雷达综合辐射功率检测方法技术

本发明专利技术公开了一种雷达综合辐射功率检测方法，包括以下步骤：按照技术要求对微波小功率计（10）和可调衰减器（11）联接加电并校零；雷达开机，向测试辅助天线（7）辐射发射信号，所述被测雷达天线（8）辐射最大方向对准测试辅助天线，两个天线的极化方向一致；根据被测雷达辐射功率的大小，调节微波小功率计的衰减器值，利用微波小功率计测试被测雷达综合辐射功率；改变雷达不同的发射频段，使用上述方法分别测量雷达不同频段的综合辐射功率。本发明专利技术采用不解体、非接触式测量雷达空间辐射功率，能够真实反映雷达向空中辐射功率的能力，能更好的反映整个发射、辐射通道上的整机性能，适合外场及野战条件下对雷达发射功率检测和评估。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及雷达整机性能检测领域，尤其涉及。
技术介绍
发射机1输出的功率大小，将直接影响雷达的威力和抗干扰能力的发挥，是雷达整机的一项重要参数。特别是在雷达经过长期使用，元、部件的某些电气参数的改变，均会造成发射机输出功率的下降，进而使得雷达发现及自动跟踪目标的距离下降，故应定期对雷达发射机输出功率进行测量。通常将发射系统送至天线输入端信号的功率定义为发射系统的输出功率，有时为了测量方便，也可以规定在指定负载上的功率为发射系统的输出功率，传统方法测的则是这种功率，它评价的是雷达天线之前的发射功率。ρC = Iilg^iPqi 〖伊皿/^传统的雷达发射功率的测试利用发射机输出端波导口的功率，且为平均功率。用定向耦合器2与小功率计组合测量微波大功率的原理图如下所示。发射机输出的微波能量，绝大部分经定向耦合器2的主通道送至匹配终端吸收负载 4并被吸收，极小部分经耦合支路输出送到小功率计进行功率测量。则有如下式所示设定向耦合器的过度衰减量(耦合度)为C (dB)，终端为匹配负载，发射机平均功率为 Pcp，小功率计测量值为Pc，根据耦合度定义测试中，用功率计卡6实现小功率测量，对应被测雷达发射机频段和结构，相应选用或开发专用定向耦合器2及终端吸收负载4。采用通用雷达装备便携智能检测诊断系统6进行功率测试，从仪器的连接、雷达的操作步骤到测量结果的计算，对整个测试过程，系统提供测试引导，可直接显示测量结果。用定向耦合器功率变换法测量发射机功率的测量精度主要决定于定向耦合器过度衰减量的定标精度。具体的测试方法如下(1)在上天线座和支路波导位置进行测试，拆下和支路波导。(2)在上馈线和支路波导处接入定向耦合器和吸收负载。(3)雷达、检测仪机箱、功率探头均可靠接地。(4)雷达、测试仪接电。(5)功率计较准。打开功率计虚拟面板，功率计探头接至ImW输出端，点击“校准” 按钮，观察虚拟面板“测量结果显示”是否为lmW，如果不等于lmW，调功率计卡侧面校准电位器，使其等于lmW，然后，卸下探头，准备测试。(6)发射机升高压至磁控管电流额定值，待稳定后将功率计探头3接到定向耦合器输出端。(7)点击“功率测量”按钮，进行功率测试。(8)卸下功率计探头，降发射机高压。传统方法存在的主要问题需要拆解雷达天馈系统，测试误差大，测试步骤繁琐， 且只能测量雷达天线之前部分的发射功率。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种新的雷达发射功率测试方法，能够准备的评估雷达整机性能，提供了一种雷达综合辐射功率的检测方法。为实现上述技术问题，本专利技术提供了一种，其特征在于该方法包括以下步骤步骤一按照技术要求对微波小功率计(10)和可调衰减器(11)联接加电并校零； 步骤二 雷达开机，向测试辅助天线(7)辐射发射信号，所述被测雷达天线(8)辐射最大方向对准测试辅助天线(7)，两个天线的极化方向一致；步骤三根据被测雷达辐射功率的大小，调节微波小功率计(10)的衰减器值，利用微波小功率计(10)测试被测雷达综合辐射功率；步骤四改变雷达不同的发射频段，使用上述方法分别测量雷达不同频段的综合辐射功率。所述可调衰减器(11)可在10dB_30dB精密可调。所述测试辅助天线(7)和被测雷达的测试距离D为35 45米，测试辅助天线的架设高度H为5米以上。所述微波小功率计(10)能够实现测试辅助天线接收到的微瓦到毫瓦级的微波功率测量，且具有较高的测试精度。本专利技术提出了一种新的雷达发射功率测试方法，能够准备的评估雷达整机性能， 提供了一种雷达综合辐射功率的检测方法。本专利技术是在雷达一定的频率、功率发射条件下， 距离辐射天线电轴延长线上某一空间处测量得到平均功率，它由雷达发射机发射总功率、 雷达天馈线损耗功率、雷达电磁波空间衰减功率、测试仪器衰减功率的综合因素决定，能够反映因为天线变形、传输损耗等对雷达战术性能带来的影响。本专利技术利用空间电磁波辐射，采用不解体、非接触式测量雷达综合辐射功率，能够真实反映雷达向空中辐射功率的能力，能更好的反映整个发射、辐射通道上的整机性能，适合外场及野战条件下对雷达发射功率检测和评估。附图说明图1传统雷达发射机输出功率测试原理图。图2原理图。图中1、发射机，2、定向耦合器，3、功率探头，4、终端吸收负载，5、智能检测系统， 6、功率计卡，7、测试辅助天线，8、雷达天线，9、雷达车，10、微波小功率计，11、可调衰减器， 12、雷达接收机。具体实施例方式步骤一试验准备，按照技术要求对功率测试设备(即微波小功率计10)和功率调节设备(即可调衰减器11)联接加电并校零。CN 102540155 A(1)架设被测雷达。被测雷达应架设在地势平坦，被测雷达应架设在地势平坦，比较开阔的场地上，周边不应有大的障碍物和反射体。(2)连接测试设备。在距离雷达测试距离D为40米，升降天线塔，架设检测设备。 测试设备包括测试辅助天线7，精密可调衰减器11、微波小功率计10，并通过微波低耗电缆将它们连接起来，并对微波小功率计校零。衰减器应该精密连续可调，且具有较大的动态范围，以适应对不同种类雷达综合辐射功率测试的需要。测试辅助天线7离地面架设高度H为5米以上，最大限度减小地面反射的影响。步骤二 雷达开机，向测试设备喇叭天线辐射发射信号，所述被测雷达天线8辐射最大方向对准测试设备喇叭天线，两个天线的极化方向一致。(1)雷达天线8对准。被测雷达的天线辐射最大方向必须对准测试设备喇叭天线， 天线的极化方向必须和雷达一致。首先通过雷达天线上的瞄准镜，使雷达天线和测试辅助天线对准，保证被测雷达天线辐射最大方向对准测试喇叭天线。(2)调节雷达测试喇叭天线的极化方式，使两天线的极化方向一致。步骤三根据被测雷达辐射功率的大小，调节测试设备的衰减器值，利用微波小功率计测试被测雷达综合辐射功率。根据被测雷达的发射功率，调节精密衰减器衰减值，利用微波小功率计测试接收到的微波功率。步骤四改变雷达不同的发射频段，使用上述方法分别测量雷达不同频段的综合辐射功率。根据不同雷达发射波段的不同，测试完一波段综合辐射功率后，调节雷达发射频段，利用微波小功率计进行测试，直到所有频段都测试完毕。本专利技术利用电磁波空间辐射，采用微波精密可调衰减器和微波小功率计测试雷达综合辐射功率。由于精密可调衰减器测试动态范围大，微波小功率计具有较高的测试精度， 能够直接检测出雷达整机向空间辐射电磁波的能力，适用于天线形状呈抛物面，波束为针状的火控雷达、气象雷达、机场跟踪制导雷达的综合辐射功率的测试。试验过程调试简单、 方便，易于操作。本专利技术提出了一种新的雷达整机评估方法，是对雷达发射全通道辐射功率的测量，不解体、非接触、全通道式测量雷达空间辐射功率，能够真实反映雷达向空中辐射功率的能力，能更好的反映整个发射、辐射通道上的整机性能，适合外场及野战条件下对雷达发射功率检测和评估。虽然本专利技术以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本专利技术，在不背离本专利技术精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本专利技术作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本专利技术所附的权利要求的保护范围。权利要求1.一种，其特征在于该方法包括以下步骤 步骤一按照技术要求对微波小功率计(10)和可调衰减器(11)联接加电并校零本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：辛军，石晓原，刘静，樊中华，薛兰柱，刘军，孙兆军，于林青，胡向顺，查连中，
申请(专利权)人：中国人民解放军济南军区七二四六五部队，
类型：发明
国别省市：