一种探测氘粒子束流分布的方法技术

提供一种探测氘粒子束流分布的方法，该方法特点在于（1）将CR-39固体核径迹探测器安装在加速器中子源的氘靶或氚靶的后表面；（2）用显微镜对加速器中子源辐照后的CR-39固体核径迹探测器表面的径迹数进行记录；（3）通过氘靶或氚靶表面处的氘粒子数N与CR-39固体核径迹探测器表面的径迹数X之间满足的映射关系，由径迹数X反演氘粒子束流的分布。该方法可实现氘粒子束流分布测量，有效避免杂质粒子干扰；可测量毫安培至安培量级范围之内的强流氘粒子束流分布，有效克服了强流粒子束与CR-39固体核径迹探测器直接作用过程中能量沉积产生的热效应。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于加速器物理和中子物理领域，具体涉及一种利用CR-39固体核径迹探测器探测氘粒子束流分布的方法。
技术介绍
CR-39固体核径迹探测器是一种积分型探测器，当带电粒子进入固体核径迹材料时，在沿其射程轨迹周围造成辐射损伤，形成潜径迹，损伤半径一般只有纳米级。当这种潜径迹经一定条件的化学蚀刻处理，利用受损伤区域比未受损伤区域容易被腐蚀的原理，使得探测器材料中的潜径迹放大，从而达到普通光光显微镜可观测的微米级程度，以便记录粒子数和分布。CR-39固体核径迹探测器是至今已发现的灵敏度最高的一种固体核径迹探测器这一，它能记录质子和比质子重的离子，并能通过径迹参数如径迹直径等分辨离子种类、能量和空间分布。由于中子不带电，不能直接在CR-39固体核径迹探测器中形成径迹， 但中子与CR-39固体核径迹探测器相互作用能产生反冲核，反冲核可在CR-39固体核径迹探测器中形成径迹，因此，可以通过反冲核的径迹来探测中子。公开报道CR-39固体核径迹探测器探测粒子束流分布的主要特点是探测大型加速器的束流分布且束流强度较小(微安量级或低于微安量级)，未见利用CR-39固体核径迹探测器探测强流氘粒子束流分布的相关报道，主要原因是在强束流作用下能量沉积产生的热效应使得CR-39固体核径迹探测器的性能改变。
技术实现思路
本专利技术目的是解决现有技术只能利CR-39固体核径迹探测器探测微安量级或低于微安量级束流分布的不足，提供一种利用CR-39固体核径迹探测器探测加速器中子源中氘粒子分布的方法。本专利技术实现上述目的所述用的技术方案如下，该方法如下，(1)将CR-39固体核径迹探测器安装在加速器中子源的氘靶或氚靶的后表面；(2)用显微镜对加速器中子源辐照后的CR-39固体核径迹探测器表面的径迹数进行记录;(3)通过氘靶或氚靶表面处的氘粒子数N与CR-39固体核径迹探测器表面的径迹数X 之间满足的映射关系，由径迹数X反演氘粒子束流的分布，所述映射关系为权利要求1.，其特征在于(1)将CR-39固体核径迹探测器安装在加速器中子源的氘靶或氚靶的后表面；(2)用显微镜对加速器中子源辐照后的CR-39固体核径迹探测器表面的径迹数进行记录;(3)通过氘靶或氚靶表面处的氘粒子数N与CR-39固体核径迹探测器表面的径迹数X 之间满足的映射关系，由径迹数X反演氘粒子束流的分布，所述映射关系为ΑπN=-X其中，ΔΩ为径迹所在CR-39固体核径迹探测器的表面对产生此径迹的中子源所张的立体角4为氣-氣或氣-氣核反应截面·τ力质子弹性散射截面。全文摘要提供，该方法特点在于(1)将CR-39固体核径迹探测器安装在加速器中子源的氘靶或氚靶的后表面；(2)用显微镜对加速器中子源辐照后的CR-39固体核径迹探测器表面的径迹数进行记录；(3)通过氘靶或氚靶表面处的氘粒子数N与CR-39固体核径迹探测器表面的径迹数X之间满足的映射关系，由径迹数X反演氘粒子束流的分布。该方法可实现氘粒子束流分布测量，有效避免杂质粒子干扰；可测量毫安培至安培量级范围之内的强流氘粒子束流分布，有效克服了强流粒子束与CR-39固体核径迹探测器直接作用过程中能量沉积产生的热效应。文档编号G01T3/00GK102608650SQ20121003241公开日2012年7月25日 申请日期2012年2月14日 优先权日2012年2月14日专利技术者张国亮, 王博宇, 谈效华 申请人:中国工程物理研究院电子工程研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王博宇，张国亮，谈效华，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院电子工程研究所，
类型：发明
国别省市：