薄膜晶体管液晶显示面板检测方法和设备技术

本发明专利技术提供一种薄膜晶体管液晶显示面板检测方法和设备，属于液晶显示技术领域，其可解决现有的薄膜晶体管液晶显示面板检测方法难以确定不良种类、不良定位慢的问题。本发明专利技术的薄膜晶体管液晶显示面板检测方法包括：为薄膜晶体管液晶显示面板的至少一个子像素的像素电极提供第一恒定电压；在像素电极保持第一恒定电压的情况下测试子像素的显示状态。本发明专利技术的薄膜晶体管液晶显示面板检测设备包括显示控制单元，显示控制单元用于为薄膜晶体管液晶显示面板的至少一个子像素的像素电极提供第一恒定电压并至少维持第一时间，第一时间为测试子像素显示状态所需的最小时间。本发明专利技术可用于薄膜晶体管液晶显示面板的检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示
，尤其涉及薄膜晶体管液晶显示面板检测方法和设备。
技术介绍
在薄膜晶体管液晶显示面板(TFT IXD)的制造过程中，不可避免地会产生一些不良，这些不良从产生原因上可分为光学不良和电学不良。光学不良指由光学部件问题造成的不良，如偏光片不良、取向不良等；而电学不良指因为电路(如薄膜晶体管电路)问题造成的不良，包括电容不良、沟道不良等。为了保证薄膜晶体管液晶显示面板的质量，需要对其进行检测，如在成盒后进行的成盒检测和在最终进行的终端检测等。在成盒检测和终端检测中，薄膜晶体管液晶显示面板在预定的灰度下进行显示(用预定灰度是因为某些不良在特定灰度下特别明显)，通过观察其显示状态判断是否存在不良以及不良的种类，以便进行维修等操作。为了防止液晶在单一方向的电场下老化并避免直流残留，故在现有的检测过程中采取的都是与薄膜晶体管液晶显示面板正常显示时一样的“极性反转驱动(或称交流测试)”。极性反转是指使加在各子像素上的电压的方向以一定频率进行反转(通常该频率等于刷屏率，即每帧图像电压方向反转一次)。由于公共电极的电压保持不变，因此要实现极性反转就需要对各子像素的像素电极提供切换电压，该切换电压在第一切换电压和第二切换电压间以上述频率不断切换，从而在各子像素上施加方向反转的电压；例如，要持续显示灰度L 0时，若公共电极电压为5V，则应对数据线交替提供OV和IOV的切换电压(即极性反转电压信号)，使像素电极上的电压也在OV和IOV间不断的切换，从而施加在子像素上的电压在5V和-5V间切换(即极性反转)。显而易见，薄膜晶体管阵列电路在恒电压和变电压状态下的许多电学性质表现的不同，很多电学不良只有在像素电极上被施加切换电压的情况下(即交流测试时)才能显示出来。专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题现有的薄膜晶体管液晶显示面板检测方法虽可将全部的光学不良和电学不良都检测出来，但却不能区分其到底是光学不良还是电学不良，而由于许多光学不良和电学不良所表现出的现象很接近，因此必须从很多种可能的光学不良和电学不良中确定其具体是哪种不良，从而造成不良的种类确定困难，定位慢。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供一种薄膜晶体管液晶显示面板检测方法，其易于确定不良的种类，可迅速定位不良。为达到上述目的，本专利技术的实施例采用如下技术方案—种薄膜晶体管液晶显示面板检测方法，包括为薄膜晶体管液晶显示面板的至少一个子像素的像素电极提供第一恒定电压；在所述像素电极保持所述第一恒定电压的情况下测试所述子像素的显示状态。由于本专利技术的实施例的薄膜晶体管液晶显示面板检测方法中，包括在像素电极电压恒定的情况下测定显示状态的步骤，而在此情况下大部分的电学不良都不会显示出来， 故此时出现的不良更大可能为光学不良，此时未显出的不良肯定为光学不良；因此其易于确定不良的种类，可迅速定位不良。本专利技术的实施例还提供一种薄膜晶体管液晶显示面板检测设备，其易于确定不良的种类，可迅速定位不良。为达到上述目的，本专利技术的实施例采用如下技术方案一种薄膜晶体管液晶显示面板检测设备，包括显示控制单元，用于为薄膜晶体管液晶显示面板的至少一个子像素的像素电极提供第一恒定电压并至少维持第一时间，所述第一时间为测试所述子像素的显示状态所需的最小时间。其中，所述第一时间是指足以使所述子像素的显示状态稳定为直流测试下的状态，且足以完成对该显示状态的测试所需的时间。由于本专利技术的实施例的薄膜晶体管液晶显示面板检测设备具有显示控制单元，该显示控制单元可对像素电极提供恒定电压，故可用上述方法进行检测；因此其易于确定不良的种类，可迅速定位不良。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。图1为本专利技术实施例一的薄膜晶体管液晶显示面板检测方法的流程图；图2为本专利技术实施例三的薄膜晶体管液晶显示面板检测设备的结构示意图；图3为本专利技术实施例四的薄膜晶体管液晶显示面板检测设备的结构示意图；其中附图标记为1、薄膜晶体管液晶显示面板检测设备；2、连接端；3、显示控制单元；4、像素电极控制单元；5、切换单元；6、公共电极控制单元。具体实施例方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例旨在提供一种薄膜晶体管液晶显示面板检测方法，包括为薄膜晶体管液晶显示面板的至少一个子像素的像素电极提供第一恒定电压；在所述像素电极保持所述第一恒定电压的情况下测试所述子像素的显示状态。由于本专利技术的实施例的薄膜晶体管液晶显示面板检测方法中，包括在像素电极电压恒定的情况下测定显示状态的步骤，而在此情况下大部分的电学不良都不会显示出来，故此时出现的不良更大可能为光学不良，此时未显出的不良肯定为光学不良；因此其易于确定不良的种类，可迅速定位不良。实施例一本专利技术实施例提供一种薄膜晶体管液晶显示面板检测方法，该检测可为成盒检测或终端检测。如图1所示，方法包括S11、以交流测试方式使薄膜晶体管液晶显示面板在预定灰度(以LO灰度为例) 下进行显示。其具体优选为向薄膜晶体管液晶显示面板的公共电极提供5V的恒定电压， 向薄膜晶体管液晶显示面板的各子像素的栅极线发出扫描信号(扫描信号的开启电压在 27V,关闭电压在-8V)，并向各数据线发出在OV和IOV间切换的切换电压，从而在各子像素的像素电极上产生在OV(即第一切换电压)和IOV(即第二切换电压)间切换的切换电压； 而各子像素上则会产生在-5V和5V间切换的交流电压(即具有第一绝对值但方向以第一频率不断反转的极性反转电压)。显然，该切换电压的切换频率(即第一频率)不应过低 (如1分钟切换一次的频率显然就过低了)，其至少应能产生足够的交流效应，该频率通常在 30 120Hz，优选为 60Hz、65Hz、70Hz、75Hz、80Hz、85Hz 等常规的刷屏率。S12、测试薄膜晶体管液晶显示面板的显示状态；如果不存在显示不良，则进入步骤S15，如果存在显示不良，则继续下一步。S13、以直流测试方式使薄膜晶体管液晶显示面板显示LO灰度。其具体为切断向栅极线和/或数据线发出的信号，从而阻止数据线向像素电极提供电压，使各像素电极上产生OV的恒定电压(即第一恒定电压)；虽然从理论上只要切断栅极线和数据线中的一个即可达到上述目的，但为了减少栅极线和数据线本身电压的干扰，优选将二者一起切断。 同时向公共电极施加5V(或-5V)的恒定电压(即第三恒定电压)，从而对各子像素施加 5V(或-5V)的直流电压(即第四恒定电压)；显然，为了使液晶显示面板的显示灰度保持不变，该直流电压的绝对值应与在相同灰度下进行交流测试时子像素上的交流电压的绝对值 (即第一绝对值)相等。S14、测试薄膜晶体管液晶显示面板的显示状态以判断不良的种类；如果在步骤 S12中观察到的不良在本步骤中消本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：董云，彭志龙，何祥飞，
申请(专利权)人：北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：