一种宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具及校准方法技术

本发明专利技术涉及了一种宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具及校准方法，该测试夹具有一个夹具底座，所述夹具底座上设置一个载片单元，该载片单元一侧设置左连接单元，该载片单元另一侧设置右连接单元；所述载片单元的端头处设置一个竖直导轨支架，所述竖直导轨支架顶部设置双稳态操纵机构，所述竖直导轨支架与一个压紧单元连接，所述夹具底座下部设置散热器，所述的测试夹具还包括微带电路板，所述微带电路板中部设置宽型微带线。本发明专利技术的测试夹具操作方便，通用性强；测量精确；本发明专利技术采用压接的方式固定被测微波元件，不需要另外的固定或者焊接，并且保证了被测微波元件固定良好，一方面是对被测微波元件的无损伤测量，另一方面适用于大批量产品的测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种微波元件测量装置，尤其涉及一种大功率功放管件的无损伤测量的宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具及校准方法。
技术介绍
功放管也就是功率放大器，很多情况下主机的额定输出功率不能胜任带动整个音响系统的任务，这时就要在主机和播放设备之间加装功率放大器来补充所需的功率缺口， 而功率放大器在整个音响系统中起到了 “组织、协调”的枢纽作用，在某种程度上主宰着整个系统能否提供良好的音质输出。因此，对功放管的性能测试非常重要。如何准确的测试功放管的各种参数对于功放管的应用有着重要的意义。传统的测量方法是嵌入式测量法， 该方法是制作一个完全对称的夹具，夹具采用同轴连接器和微带电路焊接的方式转成平面结构，待测微波元件一般通过焊接或者压紧在电路板上，一般是先对夹具本身进行测试，然后把测得的参数采用数学方法分成两份，作为附加在待测微波元件两端的参数，然后把夹具和待测微波元件连接进行测试，所得的数据使用数学方法扣除附加在待测微波元件两端的参数即可得到待测元件的参数；采用该方法的缺点主要有以下几个方面(1)结构上采用焊接的方式，很难控制，使用焊锡焊接，在微波领域尤其是频率很高的时候，焊点会形成比较大的微波能量反射。焊点的形状，光洁度，大小等都会对微波能量的反射造成影响。这些显然不论是人工焊接还是其他手段都是不可控的因素，因此会对测量结果的不确定度起到无法避免的影响。另外待测件如果采用焊接的方式和电路板连接则会使得待测件成为拆装件而无法再使用，且不适合大批量产品测试；(2)在测量方式上，采用数学方式把夹具参数扣除，过程复杂且会造成多处误差叠加，很难保证测量精度。因为要先测量夹具的参数， 因此已经多引入了一次测量误差；因为要把夹具的参数分成两半，所以要把夹具做成完全对称。但是无论多高精度的加工都会有公差存在，因此夹具不可能真的对称，由此带来的误差经过数学计算还会被放大。经过多处误差的重叠，测试精度会受很大影响。中国专利2011201362340公开了一种用于通用功放管评估平台的测试工装，该测试工装主要由散热器、均设置在散热器上端的基板和测试基板、设置在测试基板上的测试头、以及固定在基板上的压块构成，所述测试基板设置在基板两端，所述测试头设置在远离基板的一端，所述测试基板与测试头之间设置有可调节支撑架，该测试工装使用时需要调节螺钉已使其符合不同功放管的要求，使用时较为复杂，测试结果人为因素影响较大，因此需要提供一种新的功放管测试夹具。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种操作方便、测量精度高、可以对功放管进行无损伤测量的宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具及校准方法。该测试夹具采用双稳态操纵机构控制压紧单元，实现对微波元件的快速、精确测量，使用时可以提高工作效率，同时对微波元件无损伤。本专利技术的目的是由下述技术方案实现的一种宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具，有一个夹具底座，所述夹具底座上设置一个载片单元，该载片单元一侧设置左连接单元，该载片单元另一侧设置右连接单元；所述载片单元上方设置压紧单元，所述载片单元的端头处设置一个竖直导轨支架，所述竖直导轨支架顶部设置双稳态操纵机构，所述夹具底座下部设置散热器；所述竖直导轨支架中有一个矩形框架，该矩形框架中央设置一个竖直导柱，所述竖直导柱上滑动安装一个升降滑套；所述升降滑套与所述载片单元相连，所述竖直导轨支架顶部设置水平悬臂托架，该水平悬臂托架上安装一个圆盘型旋转块，所述旋转块上设置一个曲柄轴孔，该曲柄轴孔与所述旋转块上的旋转轴孔位于同一条弦线上，所述旋转块上设置一个操作手柄、两个曲柄，所述曲柄的上端通过铰轴与所述曲柄轴孔铰接；由所述的旋转块、曲柄、曲柄轴孔、操作手柄构成双稳态操纵机构；所述左连接单元中部设置微带电路板安装槽，该安装槽的端头部设置一个连接板，该连接板上安装一个同轴连接器，所述的同轴连接器一端延伸出所述连接板的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述连接板的内表面；所述微带电路板安装槽内设置微带电路板，所述微带电路板中部设置宽型微带线，所述宽型微带线的一端与所述的同轴连接器的芯头电连接；所述右连接单元中部设置微带电路板安装槽，该安装槽的端头部设置一个连接板，该连接板上安装一个同轴连接器，所述的同轴连接器一端延伸出所述连接板的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述连接板的内表面；所述微带电路板安装槽内设置微带电路板，所述微带电路板中部设置宽型微带线，所述宽型微带线的一端与所述的同轴连接器的芯头电连接；所述载片单元中部设置一个凹槽，该凹槽两侧对称设置微波元件安置槽；所述的压紧单元中有一个升降台板，该升降台板与所述竖直导轨支架中的升降滑套连接；所述升降台板底面上设置多个均衡压板，所述升降台板顶面上有一个铰座，该铰座通过铰轴与所述的双稳态操纵机构中的曲柄铰接。本专利技术的另一目的是通过以下技术方案实现的一种宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具的校准方法，校准方法所采用的测量系统包括网络分析仪、电源，所述的测量系统还包括标准件以及两个供电电路，所述的标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，供电电路的另一端与网络分析仪连接，电源与供电电路连接；所述的标准件包括反射标准件、延时标准件和直通标准件，所述的反射标准件、延时标准件和直通标准件为盒装式标准件，所述的反射标准件、延时标准件和直通标准件的两端设置有同轴连接器，所述的校准方法包括下列步骤(1)将反射标准件连入测量系统，所述的反射标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，使用网络分析仪进行反射校准，保存网络分析仪的反射校准状态，反射校准完成，取出反射标准件；(3)将直通标准件连入测量系统，所述的直通标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，，使用网络分析仪进行直通校准，保存网络分析仪的直通校准状态，直通校准完成，取出直通标准件；(4)将延时标准件连入测量系统，所述的延时标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，使用网络分析仪进行延时校准，保存网络分析仪的延时校准状态，延时校准完成，取出延时标准件。本专利技术的有益效果是1本专利技术的测试夹具操作方便，使用时只需将被测微波元件放入测试夹具，将测试夹具连入测量系统中即可；2本专利技术的测试夹具的载片单元可以根据被测微波元件的尺寸等设计多个载片单元， 根据被测微波元件的要求更换载片单元即可，通用性强；3本专利技术的测试夹具采用双稳态操纵机构，双稳态操纵机构操作简单，能够准确、稳定的控制压紧单元的上下运动，实现对微波元件的快速测量，使用时可以提高工作效率；4本专利技术的测试夹具自带标准件，标准件设计为盒装式标准件，校准时只需将标准件连入测量系统即可，可以通过微波测试仪表自身的TRL校准模式进行校准，保证了足够的精度；5本专利技术的测量夹具对同轴接头与微带电路的连接处进行了分布电容电感的补偿，使得连接处对微波能量的反射最小，保证了测量的精度；6本专利技术的测试夹具采用压接的方式固定被测微波元件，不需要另外的固定或者焊接，并且保证了被测微波元件固定良好，一方面是对被测微波元件的无损伤测量，另一方面适用于大批量产品的测量；并且在双稳态操纵机构的控制下，压紧单元可以压紧被测微波元件，防止被测微波元件移动，这样使得测量结果更加精确。附图说明图1为本专利技术的整体结构示意图2为本专利技术的载片单元、左连接单元和右连接单本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘强，何川，
申请(专利权)人：北京中微普业科技有限公司，
类型：发明
国别省市：