一种电容器元件检测系统及方法技术方案

技术编号:7317275 阅读:191 留言:0更新日期:2012-05-04 05:48
本发明专利技术公开了一种电容器元件检测系统及方法。其中,所述系统包括:参数设置及检测模块、元件检测及挑剔模块、数据处理及存储模块、通信模块;参数设置及检测模块、元件检测及挑剔模块、数据处理及存储模块均与通信模块无线连接。元件检测及挑剔模块包括:元件传输子模块、元件定位子模块、元件压制子模块、耐压及电容测试子模块、元件挑剔子模块;所述元件传输子模块、元件定位子模块、元件压制子模块、耐压及电容测试子模块、元件挑剔子模块均与通信模块无线连接。与现有技术相比,本发明专利技术收集元件卷制数据,自动完成元件耐压、元件电容检测,并剔除不合格元件,从而使元件的检测和数据的收集简单化,并且使得每个产品的所有元件都有档案可查。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电容器元件的检测,特别涉及。
技术介绍
目前,电容器元件的耐压检测和电容检测互相独立,电容器元件电容检测为人工测量,元件数量多,无法做到全检,检测数据记录麻烦,元件参数的设置和测量在不同工段完成,需要专人统计汇总两部分数据,因为元件是不编号的,设置参数发生变化时,后面工段无法区分这些元件,测量数据就不可能有针对性,元件实际卷制参数无法保留,造成分析时的数据缺失。
技术实现思路
本专利技术的目的之一是公开一种电容器元件检测系统,以解决目前行业内电容器元件检测各工序相互独立,元件电容检测工作量大,无法完成全检,检测数据不能反应处设置参数的具体情况,不能系统的对参数设置、卷制情况、检测数据进行汇总的问题。本专利技术的目的之二是公开一种电容器元件检测方法,以解决目前行业内电容器元件检测各工序相互独立,元件电容检测工作量大,无法完成全检,检测数据不能反应处设置参数的具体情况,不能系统的对参数设置、卷制情况、检测数据进行汇总的问题。本专利技术的技术方案如下一种电容器元件检测系统,应用于电容器元件的检测和数据收集,包括四个模块参数设置及检测模块、元件检测及挑剔模块、数据处理及存储模块、通信模块;所述参数设置及检测模块、元件检测及挑剔模块、数据处理及存储模块均与所述通信模块无线连接。较佳地,所述元件检测及挑剔模块,进一步包括元件传输子模块、元件定位子模块、元件压制子模块、耐压及电容测试子模块、元件挑剔子模块、不合格元件收集箱、合格元件收集台;所述元件传输子模块、元件定位子模块、元件压制子模块、耐压及电容测试子模块、元件挑剔子模块均与所述通信模块无线连接;所述元件检测及挑剔模块设置有一架体,所述元件传输子模块设置在架体内;所述元件设置于所述元件传输子模块的前端;所述元件定位子模块设置于所述元件传输子模块附近,并靠近元件压制子模块; 所述元件压制子模块伸缩连接于所述架体上端; 所述耐压及电容测试子模块设置于所述元件的两侧;所述元件挑剔子模块与架体下端转动连接,且靠近所述元件传输子模块的后端; 所述不合格元件收集箱位于所述元件传输子模块后端的下方; 所述合格元件收集台位于所述元件挑剔子模块非靠近元件传输子模块的一侧。较佳地,所述元件传输子模块包括履带和第一步进电机,所述履带与所述第一步进电机连接,所述第一步进电机带动履带转动。较佳地,所述元件定位子模块为一红外线探测仪。较佳地,元件压制子模块包括压板和第二步进电机,所述第二步进电机与所述压板连接,并带动压板上下伸缩运动。较佳地,所述耐压及电容测试子模块包括正负两个电极、直流电流源和数字测试仪;所述正负两个电极分别与所述直流电流源和数字测试仪连接;所述正负两个电极分别位于所述元件的两侧,对应元件自身的两个电极; 所述耐压及电容测试子模块,通过直流电流源做元件耐压检测;通过数字测试仪做元件电容检测;所述元件挑剔子模块为一可转动的平台。较佳地,所述参数设置及检测模块,进一步包括数据显示面板,参数输入键盘,元件卷绕参数检测子模块,参数存储子模块; 所述参数输入键盘与所述数据显示面板连接;所述参数输入键盘和所述元件卷绕参数检测子模块均与所述参数存储子模块连接;所述参数存储子模块,用于存储设置好的元件绕制参数和检验参数及检测到元件的实际卷绕参数;所述参数存储子模块与所述通信模块无线连接。较佳地,所述数据显示面板为LCD显示屏,所述参数输入键盘为电容式键盘。一种上述系统的电容器元件检测方法,其包括下列步骤Sl 参数设置及检测模块设置元件绕制参数和检验参数,并检测元件的实际卷绕参数;S2:参数设置及检测模块把设置好的元件卷绕参数和实际卷绕参数通过通信模块传送给数据处理及存储模块;参数设置及检测模块把设置好的元件的检验参数传输给元件检验及挑剔模块;53元件传输子模块把卷制好的元件输送到元件压制子模块附近,元件定位子模块对元件进行位置检测和定位;元件压制子模块把元件压制到设定的高度,进行电容测试,进行耐压检测,不合格元件通过元件挑剔子模块进入不合格元件收集箱,合格元件输送合格元件收集台;54元件的检测数据通过通信模块传输给数据处理及存储模块;S5:数据处理及存储模块把卷制参数和检测参数进行分析整理,建立每台产品的所有元件的档案,并存储。较佳地,步骤S4进一步包括卷制好的元件进入元件检测及挑剔模块,元件传输子模块带动元件前进;元件定位子模块检测到元件后,把检测信息发送给通信模块,通信模块给元件传输子模块下发停止前进命令,元件被定位到指定位置;通信模块发送指令给元件压制子模块,元件压制子模块下降,把元件压制到设定的高度,耐压及电容测试子模块根据通信模块的要求进行耐压检测和电容测试;如果元件合格, 耐压及电容测试子模块把合格元件的检测数据发送给通信模块,通信模块把上述检测数据传送给数据处理及储存模块;同时,通信模块给元件传输子模块发送指令向前移动,元件传输子模块把元件传送到元件挑剔子模块,通信模块给元件挑剔子模块发送转动信号,元件挑剔子模块把元件输送到合格元件收集台;如果元件不合格,耐压及电容测试子模块把元件不合格信息传送给通信模块,通信模块先给元件挑剔子模块发送转动信号,元件挑剔子模块转动;然后通信模块给元件传输子模块发送前进信号,元件传输子模块向前运动,不合格元件掉入不合格元件收集箱。与现有技术相比,本专利技术的有益效果如下1、元件的设置参数通过通信模块传送给数据处理及储存模块,保存了元件的原始参数。2、元件检测及挑剔模块实现了电容的自动测量,并自动剔除耐压或电容不合格元件。3、所有元件的检测数据都通过通信模块传送给数据处理及储存模块,实现了元件参数设置和元件检测的一一对应。解决了目前行业内电容器产品无法追溯到元件的问题。附图说明图1为本专利技术具体实施例一种电容器元件检测系统的立体结构图; 图2为本专利技术具体实施例一种电容器元件检测系统的正视图3为本专利技术具体实施例一种电容器元件检测系统的正面剖视图; 图4为本专利技术具体实施例一种电容器元件检测系统的左视图; 图5为本专利技术具体实施例一种电容器元件检测方法的流程图。具体实施例方式下方结合附图和具体实施例对本专利技术做进一步的阐述。 实施例如图1至图4,一种电容器元件检测系统100,应用于电容器元件的检测和数据收集,其包括四个模块参数设置及检测模块1、元件检测及挑剔模块2、数据处理及存储模块 3、通信模块4 ;参数设置及检测模块1、元件检测及挑剔模块2、数据处理及存储模块3均与通信模块4无线连接。其中,参数设置及检测模块1,进一步包括数据显示面板11,参数输入键盘12,元件卷绕参数检测子模块,参数存储子模块;参数输入键盘12与数据显示面板11连接;参数输入键盘12和所述元件卷绕参数检测子模块均与所述参数存储子模块连接。所述参数存储子模块,用于存储设置好的元件绕制参数和检验参数及检测到元件的实际卷绕参数;所述参数存储子模块与通信模块4无线连接。在本实施例中,数据显示面板11为IXD显示屏,参数输入键盘12为电容式键盘。其中,元件检测及挑剔模块2进一步包括元件传输子模块21、元件定位子模块22、元件压制子模块23、耐压及电容测试子模块、元件挑剔子模块沈、不合格元件收集箱27、合格元件收集台观。元件传输子模块21、元件定位子模块22、元件压制子模块23、耐压及电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘强陆杰频陆居志孔志峰熊黄海李健
申请(专利权)人:上海思源电力电容器有限公司
类型:发明
国别省市:

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