建筑表面平整度检测方法技术

本发明专利技术涉及一种建筑表面平整度检测方法，包括以下步骤：（a）选取多个待测量平面；（b）将待测量平面的两个对角作为两个第一测量点进行测量，在所述第一测量点将靠尺与待测量平面边缘呈45度角放置并将靠尺与待测量平面之间存在大于指定阈值的点时将该第一测量点记为不合格点；（c）根据不合格点的比率确认是否建筑物表面平整度是否合格。本发明专利技术通过建筑物表面建立多个测量点并根据测量点的测量数据获得建筑物的表面平整度的评测数据，从而消除了建筑物评测中的人为操作引起的误差，改善了建筑物的质量控制。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及建筑物检测领域，更具体地说，涉及一种。
技术介绍
建筑物的墙面、地面等的表面平整度不仅影响到建筑物的外观，而且对建筑物表面装饰层的稳定性也有一定影响。对于建筑物的表面(例如墙面、地面等)平整度，在国家规范中都有明确的误差指标数据。然而，在现有的相关国家规范之中，仅规定了误差指标数据，而没有明确统一的测量方法来对各项目中建筑表面平整度进行统一的要求。如果采用不同的测量方法，会对测量的结果造成比较严重的影响，从而导致产品质量是否合格的判断出现失误。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，针对上述建筑物表面平整度检测无法统一的缺陷，提供一种。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是构造一种，包括以下步骤(a)选取多个待测量平面；(b)将待测量平面的两个对角作为两个第一测量点进行测量，在所述第一测量点将靠尺与待测量平面边缘呈45度角放置并将靠尺与待测量平面之间存在大于指定阈值的点时将该第一测量点记为不合格点；(c)根据不合格点的比率确认是否建筑物表面平整度是否合格。在本专利技术所述的中，所述待测量平面位于墙体一侧，所述多个待测量平面位于不同墙体。在本专利技术所述的中，所述待测量平面所在墙体的长度大于或等于3米，所述步骤(b)中还包括将所述待测量平面中部作为第二测量点进行测量，在所述第二测量点将靠尺水平放置并将靠尺与待测量平面之间存在大于指定阈值的点时将该第二测量点记为不合格点。在本专利技术所述的中，所述待测量平面所在墙体包括门窗或过道洞口，所述步骤(b)中还包括将所述待测量平面的洞口位置作为第三测量点进行测量，在所述第三测量点将靠尺与水平面呈45度角放置并将靠尺与待测量平面之间存在大于指定阈值的点时将该第二测量点记为不合格点。在本专利技术所述的中，所述待测量平面为剪力墙、砼柱混凝土结构表面或砌体及石材墙体表面，所述指定阈值为8毫米。在本专利技术所述的中，所述待测量平面为抹灰墙体表面或饰面砖墙体表面，所述指定阈值为3-4毫米。在本专利技术所述的中，所述待测量平面为涂饰墙体表面，所述步骤(b)中还包括将所述待测量平面距离地面20厘米处作为第四测量点进行测量，在所述第四测量点将靠尺水平放置并将靠尺与待测量平面之间存在大于指定阈值的点时将该第二测量点记为不合格点，所述指定阈值为3毫米。在本专利技术所述的中，所述待测量平面位于地面且所述待测量平面的面积小于12平方米，所述步骤(b)中还包括将所述待测量平面中部作为第二测量点进行测量，在所述第二测量点将靠尺水平放置并将靠尺与待测量平面之间存在大于指定阈值的点时将该第二测量点记为不合格点。在本专利技术所述的中，所述待测量平面位于地面且所述待测量平面所在地面的面积大于或等于12平方米，所述步骤(b)中还包括将所述待测量平面的长边的三分之一和三分之二处的中部作为两个第二测量点进行测量，在所述第二测量点将靠尺水平放置并将靠尺与待测量平面之间存在大于指定阈值的点时将该第二测量点记为不合格点。在本专利技术所述的中，所述待测量平面为找平层地面表面、饰面砖地面表面、石材地面表面或室内木底板表面，所述指定阈值为2-4毫米。本专利技术的，通过建筑物表面建立多个测量点并根据测量点的测量数据获得建筑物的表面平整度的评测数据，从而消除了建筑物评测中的人为操作引起的误差，改善了建筑物的质量控制。附图说明图1是混凝土结构表面平整度检测实施例的示意图。图2是砌筑工程表面平整度检测实施例的示意图。图3是地面表面平整度检测实施例的示意图。图4是涂饰工程墙面表面平整度检测实施例的示意图。具体实施例方式本专利技术通过建筑物表面建立多个测量点并根据测量点的测量数据获得建筑物的表面平整度的评测数据，从而消除了建筑物评测中的人为操作引起的误差，改善了建筑物的质量控制。本专利技术通过以下步骤实现首先选取多个待测量平面； 然后将待测量平面的两个对角作为两个第一测量点进行测量，在第一测量点将靠尺与待测量平面边缘呈45度角放置并将靠尺与待测量平面之间存在大于指定阈值的点时将该第一测量点记为不合格点；最后根据不合格点的比率确认是否建筑物表面平整度是否合格。在测量靠尺与待测量平面之间是否存在大于指定阈值的点时，可使用楔形塞尺， 具体方法如下将靠尺侧面靠紧待测量平面，将楔行塞尺游码推到尺顶部，然后将该楔形塞尺的顶部插入靠尺侧面与待测量平面间的缝隙，插紧后推出，直读游码刻度(单位毫米)即为平整度偏差。若靠尺与待测量平面之间的存在平整度偏差大于指定阈值的缝隙，则将该测量点为不合格点。其中一面墙的平整度合格率为合格点数(总点数减去不合格点数)与测量(测量点)点数的比率；一间房的平整度合格率为该房间所有墙面合格点数与测量点数的比率；一套房的平整度合格率为该套房所以墙面合格点数与测量点数的比率；一栋楼的平整度为该栋楼所有住宅内所有墙面合格点数与测量点数的比例；依次类推为标段、项目的墙面平整度合格率的定义。上述方法可用于测量建筑物的不同表面的平整度，以下将介绍建筑物不同表面的测量方法。实施例1 混凝土结构表面平整度(用于反映层高范围内剪力墙、砼柱表面平整程度)测量方法如下1.合格标准(即指定阈值)8mm;2.测量工具2米靠尺、楔形塞尺；3.测量方法和数据记录(1)剪力墙/暗柱选取长边墙，任选长边墙两面中的一面作为1个待测量平面，累计测量20个待测量平面；(2)当所选墙长度小于3米时，同一面墙四个角(顶部及根部)中取左上及右下二个角 (也可取右上及左下两个角)作为第一测量点11。按45度角斜放靠尺，如图1所示，使用楔形塞尺分别测量上述二个第一测量点11的表面平整度，若靠尺与待测量平面之间的存在平整度偏差大于指定阈值的缝隙，则将该测量点为不合格点；(3)当所选墙长度大于3米时，选择上述第一测量点外，还需选择墙面长度中央作为第二测量点12。如图1所示，在第二测量点12将靠尺水平放置并使用楔形塞尺测量该处表面平整度。若靠尺与待测量平面之间的存在平整度偏差大于指定阈值的缝隙，则将该测量点为不合格点；4.计算不合格点占总的测量点(包括第一测量点11和第二测量点12)的比率确认建筑物表面平整度是否合格(若在国家标准值内则合格)。实施例2 砌筑工程表面平整度(用于反映层高范围内砌体墙体表面平整程度)测量方法如下1.合格标准(即指定阈值)8mm; 2测量工具2米靠尺、楔形塞尺； 3.测量方法和数据记录(1)每一面墙都可作为1个待测量平面，优先选用有门窗、过道洞口的墙面。测量部位选择正手墙面。累计实测实量10个待测量平面；(2)当所选墙长度小于3米时，同一面墙四个角(顶部及根部，不包括墙面的斜顶砖范围M及下坎范围25)中取左上及右下二个角(也可取右上及左下两个角)作为第一测量点 21。按45度角斜放靠尺，如图1所示，使用楔形塞尺分别测量上述二个第一测量点21的表面平整度，若靠尺与待测量平面之间的存在平整度偏差大于指定阈值的缝隙，则将该测量点为不合格点；(3)当所选墙长度大于3米时，选择上述第一测量点外，还需选择墙面长度中央作为第二测量点22。如图1所示，在第二测量点22将靠尺水平放置并使用楔形塞尺测量该处表面平整度。若靠尺与待测量平面之间的存在平整度偏差大于指定阈值的缝隙，则将该测量点为不合格点；(4)当所选墙面有门窗、过道洞口的，将洞口位置作为第三测量点23，并在第三测量点23将靠本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：何涛，任海军，陈端圣，朱继胜，李倬，杨满宏，石飞，
申请(专利权)人：万科企业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：