适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统，包括冷光源、第一、第二、第三入射狭缝、第一、第二汇聚透镜、滤光片转换器、光电探测器、卤素灯和第一滤光片，冷光源、第一入射狭缝、第二入射狭缝、第一汇聚透镜、第三入射狭缝、光电探测器依次同轴设置在X轴上，第一入射狭缝与第二入射狭缝之间放置装有待检测物质的检测管，第一汇聚透镜与第三入射狭缝之间设置安装有第二滤光片和第三滤光片的滤光片转换器，卤素灯、第一滤光片、第二汇聚透镜依次同轴设置在Y轴上。本发明专利技术可同时进行吸收光检测和荧光检测，在两种检测进行的过程中，检测管不用移动，通过本发明专利技术得到的检测结果准确性高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光学检测系统，具体地说，是涉及一种自动血液分析仪中所使用的、可用来进行吸收光检测、荧光检测的光学检测系统。
技术介绍
目前，干式血细胞分析仪对人体血液中的红细胞、白细胞、血小板等含量进行检测时普遍采用离心式原理，即在含有相应的显色剂及荧光物质的检测管中加入待测人体血液，对检测管离心，血液中的不同物质成分实现分层，分别在检测管中分布到相应的区域内，不同区域显示着不同的颜色，从而通过吸收光检测方式以及荧光检测方式来对相应的待检测物质进行定量检测。但是，在实际实施中发现，目前，没有可同时进行吸收光和荧光检测的设备，吸收光检测、荧光检测各自都需要单独的设备来进行，并且，已有的用于检测吸收光或者荧光的设备都是极其复杂的，另外，对于同一检测管而言，在进行完吸收光检测后，需要将其移动到进行荧光检测的设备上才能进行检测，而检测管被来回移动便会产生定位误差，影响检测结果的准确性，并且，移动需要浪费一定时间，从而吸收光检测与荧光检测不能同时进行，无法对同一时间内的各个待检测物质进行同时检测，无法为研究人员提供各个待检测物质在同一时间所表现出来的状态信息。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统，该光学检测系统可进行吸收光检测和荧光检测。为了实现上述目的，本专利技术采用了以下技术方案一种适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统，其特征在于它包括冷光源、 第一入射狭缝、第二入射狭缝、第一汇聚透镜、滤光片转换器、第三入射狭缝、光电探测器、 卤素灯、第一滤光片和第二汇聚透镜，该冷光源、该第一入射狭缝、该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器依次同轴设置在X轴上，该第一入射狭缝与该第二入射狭缝之间放置检测管，该第一汇聚透镜与该第三入射狭缝之间设置有该滤光片转换器，该卤素灯、该第一滤光片、该第二汇聚透镜依次同轴设置在Y轴上，其中该检测管中装有待检测物质，该待检测物质包括通过吸收光检测方式检测的物质和/或通过荧光检测方式检测的物质；该X轴与该检测管中通过吸收光检测方式检测的物质相对应设置，该Y轴与该检测管中通过荧光检测方式检测的物质相对应设置，该商素灯、该第一滤光片、该第二汇聚透镜所处于的Y轴部分与该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器所处于的X轴部分之间形成一个锐角或直角，在该第二汇聚透镜、该第一滤光片和该卤素灯之中，该第二汇聚透镜距离该检测管最近；该滤光片转换器上安装有第二滤光片和第三滤光片，其中当进行吸收光检测时，该滤光片转换器使得该第二滤光片处于该X轴上而与该冷光源、该第一入射狭缝、该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器同轴设置；当进行荧光检测时， 该滤光片转换器使得该第三滤光片处于该X轴上而与该冷光源、该第一入射狭缝、该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器同轴设置；该冷光源发出的单色光的波长与该检测管中通过吸收光检测方式检测的物质所能吸收、透射的光的波长相应，该第二滤光片的中心波长与该冷光源发出的单色光的波长相应，该第一滤光片的中心波长与该检测管中通过荧光检测方式检测的物质所需的激发光的波长相应，该第三滤光片的中心波长与该检测管中通过荧光检测方式检测的物质对应激发出的荧光的波长相应。本专利技术具有如下优点与需要多套复杂光学系统才能进行吸收光和荧光检测相比，本专利技术的简单光路组成便可实现吸收光和荧光的检测，吸收光检测与荧光检测可前后连续进行，相隔时间极短， 可视为吸收光检测与荧光检测同时进行，故可得到反映检测管中通过吸收光检测方式检测的物质以及通过荧光检测方式检测的物质在同一时间内的状态，另外，在先后进行吸收光检测和荧光检测时，检测管不用移动位置，这样便避免了因检测管频繁更换检测位置造成的定位不准所带来的检测误差，使得检测结果准确性大大提高。附图说明图1是本专利技术的组成示意图。具体实施方式如图1所示，本专利技术适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统包括冷光源 101、第一入射狭缝102、第二入射狭缝103、第一汇聚透镜104、滤光片转换器105、第三入射狭缝106、光电探测器107、卤素灯108、第一滤光片109和第二汇聚透镜110，该冷光源101、 该第一入射狭缝102、该第二入射狭缝103、该第一汇聚透镜104、该第三入射狭缝106、该光电探测器107依次同轴设置在X轴201上，该第一入射狭缝102与该第二入射狭缝103之间放置检测管300，该第一汇聚透镜104与该第三入射狭缝106之间设置有该滤光片转换器 105，该卤素灯108、该第一滤光片109、该第二汇聚透镜110依次同轴设置在Y轴202上，其中该检测管300中装有待检测物质，该待检测物质包括通过吸收光检测方式检测的物质和/或通过荧光检测方式检测的物质；该X轴201与该检测管300中通过吸收光检测方式检测的物质相对应设置，换句话说，此处所谓的“相对应设置”应能实现从冷光源101发出的单色光经由第一入射狭缝 102后可照射在该通过吸收光检测方式检测的物质上；该Y轴202与该检测管300中通过荧光检测方式检测的物质相对应设置，换句话说，此处所谓的“相对应设置”应能实现从卤素灯108(复色光源)发出的复色光经由第一滤光片109、第二汇聚透镜110后发出的相应单色光可照射在该通过荧光检测方式检测的物质上；在实际应用中，可令X轴201贯穿检测管300的中心；该卤素灯108、该第一滤光片109、该第二汇聚透镜110所处于的Y轴部分与该第二入射狭缝103、该第一汇聚透镜104、该第三入射狭缝106、该光电探测器107所处于的X轴部分之间形成一个锐角或直角Φ (需要说明的是，形成一个钝角是不行的，因为那样的话，用于激发出荧光的光可能会直接照射到第二入射狭缝103上，从而需要另外设置更复杂的滤光等处理元件，不利检测)；在该第二汇聚透镜110、该第一滤光片109和该卤素灯 108之中，该第二汇聚透镜110距离该检测管300最近；该滤光片转换器105上安装有第二滤光片和第三滤光片，其中当进行吸收光检测时，该滤光片转换器105使得该第二滤光片处于该X轴201上而与该冷光源101、该第一入射狭缝102、该第二入射狭缝103、该第一汇聚透镜104、该第三入射狭缝106、该光电探测器107同轴设置；当进行荧光检测时，该滤光片转换器105使得该第三滤光片处于该X轴 201上而与该冷光源101、该第一入射狭缝102、该第二入射狭缝103、该第一汇聚透镜104、 该第三入射狭缝106、该光电探测器107同轴设置；该冷光源101发出的单色光的波长与该检测管300中通过吸收光检测方式检测的物质所能吸收、透射的光的波长相应，即该检测管300中通过吸收光检测方式检测的物质可以对该冷光源101发出的单色光产生吸收作用并可使得该单色光中未被吸收的部分透射过，该第二滤光片的中心波长与该冷光源101发出的单色光的波长相应，一般设置为该第二滤光片的中心波长与该冷光源101发出的单色光的波长相等即可，该第一滤光片109 的中心波长与该检测管300中通过荧光检测方式检测的物质所需的激发光的波长相应，一般设置为该第一滤光片109的中心波长与该检测管300中通过荧光检测方式检测的物质所需的激本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：范宏艳，
申请(专利权)人：北京国科华仪科技有限公司，
类型：发明
国别省市：