用于执行TD-SCDMA测量的TDD-LTE测量间隙制造技术

本公开内容的某些方面提出了增强用于TD-SCDMA测量的测量间隙的技术。某些方面提供了一种方法，该方法大体上包括：接收来自应用第一无线接入技术(RAT)的基站(BS)的消息，该消息指示测量间隙，在测量间隙中用户设备(UE)在第二RAT中进行测量，该消息包括对测量间隙的起始位置和测量间隙的持续时间的指示；以及在测量间隙期间进行测量。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：金汤，石光明，李国钧，
申请(专利权)人：高通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：