一种测量固体壁面波动液膜层平均厚度的方法技术

一种测量固体壁面上波动液膜层平均厚度的方法：a)采用放大摄影系统对液滴产生、开始撞击固体壁面、壁面上液膜厚度增加直到液膜厚度达到动态稳定的整个过程进行可视化拍摄；b)定位液膜厚度在原始图片高度方向上的像素范围，对选定范围内的各像素点逐一读取，得到灰度级矩阵；计算灰度级矩阵中各列上不同行间的灰度级梯度，得到各列中灰度级骤然增加的像素点，该些像素点组成的曲线是液膜表面所对应的位置；c)采用统计方法得到液膜表面以下区域的像素点总个数a1；d)计算固体壁面Y方向的像素点个数Nh；e)液膜层平均厚度为a1与Nh的比值。本发明专利技术可广泛用于各种液滴碰撞固体壁面过程的可视化观测和壁面液膜层平均厚度的定量测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种可用于测量固体壁面波动液膜层平均厚度的方法。
技术介绍
在低表面温度喷雾冷却等液滴碰撞固体壁面过程中，冲击液滴会在固体表面形成一层薄液膜，液滴主要是与薄液膜层间发生相互作用。液膜层的厚度直接影响其与壁面间的换热效果以及液膜层内产生汽泡的行为特性。由于液滴撞击薄液膜层的过程随机性非常大，涉及到多相流、液滴碰撞、相变等多个复杂环节，因此在液膜形成过程中波动非常剧烈， 要对波动液膜层的厚度进行定量测量是一项难度巨大的工作。迫切需要围绕液滴碰撞热固体壁面薄液膜层等进行系统深入研究，探索和发展微尺度下流动与传热过程新的实验技术与研究方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测量固体壁面上波动液膜层平均厚度的方法。为实现上述目的，本专利技术提供的测量固体壁面上波动液膜层平均厚度的方法，步骤如下a)采用放大摄影系统对液滴产生、开始撞击固体壁面、壁面上液膜厚度增加直到液膜厚度达到动态稳定的整个过程进行可视化拍摄；b)定位液膜厚度在原始图片高度方向上的像素范围，对选定范围内的各像素点逐一读取，得到灰度级矩阵；计算灰度级矩阵中各列上不同行间的灰度级梯度，得到各列中灰度级骤然增加的像素点，该些像素点组成的曲线是液膜表面所对应的位置；c)采用统计方法得到液膜表面以下区域的像素点总个数；d)计算固体壁面Y方向的像素点个数Nh ；e)液膜层平均厚度为B1与Nh的比值。所述的测量方法，其中，步骤b中定位液膜厚度在原始图片高度方向上的像素范围是由软件CamControl完成。所述的测量方法，其中，步骤b中对选定范围内的各像素点逐一读取，得到灰度级矩阵，是由Matlab软件完成。所述的测量方法，其中，步骤d中固体壁面Y方向的像素点个数Nh通过下式计算得到权利要求1.一种测量固体壁面上波动液膜层平均厚度的方法，其步骤如下a)采用放大摄影系统对液滴产生、开始撞击固体壁面、壁面上液膜厚度增加直到液膜厚度达到动态稳定的整个过程进行可视化拍摄；b)定位液膜厚度在原始图片高度方向上的像素范围，对选定范围内的各像素点逐一读取，得到灰度级矩阵；计算灰度级矩阵中各列上不同行间的灰度级梯度，得到各列中灰度级骤然增加的像素点，该些像素点组成的曲线是液膜表面所对应的位置；c)采用统计方法得到液膜表面以下区域的像素点总个数B1；d)计算固体壁面Y方向的像素点个数Nh；e)液膜层平均厚度为B1与Nh的比值。2.如权利要求I所述的测量方法，其中，步骤b中定位液膜厚度在原始图片高度方向上的像素范围是由软件CamControl完成。3.如权利要求I所述的测量方法，其中，步骤b中对选定范围内的各像素点逐一读取， 得到灰度级矩阵，是由Matlab软件完成。4.如权利要求I所述的测量方法，其中，步骤d中固体壁面Y方向的像素点个数Nh通过下式计算得到YjNhtM = ——5式中，Nhi为任意选取不同固体壁面高度处像素点个数。5.如权利要求I所述的测量方法，其中，步骤e中液膜层平均厚度H通过下式计算得到Η^λ[^-ΝΗ^式中λ为单位像素对应的实际长度，mm/pixel ;n为图片上行像素数。全文摘要一种测量固体壁面上波动液膜层平均厚度的方法a)采用放大摄影系统对液滴产生、开始撞击固体壁面、壁面上液膜厚度增加直到液膜厚度达到动态稳定的整个过程进行可视化拍摄；b)定位液膜厚度在原始图片高度方向上的像素范围，对选定范围内的各像素点逐一读取，得到灰度级矩阵；计算灰度级矩阵中各列上不同行间的灰度级梯度，得到各列中灰度级骤然增加的像素点，该些像素点组成的曲线是液膜表面所对应的位置；c)采用统计方法得到液膜表面以下区域的像素点总个数a1；d)计算固体壁面Y方向的像素点个数Nh；e)液膜层平均厚度为a1与Nh的比值。本专利技术可广泛用于各种液滴碰撞固体壁面过程的可视化观测和壁面液膜层平均厚度的定量测量。文档编号G01B11/06GK102607436SQ201210090079公开日2012年7月25日 申请日期2012年3月30日 优先权日2012年3月30日专利技术者侯燕, 淮秀兰, 陶毓伽 申请人:中国科学院工程热物理研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陶毓伽，侯燕，淮秀兰，
申请(专利权)人：中国科学院工程热物理研究所，
类型：发明
国别省市：