芯片的USB功能的测试方法、测试主机和测试系统技术方案

本发明专利技术提供一种芯片的USB功能的测试方法、测试主机和测试系统，测试方法包括：步骤一，通过测试主机上的GPIO引脚获取测试开始信号以及被测芯片所连接的所述测试主机上的USB测试端口的端口号，并启动测试主机上的测试功能模块；步骤二，测试主机打开与所述端口号对应的继电器，从而接通所述USB测试端口；步骤三，测试功能模块通过USB测试端口使所述被测芯片进入中断状态；步骤四，获取在中断状态下所述被测芯片的USB端口的电流信息；步骤五，测试功能模块根据所述电流信息生成测试结果。本发明专利技术使待测芯片不再需要具有USB?phy自建测试模块，能减少芯片设计者的工作和负担，并能更好更准确的测试芯片的USB功能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试技术，特别是涉及芯片的USB功能的测试方法、测试主机和测试系统。
技术介绍
芯片的BIST (Built-in Self Test，内建自测)技术，是芯片设计时在电路中植入相关功能的自我测试电路，以此降低器件测试对ATE(自动测试设备，Auto Test Equipment)的依赖程度。因此，具有USB (Universal Serial Bus，通用串行总线)接口的芯片，其USB功能一般都是由自测电路完成的，在ATE测试整个芯片时，一般不对芯片中具有自测电路的USB功能进行验证，而是由其自测电路完成测试。芯片在ATE上进行量产测试时，在USB phy(USB接口网卡)内建自测通过后，USB 应该是都能正常使用的，但事实上有些例外情况，USB phy内建自测通过后，USB设备仍不能被识别。因此，为了更好更准确的测试芯片的USB功能，需要开发一个能够准确测试USB设备的测试系统，确保USB设备能够使用。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种芯片的USB功能的测试方法、测试主机和测试系统，本专利技术使待测芯片不再需要具有USB phy自建测试模块，能减少芯片设计者的工作和负担，并能更好更准确的测试芯片的USB功能。为了实现上述目的，一方面，提供了一种芯片的USB功能的测试方法，包括如下步骤步骤一，通过测试主机上的GPIO引脚获取测试开始信号以及被测芯片所连接的所述测试主机上的USB测试端口的端口号，并启动所述测试主机上的测试功能模块；步骤二，所述测试主机打开与所述端口号对应的继电器，从而接通所述USB测试端□；步骤三，所述测试功能模块通过所述USB测试端口使所述被测芯片进入中断状态；步骤四，获取在中断状态下所述被测芯片的USB端口的电流信息；步骤五，所述测试功能模块根据所述电流信息生成测试结果。优选地，上述的方法中，还包括步骤六，所述测试功能模块通过所述GPIO引脚获取测试结束信号，通过串口将所述测试结果发送给个人电脑，清除所述测试结果和所述测试结束信号，关闭所述继电器，等待下一次测试。优选地，上述的方法中，在所述步骤三之前，还包括所述测试功能模块通过枚举的方式，通过所述USB测试端口连接所述被测芯片。优选地，上述的方法中，所述测试开始信号来自于自动测试设备，所述被测芯片为所述自动测试设备所测试的芯片。优选地，上述的方法中，所述测试开始信号来自于手动输入，所述被测芯片为具有 USB端口的设备。本专利技术还提供了一种芯片的USB功能的测试主机，包括USB测试端口，用于连接被测芯片；继电器，用于开启或关闭所述USB测试端口 ；GPIO引脚，用于获取测试开始信号以及所述被测芯片所连接的所述USB测试端口的端口号；测试功能模块，用于打开与所述端口号对应的继电器，从而接通所述USB测试端口，通过所述USB测试端口使所述被测芯片进入中断状态；获取在中断状态下所述被测芯片的USB端口的电流信息；根据所述电流信息生成测试结果。优选地，上述的测试主机中，还包括串口，用于将所述测试结果发送给个人电脑。优选地，上述的测试主机中，所述测试功能模块还用于通过枚举测试的方式，通过所述USB测试端口连接所述被测芯片。优选地，上述的测试主机中，所述测试主机包括OTG功能的子板和嵌入式系统装置；所述USB测试端口、所述继电器，所述GPIO引脚和所述串口位于所述OTG功能的子板；所述测试功能模块位于所述嵌入式系统装置。本专利技术还提供一种芯片的USB功能的测试系统，包括自动测试设备、被测芯片和测试主机；所述测试主机包括USB测试端口，用于连接所述被测芯片；继电器，用于开启或关闭所述USB测试端口 ；GPIO引脚，用于连接所述自动测试设备，获取测试开始信号以及所述被测芯片所连接的所述USB测试端口的端口号；测试功能模块，用于打开与所述端口号对应的继电器，从而接通所述USB测试端口，通过所述USB测试端口使所述被测芯片进入中断状态；获取在中断状态下所述被测芯片的USB端口的电流信息；根据所述电流信息生成测试结果。本专利技术至少存在以下技术效果1)本专利技术通过测试主机来完成待测芯片的USB功能测试，待测芯片不再需要具有 USB phy自建测试模块，减少芯片设计者的工作和负担，并且，测试主机独立于ATE，ATE无需增加测试USB的功能。2)本专利技术方法方便调试，可以跟踪芯片的测试状态，知道芯片测试过程中每一步的状态；本专利技术方法测试者容易查看错误信息，通过PC打印，方便查看测试状态和测试结果，提高测试效率。附图说明图1为本专利技术实施例提供的方法的步骤流程图；图2为本专利技术实施例提供的测试系统的结构图；图3为本专利技术实施例提供的在ATE环境下的测试执行过程的流程图；图4为本专利技术实施例提供的测试主机的结构图。具体实施例方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对具体实施例进行详细描述。图1为本专利技术实施例提供的方法的步骤流程图，如图所示，芯片的USB功能的测试方法，包括如下步骤步骤101，通过测试主机上的GPIO(General-Purpose IO ports，通用输入输出端口 )引脚获取测试开始信号以及被测芯片所连接的所述测试主机上的USB测试端口的端口号，并启动所述测试主机上的测试功能模块；步骤102，所述测试主机打开与所述端口号对应的继电器，从而接通所述USB测试端□；步骤103，所述测试功能模块通过所述USB测试端口使所述被测芯片进入中断状态；步骤104，获取在中断状态下所述被测芯片的USB端口的电流信息；步骤105，所述测试功能模块根据所述电流信息生成测试结果。可见，本专利技术方法通过测试主机来完成待测芯片的USB功能测试，待测芯片不再需要具有USB phy自建测试模块，减少芯片设计者的工作和负担，并且，测试主机独立于 ATE, ATE无需增加测试USB的功能。其中，在所述步骤103之前，还可以包括所述测试功能模块通过枚举的方式，通过所述USB测试端口连接所述被测芯片。在所述步骤105之后，还可以包括所述测试功能模块通过所述GPIO引脚获取测试结束信号，通过串口将所述测试结果发送给个人电脑，清除所述测试结果和所述测试结束信号，关闭所述继电器，等待下一次测试。图2为本专利技术实施例提供的测试系统的结构图，如图2所示，本专利技术测试系统由测试主机201，个人电脑(PC) 202组成，测试主机201可以通过ATE203上的具有USB端口的待测芯片，也可以直接测试具有USB端口的设备204。本专利技术系统以测试主机201为中心， 通过和其他设备交互，来测试芯片的USB suspend(中断)电流。测试时，测试主机201的 USB host应用程序可以通过串口和PC交互，打印出一些系统的状态信息，方便查看测试的状况。在量产测试时，测试主机201与ATE203连接，所述测试开始信号来自于ATE，USB host应用程序和ATE交互，测试待测芯片在USB suspend状态下的电流。在调试测试时，测试主机201与具有USB端口的设备204连接，所述测试开始信号来自于手动输入，可以通过手动给出一些信号，使USB host应用程序的测试完成。图3为本专利技术实施例提供的在ATE环境下的测试执行过程的流程图，如图3所示， 包括步骤301，ATE给出GPIO本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：艾国，朱立英，
申请(专利权)人：北京中星微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：