一种电子元件测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种电子元件测试装置，其特征在于包括：绝缘基板、第一主配线、第二主配线、多个分支配线和电压测试单元，第一主配线、第二主配线和多个分支配线均设置于绝缘基板上，第一主配线上和第二主配线上均设置有多个连接通孔；各分支配线一端连接第一主配线，各分支配线的另一端均设置有一个连接通孔，各分支配线的长度方向上分别间隔设有两个测试用端部；电压测试单元的两端分别连接同一分支配线上的两个测试用端部。由于电压测试单元并联在待测电路的两端从而计算得出待测电路的电流大小，无需将电流表串联进电路即可测得电流的大小，因此提高了电路测试效率。本实用新型专利技术结构简单，使用方便，可以广泛应用于电子器件的测试中。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电路测试领域，特别是一种电子元件测试装置。
技术介绍
如图1所示，现有的电子元件测试装置包括一绝缘基板100，在绝缘基板100上设置有多个配线101，例如第一配线101a、第二配线101b，其中，第一配线IOla上分别设置有多个连接通孔，例如⑶’、Cl’、C2’、C3’等，第二配线IOlb上分别设置有多个连接通孔，例如D0’、D1’、D2’、D3’等，这些连接通孔用以提供多个电子元件的端子分别穿设，例如，连接通孔CO’、DO’之间连接一电源供应单元102，连接通孔Cl’、D1’之间连接一第一电子元件 103，连接通孔C2’、D2’之间连接一第二电子元件104，当电源供应单元102被开启后，电路板则处于导电状态下。为保证测试装置上各电子元件正常工作，在生产及维修时，共组人员需对各电子元件进行电流检测。常用的检测方法可参看图2，在第一电子元件103的一端串联接入一电流表105，电流表105中显示的数值则为流过第一电子元件103的电流大小，工作人员凭借该电流大小则可以判断第一电子元件103是否正常工作。但是上述测试方法存在一定的缺陷，工作人员每进行一次测试之前必须进行导线连接的工作，操作起来较为麻烦。
技术实现思路
在
技术实现思路
部分中引入了一系列简化形式的概念，这将在具体实施方式部分中进一步详细说明。本技术的
技术实现思路
部分并不意味着要试图限定出所要求保护的技术方案的关键特征和必要技术特征，更不意味着试图确定所要求保护的技术方案的保护范围。为了提高电路检测的效率，本技术提供了一种电子元件测试装置，其特征在于包括绝缘基板；第一主配线和第二主配线，均设置在所述绝缘基板上，所述第一主配线和第二主配线上均设置有多个连接通孔；多个分支配线，所述分支配线设置在所述绝缘基板上，所述分支配线的一端连接所述第一主配线，各分支配线的另外一端均设置有一个连接通孔，各分支配线的长度方向上分别间隔设有两个测试用端部；电压测试单元，所述电压测试单元的两端分别连接同一所述分支配线上的所述两个测试用端部。所述第一主配线和第二主配线的连接通孔之间连接电源供应单元。所述测试用端部外露于所述绝缘基板的表面。所述第一主配线、第二主配线和分支配线均采用铜金属线。所述电压测试单元为放大器和电压表耦合后形成，且所述放大器的放大倍数为3100 倍。本技术在待测电路的两端连接电压测试单元，从而通过计算得出流过该待测电路的电流大小，由于电压测试单元是并联在待测电路的两端，只需将电压测试单元与待测电路两端的外露于待测电路的测试用端部连接即可，再计算得出流过待测电路的电流大小，而无需将电流表串联进入电路，因此提高了电路测试效率。本技术结构简单，使用方便，可以广泛应用于电子器件的测试中。附图说明本技术的下列附图在此作为本技术的一部分用于理解本技术。附图中示出了本技术的实施例及其描述，用来解释本技术的原理。在附图中，图1是现有的电子元件测试装置的结构示意图；图2是对图1所示的第一电子元件进行电流检测的结构示意图；图3是根据本技术的电子元件测试装置的结构示意图；图4是根据本技术的绝缘基板上的配线的剖视示意图；图5是根据本技术的电压测试单元的结构示意图。具体实施方式在下文的描述中，给出了大量具体的细节以便提供对本技术更为彻底的理解。然而，对于本领域技术人员来说显而易见的是，本技术可以无需一个或多个这些细节而得以实施。在其他的例子中，为了避免与本技术发生混淆，对于本领域公知的一些技术特征未进行描述。为了彻底了解本技术，将在下列的描述中提出详细的细节，以便说明本技术如何解决现有的电子元件测试装置操作麻烦的问题。显然，本技术的施行不限定于电路测试领域的技术人员所熟习的特殊细节。本技术的较佳实施例详细描述如下， 然而除了这些详细描述外，本技术还可以具有其他实施方式。图3是根据本技术的电子元件测试装置的示意图。如图3所示，本技术的用于电子元件测试装置300包括绝缘基板301、第一主配线30 、第二主配线30 、多个分支配线303和电压测试单元304。第一主配线30 连接多个分支配线的一端，例如第一分支配线303a、第二分支配线30北、第三分支配线303c等。如图4所示，第一主配线30 上设置有至少一个连接通孔C0，各分支配线的另外一端分别设置有一个连接通孔Cl、C2、 C3等，所述连接通孔用以提供电子元件的端子分别穿设，并于这些电子元件之间构成电性连接。第二主配线30 上设置有多个连接通孔D0、D1、D2、D3等。此外，在各分支配线的长度方向上分别间隔设有两个测试用端部(A1、B1)、(A2、B2)、(A3、B3)，这些测试用端部(Al、 Bi), (A2.B2), (A3.B3)外露于绝缘基板301的表面，且同一分支配线上所设的两个测试用端部之间形成一测试区域，以供测试时使用。在任一分支配线303的两个测试用端部连接电压测试单元304的两端。优选地，在第一主配线30 和第二主配线30 的连接通孔CO和DO之间连接电源供应单元305。优选地，第一主配线30 、第二主配线302b和分支配线303均是铜金属线。如图4所示，电压测试单元304为放大器30 和电压表304b耦合后形成，且该放大器30 的放大倍数为100倍。下面详细说明利用测试装置300对电子元件400进行测试的过程第一分支配线303a的两个测试用端部(Al、Bi)连接电压测试单元304的两端， 连接通孔C1、D1之间连接第一电子元件400，当电源供应单元305开启后，测试装置300处于导电状态下。读取电压测试单元304的显示值U。ut，则测试用端部(Al、Bi)之间的电压值Uaibi = U。ut/100。测试用端部(Al、Bi)之间的电阻值I A1B1 = o*L/A，其中，σ是铜的电阻率，L是Al、Bl之间的长度，A是第一分支配线303a的横截面积。由此可知，通过Iaibi =UA1B1/RA1B1，从而取得流过第一电子元件400的电流大小，同理，也适用于测试用端部(A2、 B2), (A3.B3)等处的测试，以取得流过第二电子元件500或其它电子元件的电流的大小。同理，在连接通孔C2、D2之间连接第二电子元件500，电压测试单元304的两端连接测试用端部(A2、B2)，则可以得到流过第二电子元件500的电流大小。连接通孔C3、D3之间还可以连接其它电子元件，测试时均无需拆卸待测电子元件，而只需将电压测试单元304 的两端连接测试用端部即可。本技术在待测电路的两端连接电压测试单元，从而通过计算得出流过该待测电路的电流大小，由于电压测试单元是并联在待测电路的两端，因此无需将电流表串联进电路即可测得电流的大小，从而提高了电路测试效率。本技术结构简单，使用方便，可以广泛应用于电子器件的测试中。本技术已经通过上述实施例进行了说明，但应当理解的是，上述实施例只是用于举例和说明的目的，而非意在将本技术限制于所描述的实施例范围内。此外本领域技术人员可以理解的是，本技术并不局限于上述实施例，根据本技术的教导还可以做出更多种的变型和修改，这些变型和修改均落在本技术所要求保护的范围以内。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元件测试装置，其特征在于包括绝缘基板；第一主配线和第二主配线，均设置在所述绝缘基板上，所述第一主配线和第二主配线上均设置有多个连接通孔；多个分支配线，所述分支配线设置在所述绝缘基板上，所述分支配线的一端连接所述第一主配线，各分支配线的另外一端均设置有一个连接通孔，各分支配线的长度方向上分别间隔设有两个测试用端部；电压测试单元，所述电压测试单元的两端分别连接同一所述分支配线上的所述两个测试用端部。2.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭海帆，雍峰，
申请(专利权)人：汉柏科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：