【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电子元器件用触点领域,特别是涉及一种采用纯铜和银化合物的三复合触点。
技术介绍
触点是各种电子元器件中常用的元件,它体积虽小,但对其性能的要求很高,复合触点应用范围广泛且常常用到贵金属材料,一般采用手工铆接和自动铆接。目前市场上是用纯银的复合触点,但纯银强度低、硬度低、抗熔焊性及耐电弧烧损性能低,且用量大、价格昂贵,生产成本高,只能应用在无线电、通讯用微型开关及小电流电器等领域。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种采用纯铜和银化合物的三复合触点, 采用了纯铜和银氧化锡材料复合成型,生产成本低,具有良好的抗熔焊性能及耐电磨损性能。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是提供一种采用纯铜和银化合物的三复合触点,包括纯铜基体、银化合物复合层和对侧复合层,所述的纯铜基体由圆柱状头部和圆柱状脚部组成,所述的圆柱状头部的厚度大于圆柱状脚部的厚度,银化合物复合层复合于纯铜基体的圆柱状头部一端,所述对侧复合层复合于纯铜基体的圆柱状脚部一端。所述的头部复合层的厚度为0. 2mm 0. 6mm,所述的脚部复合层的厚度0. 2mm 0. 6mmο所述的复合层化合物是银氧化锡(AgSnO2)。由于氧化锡(SnO2)具有很高的热稳定性,在电弧高温作用下不易分解,氧化锡 (SnO2)粒子悬浮于Ag的熔池中,使熔融金属的粘度增大,不易产生飞溅,因此银氧化锡 (AgSnO2)材料具有优良、稳定的抗熔焊性及良好的抗电弧侵蚀能力。有益效果本技术涉及提供一种采用纯铜和银化合物的三复合触点,采用了纯铜和银氧化锡材料复合成型,利用了银氧化锡导电率高、很高的热稳定性、在电弧高温作用 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种采用纯铜和银化合物的三复合触点,包括纯铜基体O)、银化合物复合层(1)和对侧复合层(3),其特征在于所述的纯铜基体O)由圆柱状头部和圆柱状脚部组成,所述的圆柱状头部的厚度大于圆柱状脚部的厚度,银化合物复合层(1)复合于纯铜基体O)的圆柱状头部一端,所述对侧复合层(3)复合于纯铜基体O)...
【专利技术属性】
技术研发人员:乐平,
申请(专利权)人:宁波电工合金材料有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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