本发明专利技术公开了一种半导体集成块自动测试设备，机架上固定了一控制面板，测试导轨斜置固定于机架上，测试导轨上端固接有一放管箱，测试导轨中上部位置水平对称固接有带电磁阀的左测试气缸和右测试气缸，测试气缸推出部分别固定左测试针座、右测试针座，测试气缸下水平固接有一带电磁阀的废品挡料气缸和废品气缸，测试轨道表面下端固接有一出料压板，出料压板将出口分为正品出料口和废品出料口，出料压板与放管箱之间固接有一导轨压板，气压减压器固接于机架外，其进气口与气源连接，出口通过气管与各气缸相连，程序控制系统PLC固定于机架内，通过导线与电源及各执行元件相连。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测试设备，尤其涉及一种半导体集成块自动测试设备。
技术介绍
众所周知，半导体集成块都是由专业生产厂家自动化生产出来，虽说也经过了一些检测，但不可避免产品当中存在有少量的废品。这对半导体集成块生产厂家来说有一定的废品率是正常的，但对使用半导体集成块生产其它设备的厂家来说，将一个废的集成块装入设备就相当生产了一台废设备。所以，使用半导体集成块的厂家都要对购入的半导体集成块进行测试、测试合格后方可使用。而目前一般是采用半导体集成块专用测试仪，从装集成块的管中取出集成块，用人工一个个去测集成块，时间一长，工人就会发生疲劳，从而导致测试的误差，很可能又将废品放在正品里了。目前也无专用测试设备的报道及上市销佳口。
技术实现思路
本专利技术的目的在于为了克服现有技术的不足而提供一种自动、准确、高效的半导体集成块自动测试设备。其技术方案为设计一机架，机架上固定了一控制面板，控制面板上分别安装有启动键、放料键、报警灯、测试键、废品键、正品键、转换开关、电源开关，测试导轨斜置固定于机架上，测试导轨上端固接有一放管箱，测试导轨中上部位置水平对称固接有带电磁阀的左测试气缸和右测试气缸，测试气缸推出部分别固定左测试针座、右测试针座，测试气缸下水平固接有一带电磁阀的废品挡料气缸和废品气缸，测试轨道表面下端固接有一出料压板，出料压板将出口分为正品出料口和废品出料口，出料压板与放管箱之间固接有一导轨压板，气压减压器固接于机架外，其进气口与气源连接，出口通过气管与各气缸相连，程序控制系统PLC固定于机架内，通过导线与电源及各执行元件相连。为了不因没有测试产品影响自动测试设备连续工作，导轨压板上部安装有一空管检测红外线感应器，放管箱装料一侧的机架上固接一换管气缸，换管气缸推出部上固接一进料换管定位板，测试轨道后面靠换管气缸处固接有一带电磁阀的入料挡货气缸，放管箱内设置有进料退管定位槽，放管箱一侧为空管箱，空管箱上固接有一挡空胶管压板。为了对测试产品准确定位，测试导轨上固定有左测试定位板和右测试定位板，导轨压板上对着测试位的位置上固定有一有料检测红外线感应器，测试导轨上还设有入料口产品定位槽和测试位产品定位槽，测试位产品定位槽下设有正品导入槽，测试轨道测试位的下端固接有一带电磁阀测试挡货气缸。为了不因测试后产品装满胶管而影响自动测试设备连续工作，出料压板一侧的机架上固定有一出料气缸，出料压板上表面还分别固定有废品通道检测红外线感应器和正品通道检测红外线感应器。为了将各红外线感应器的感应信号放大，机架内还固定有一感应放大器，感应放大器通过导线分别与各红外感应器及程序控制系统PLC相连。3使用本专利技术半导体集成块自动测试设备时，将集成块专用测试仪与本设备相连， 连接压力气源，打开电源开关，将转换开关切换到自动档上，在放管箱内装上装有集成块的胶管，胶管内的集成块就会沿斜面自动下滑，进入到测试位，测试气缸推动测试针座对集成块进行测试，根据集成块专用测试仪发出的正品或废品信号，程序控制系统PLC向相应的执行机构发出指定，指挥各气缸工作，将测试后的产品分别放入插在正品出料口和废品出料口的正品胶管或废品胶管。并根据进出料胶管的情况发出更换胶管的指令，进行胶管的更换。当进行手动操作时，将转换开关切换到手动档上，按照控制面板上各控制键的功能逐步使用就可。从本专利技术的技术方案可以看出，由于本专利技术半导体集成块自动测试设备采用了电磁阀与气缸的结合，同时将程序控制系统PLC与气动控制进行了完美的组合，所有动作都是在程序控制器控制下进行工作，不但避免了人为的失误，而且一人可以看管多台检测设备，提高了工效和精确度。完全达到了本专利技术自动、准确、高效的专利技术目的。附图说明图1是本专利技术半导体集成块自动测试设备的立体结构示意图； 图2是本专利技术半导体集成块自动测试设备的剖视示意图3是本专利技术半导体集成块自动测试设备的测试导轨部份的示意图； 图4是本专利技术半导体集成块自动测试设备的电路图。具体实施例方式下面结合附图对本专利技术作进一步详述。实施例1，参见附图1、附图2、附图3、附图4，设计一机架24，机架上固定了一控制面板33，控制面板上分别安装有启动键1、放料键2、报警灯3、测试键4、废品键5、正品键6、转换开关7、电源开关8，测试导轨32斜置固定于机架上，测试导轨上端固接有一放管箱10，测试导轨中上部位置水平对称固接有带电磁阀的左测试气缸14和右测试气缸15，测试气缸推出部分别固定左测试针座22、右测试针座23，测试气缸下水平固接有一带电磁阀的废品挡料气缸16和废品气缸17，测试轨道表面下端固接有一出料压板18，出料压板将出口分为正品出料口 25和废品出料口 26，出料压板与放管箱之间固接有一导轨压板13，气压减压器9固接于机架外，其进气口与气源连接，出口通过气管与各气缸相连，程序控制系统 PLC38固定于机架内，通过导线与电源及各执行元件相连。为了不因没有测试产品影响自动测试设备连续工作，导轨压板上部安装有一空管检测红外线感应器39，放管箱装料一侧的机架上固接一换管气缸11，换管气缸推出部上固接一进料换管定位板27，测试轨道后面靠换管气缸处固接有一带电磁阀的入料挡货气缸35，放管箱内设置有进料退管定位槽四，放管箱一侧为空管箱观，空管箱上固接有一挡空胶管压板12。为了对测试产品准确定位，测试导轨上固定有左测试定位板20和右测试定位板21，导轨压板上对着测试位的位置上固定有一有料检测红外线感应器40，测试导轨上还设有入料口产品定位槽30和测试位产品定位槽31，测试位产品定位槽下设有正品导入槽34，测试轨道测试位的下端固接有一带电磁阀测试挡货气缸36。为了不因测试后产品装满胶管而影响自动测试设备连续工作，出料压板一侧的机架上固定有一出料气缸19，出料压板上表面还分别固定有废品通道检测红外线感应器41和正品通道检测红外线感应器42。为了将各红外线感应器的感应信号放大，机架内还固定有一感应放大器37，感应放大器通过导线分别与各红外感应器及程序控制系统 PLC相连。权利要求1.一种半导体集成块自动测试设备，其特征在于设计一机架(24)，机架上固定了一控制面板(33)，控制面板上分别安装有启动键(1)、放料键(2)、报警灯(3)、测试键(4)、废品键(5)、正品键(6)、转换开关(7)、电源开关(8)，测试导轨(32)斜置固定于机架上，测试导轨上端固接有一放管箱(10)，测试导轨中上部位置水平对称固接有带电磁阀的左测试气缸(14)和右测试气缸(15)，测试气缸推出部分别固定左测试针座(22)、右测试针座(23)， 测试气缸下水平固接有一带电磁阀的废品挡料气缸(16)和废品气缸(17)，测试轨道表面下端固接有一出料压板(18)，出料压板将出口分为正品出料口(25)和废品出料口(26)，出料压板与放箱之间固接有一导轨压板(13)，气压减压器(9)固接于机架外，其进气口与气源连接，出口通过气管与各气缸相连，程序控制系统PLC (38)固定于机架内，通过导线与电源及各执行元件相连。2.根据权利要求1所述的一种半导体集成块自动测试设备，其特征在于导轨压板上部安装有一空管检测红外线感应器(39)，放管箱装料一侧的机架上固接一换管气缸(11)， 换管气缸推出部上固接一进料换管定位板(27)，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张世勇，陈浦晟，杜培阳，林绍芳，陈帽龙，常勇，
申请(专利权)人：张世勇，陈浦晟，杜培阳，
类型：发明
国别省市：
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