面示意图；图4为本技术辉度测量系统第二实施例的结构示意图。具体实施方式为便于对本技术的结构及达到的效果有进一步的了解，现结合附图并举较佳实施例详细说明如下。如图I所示，本技术辉度测量系统包括有支撑平台I与设于支撑平台上的测量主体2，该测量主体2内设有待测样品，测量主体2 —端设有安装于支撑平台I上的辉度计3，用以测量待测样品的辉度，测量主体2另一端设有安装于支撑平台I上的标准光源4，用于对待测样品进行照射。测量主体2外部设置温控装置(图中未示出)，使待测样品处于相同的温度条件下进行测量，其中辉度计3通过RS232接口与计算机进行连接，进行双向通信，数据传输，该标准光源4亮度在50(Tl500LUX (勒克斯)。本技术中的测量主体2有两种形式，一种是伸缩式，由2飞个内径不同的套筒依次套合组成，可灵活的进行不同距离辉度的测量；本技术的实施例中，该伸缩式的测量主体2由两个套筒组成，为内筒20与外筒21，该内筒20套合在外筒21内，该内筒20靠近辉度计3的一端设有前挡板5，前挡板5设有取光孔50 (如图2所示)，辉度计3在此进行测量；外筒21靠近标准光源4的一端设有后挡板6，测量主体2后部设置滑槽，该后挡板6与测量主体2插入式连接，如图3所示，该后挡板6设有后盖板滑槽60，该后盖板滑槽60中插入有测量板61，该测量板61为透明板，内设置有内径为1(Γ100_大小不同的圆环62，这些圆环62依次嵌合并能拆卸，圆环内孔为测量孔，用以安放待测样品，根据待测样品大小选择不同的圆环。测量主体2前后挡板之间设置有伸缩尺7，准确的计量测量距离。本技术中的支撑平台上设置有滑板10和固定螺栓11，当进行调节测量距离时，将固定螺栓11松开，滑动滑板10至需要位置，外筒21在滑板10带动下相对内筒20前后运动，调节前挡板5与后挡板6之间的距离，然后将固定螺栓11固定，根据伸缩尺7计算前、后挡板之间的测量距离。如图4所示，本技术中的测量主体2也可为滑板式结构，其为中空的矩形体，测量主体2顶端横向方向开设有两条上下平行的滑槽22，测量主体2内部设有纵向的测量滑板23，测量滑板23顶端两侧突出部分嵌合在下部滑槽中，使测量滑板23能够沿下部滑槽在测量主体2内前后运行，测量主体2上方盖有上盖板24，上部的滑槽作为该上盖板24运行的轨道。测量主体2靠近辉度计3的一端设有前挡板5，该前挡板5上设有取光孔50，测量滑板23由两层板组成，测量滑板23中间开有放置待测样品的多个不同直径的圆孔，该圆孔为测量孔；测量滑板23与前挡板5之间设置伸缩尺，滑动测量滑板23以调节待测样品与前挡板5之间的测量距离，并用伸缩尺计量该测量距离。按照图I所示，辉度测量系统制作完成后，将待测样品裁切至比测量孔略大，放入后挡板6内的测量孔中，将调整好的测量板61插入后盖板滑槽60中。将辉度计3安放到支撑平台I上，设置所需的辉度计参数；调整伸缩尺7，使之能灵活进行测量；打开固定螺栓11，滑动滑板10，调整测量板61与前挡板5的距离至设定距离；在后挡板6处安放标准光源4，为待测样品提供光照；设置测量主体2上的温控装置，调节温度至设定温度；通过R232接口连接辉度计3与计算机，设置参数以进行数据采集和通信。该辉度测量系统放置于暗室中，待测样品放置3(Γ60分钟后，原有的辉度释放，打开标准光源，对样品进行照射，照射15^30分钟后，关闭标准光源，利用计算机控制辉度计进行测量，首先标准光源关闭IOs后开始测量，然后每隔10分钟测量一次，I个小时后，每隔I小时测量一次；也可以设置每隔固定时间进行测量，数据存储在计算机中，在该位置持续测量15小时。测量完毕，通过调节滑板调节测量板与前挡板之间的距离，将待测样品调节至另一个距离处，以测定该位置的辉度变化情况；也可以在相同的位置，进行不同照射时间的辉度测量；或进行不同外部温度条件下的辉度测量。参照图I与图4所示，辉度测量系统制作完成后，将待测样品裁切至比测量孔略大，放入测量滑板23内，将调整好的测量滑板23插入测量主体的下部滑槽中。将辉度计3安放到支撑平台I上，设置所需的辉度计参数；调整伸缩尺，使之能灵活进行测量；滑动测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙加亮，周玉生，包昀鑫，董满祥，
申请(专利权)人：亿利资源集团有限公司，
类型：实用新型
国别省市：