监控印刷电路板检验站操作员的方法和系统技术方案

一种用于监控检验站的操作员的系统和方法，该方法包括：由检验站在检验过程期间显示缺陷的图像和可疑缺陷的图像，所述可疑缺陷被期望由操作员在检验过程期间归类；检查操作员是否成功将该缺陷归类；以及对操作员将该缺陷归类为缺陷的成功或失败进行响应。

【技术实现步骤摘要】
监控印刷电路板检验站操作员的方法和系统相关申请本申请要求序列号为61/3M749，提交日为2010年6月15日的美国临时专利的优先权，其通过引用包含于此。
技术介绍
印刷电路板(PCB)通过自动光学图像(AOI)系统检查并稍后在检验站(通过摄像机)进行视觉检验。为了检验缺陷，操作员从一个可疑缺陷的图像到另一个可疑缺陷的图像移动摄像机——通常通过在检验站按“下一个缺陷”按钮。在每个检验轮班(shift)中，操作员检验约数以万计的缺陷。因此，显示可疑缺陷图像的检验过程对于操作员可能是很长的并且涉及到大量可疑缺陷的图像的显示。由于检验是一种单调的工作，在一定时间段(例如几个小时)之后操作员的警惕性下降，那么很可能他将遗漏AOI检测到的真正的缺陷——因而他将不把可疑缺陷的图像归类为包括缺陷——尽管这些图像表示真正的缺陷。遗漏真正的缺陷可导致PCB车间运送有缺陷的PCB到他们的客户，尽管AOI站已经检测到这些缺陷。
技术实现思路
提供一种监控检验站的操作员的方法。该方法可包括由检验站在检验过程期间显示缺陷的图像和可疑缺陷的图像，所述可疑缺陷被期望由操作员在检验过程期间归类；检查操作员是否成功将所述缺陷归类；以及对操作员将所述缺陷归类为缺陷的成功或失败进行响应。该方法可包括显示至少一个缺陷的多个图像以及显示可疑缺陷的多个图像。该方法可包括确定显示缺陷的图像的频率；以及以该频率显示缺陷的图像。该方法可包括基于该操作员的特性确定该频率。 该方法可包括基于该操作员的经验水平确定该频率。该方法可包括在检验过程期间改变该频率，其中该改变响应于以下至少一项(a) 自检验过程开始以来流逝的时间，和(b)该操作员响应至少一个先前显示的缺陷的图像的方式。该方法可包括选择该至少一个缺陷的缺陷类型，该选择是基于在所述可疑缺陷的多个图像中出现该缺陷类型的可疑缺陷的可能性。该方法可包括选择该至少一个缺陷的缺陷类型，该选择是基于该操作员成功检验该缺陷类型的可疑缺陷的可能性。所述响应可包括改变将缺陷的图像显示给该操作员的方式。所述缺陷的图像可以是另一个操作员先前检测到的缺陷的图像。所述缺陷的图像可以是属于与所述可疑缺陷的图像相关联的印刷电路板(PCB)不同的PCB的缺陷的图像。该方法可包括处理所述缺陷的图像以与可疑缺陷的至少一个图像类似。该方法可包括更改所述缺陷的图像的颜色和亮度中的至少一个以与可疑缺陷的至少一个图像类似。所述缺陷的图像是合成的缺陷图像。该方法可包括基于先前获得的缺陷的图像生成该合成的缺陷图像。所述响应可包括产生警报。所述响应可包括停止检验过程并且请求另一个操作员完成该检验过程。该方法可包括基于操作员将缺陷归类的失败或成功，改变该检验过程的特性。该方法可包括如果操作员未成功将缺陷归类，则重放在检验过程期间已经向该操作员显示过的可疑缺陷的至少一个图像。该方法可包括基于操作员的经验水平确定要重放的可疑缺陷的图像的数量。该方法可包括基于自检验过程开始流逝的时间确定要重放的可疑缺陷的图像的数量。所述缺陷的图像可以是先前检测到的缺陷的图像。该方法可包括响应于操作员未将所述缺陷归类为缺陷，将检验过程暂停预定时间段。根据本专利技术的实施例，提供一种用于监控检验站的操作员的系统，该系统可包括 显示器，用于由检验站在检验过程期间显示缺陷的图像和可疑缺陷的图像，所述可疑缺陷被期望由操作员在检验过程期间归类；处理器，用于检查操作员是否成功将所述缺陷归类， 并且用于控制对操作员将所述缺陷归类为缺陷的成功或失败的响应。 处理器和显示器中的至少一个可被包括在检验站中。显示器可被设置为显示至少一个缺陷的多个图像以及显示可疑缺陷的多个图像。处理器可被设置为确定显示缺陷的图像的频率；以及以该频率显示缺陷的图像。处理器可被设置为基于该操作员的特性确定该频率。处理器可被设置为基于该操作员的经验水平确定该频率。处理器可被设置为在检验过程期间改变该频率，其中该改变响应于以下至少一项(a)自检验过程开始以来流逝的时间，和(b)该操作员响应至少一个先前显示的缺陷的图像的方式。处理器可被设置为选择该至少一个缺陷的缺陷类型，该选择是基于在所述可疑缺陷的多个图像中出现该缺陷类型的可疑缺陷的可能性。处理器可被设置为选择该至少一个缺陷的缺陷类型，该选择是基于该操作员成功检验该缺陷类型的可疑缺陷的可能性。处理器可被设置为改变将缺陷的图像显示给该操作员的方式。所述缺陷的图像可以是另一个操作员先前检测到的缺陷的图像。所述缺陷的图像可以是属于与所述可疑缺陷的图像相关联的印刷电路板(PCB) 不同的PCB的缺陷的图像。处理器可被设置为处理所述缺陷的图像以与可疑缺陷的至少一个图像类似。处理器可设置为更改所述缺陷的图像的颜色和亮度中的至少一个以与可疑缺陷的至少一个图像类似。所述缺陷的图像是合成的缺陷图像。处理器可被设置为基于先前获得的缺陷的图像生成该合成的缺陷图像。。处理器可被设置为响应于操作员未将所述缺陷归类为缺陷而触发警报。处理器可被设置为响应于操作员未将所述缺陷归类为缺陷，停止检验过程并且清求另一个操作员完成该检验过程。处理器可被设置为基于操作员将缺陷归类的失败或成功，改变该检验过程的特性。处理器可被设置为如果操作员未成功将缺陷归类，则触发重放在检验过程期间已经向该操作员显示过的可疑缺陷的至少一个图像。处理器可被设置为基于操作员的经验水平确定要重放的可疑缺陷的图像的数量。处理器可被设置为基于自检验过程开始流逝的时间确定要重放的可疑缺陷的图像的数量。 所述缺陷的图像可以是先前检测到的缺陷的图像。处理器可被设置为响应于操作员未将所述缺陷归类为缺陷，将检验过程暂停预定时间段。附图说明被示作本专利技术的主旨在说明书的权利要求部分被特别指出并明确要求。然而，本专利技术关于结构和操作的方法连同其目标、特征以及优势可结合附图参考下面的详细描述而被最好地理解，在附图中图1示出按照本专利技术的一个实施例的方法的流程图；以及图2示出按照本专利技术的一个实施例的系统。应当理解，为了说明的简化和清楚，图中所示的部件不一定是按比例绘制的。例如，为了清楚，一些元件的尺寸相对其它元件可以是夸大的。更进一步，在适当考虑的情况下，附图标记可以在图中重复以指示相应的或类似的元件。具体实施例方式在下面的详细描述中，列出众多明确的细节以提供本专利技术的透彻理解。然而，本领域技术人员可以理解，本专利技术可在没有这些明确的细节的情况下实行。在其它示例中，周知的方法、程序和部件未详细描述以便不遮盖本专利技术。按照本专利技术的不同实施例，通过在检验过程期间显示缺陷(已经知道这是缺陷) 的图像以及显示可疑缺陷的图像，来测试检验站的操作员的警惕性。在已经被检验为缺陷的意义上，这些缺陷可以是已知的。该警惕性评估还包括测试操作员对这些缺陷图像的响应(或未响应)。基于操作员对这些缺陷图像的响应可以采取一个或多个动作。这些动作可以包括产生警报，改变提供缺陷图像的方式，改变测试警惕性的方式， 重放已经显示给操作员的可疑缺陷的图像，等等。该图像可以是先前显示给该操作员的缺陷的真实图像、先前被该操作员检测为缺陷的缺陷的真实图像、曾由另一个操作员检测到的包括真正的缺陷的缺陷的真实图像、合成的图像，等等。合成的缺陷图像可以通过处理先前获得的缺陷的图像、通过将缺陷图像信息插入到PCB的工作本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：R·弗里斯沃瑟，S·佩雷斯，
申请(专利权)人：卡姆特有限公司，
类型：发明
国别省市：