一种USB端口测试装置，其包括第一公头接口及第二公头接口，该USB端口测试装置还包括测试单元及第一母头接口。所述测试单元包括控制器、切换开关、USB环回测试模块、USB扩展连接模块及转接电路。所述转接电路与所述第一公头接口、控制器及切换开关电性连接，所述切换开关还分别与所述USB环回测试模块及USB扩展连接模块电性连接。所述USB环回测试模块另一端与所述第二公头接口电性连接，所述USB扩展连接模块另一端与所述第一母头接口电性连接。该USB端口测试装置在对机台测试时，可方便地切换USB环回测试模式及USB数据线模式，操作方便且减小因频繁拔插对USB端口的损害。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种电器测试装置，尤其涉及一种USB端口测试装置。
技术介绍
目前，工程师一般使用通用串行总线(Universal Serial Bus, USB)环回 (loopback)治具来测试机台的USB端口是否正常。所述USB环回治具一般带有第一公头接口、第二公头接口和一控制芯片。在测试USB端口时，所述USB环回治具的第一公头接口和第二公头接口分别接到机台的第一待测USB端口和第二待测USB端口上，机台发送的数据经该第一待测USB端口和该第一公头接口输出，通过该控制芯片对该数据进行转换和传输，经第二公头接口和第二待测USB端口回到该机台，检测机台发送的数据和接收的数据是否一致；然后机台再发送数据经该第二待测USB端口和该第二公头接口输出，通过该控制芯片对该数据进行转换和传输，经第一公头接口和第一待测USB端口回到该机台，检测机台发送的数据和接收的数据是否一致。若机台两次发送的数据和接收的数据始终保持一致，则判断所述两个待测USB端口均正常。在实际的测试过程中，有时发送和接收到数据不一致并非由于机台故障所致，而是由于机台软件所包含的一些文件需要升级或测试软件需要更新而导致的。此时通常需要使用移动存储设备导入相关的升级补丁或者更新文件，然后再次进行测试即可获得准确的测试结果。然而当机台上的USB端口数量较少时，可能除了正在测试的USB端口之外并没有其他的USB端口供存储升级补丁或更新文件的移动存储设备插入。此时往往需要将USB 环回治具的接口从机台的USB端口拔下以插入移动存储设备，导入升级补丁或更新文件后再拔下移动存储设备，重新插上USB环回治具进行测试，这样频繁的拔插对机台的USB端口损害较大。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种新型的USB端口测试装置，可以具备环回测试功能和扩展数据线功能，使操作更为方便。一种USB端口测试装置，其包括第一公头接口及第二公头接口，该USB端口测试装置还包括测试单元及第一母头接口 ；所述测试单元包括控制器、切换开关、USB环回测试模块、USB扩展连接模块及转接电路；所述转接电路与所述第一公头接口、控制器及切换开关电性连接，所述切换开关还分别与所述USB环回测试模块及USB扩展连接模块电性连接；所述USB环回测试模块另一端与所述第二公头接口电性连接，所述USB扩展连接模块另一端与所述第一母头接口电性连接。优选地，所述转接电路包括反向器、第一三极管及第二三极管；所述控制器电性连接至反向器的输入端，该反向器的输出端电性连接至第一三极管的基极，该第一三极管的集电极电性连接至第一公头接口，其射极电性连接至所述切换开关；该第二三极管的基极电性连接至控制器与反向器输入端之间，其集电极电性连接至第一公头接口与第一三极管射极之间，其射极电性连接至所述切换开关。优选地，所述第一三极管及第二三极管为NPN型晶体三极管。优选地，所述第一公头接口及第二公头接口分别接入机台USB端口，第一母头接口悬空，所述控制器发出低电平，第一三极管导通，第二三极管截止。优选地，所述切换开关切换至USB环回测试模块，该USB端口测试装置进行USB环回测试。优选地，所述第一公头接口接入机台USB端口，第一母头接口接入移动存储设备， 第二公头接口悬空，所述控制器发出高电平，第二三极管导通，第一三极管截止。优选地，所述切换开关切换至USB扩展连接模块，该USB端口测试装置作为USB数据线，在移动存储设备与机台间传输数据。本技术的USB端口测试装置具备环回测试功能和延长数据线功能。当在待测机台接入第一公头接口和第二公头接口，可以用于USB环回测试；当在待测机台接入第一公头接口，在第一母头接口接入移动存储设备，此时可用于普通的USB数据线，将移动存储设备与机台进行数据传输。本技术的USB端口测试装置在测试时需要导入升级补丁或者更新测试软件的文件，可切换成USB扩展连接模式，方便地插入移动存储设备导入所需文件，导入后再切换成USB环回测试模式，不必在机台USB端口频繁地拔插，操作更加方便，也有效地减小对机台USB端口的损害。附图说明图1是本技术USB端口测试装置较佳实施例的硬件架构图。图2是图1所示USB端口测试装置较佳实施例的转接电路与各元件的连接图。主要元件符号说明USB端口测试装置100第一公头接口10第二公头接口30第一母头接口50测试单元70控制器71切换开关73USB环回测试模块75USB扩展连接模块77转接电路79反向器Fl第一三极管Ql第二三极管Q2如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本技术。具体实施方式请参阅图1，本技术较佳实施例的USB端口测试装置100包括一第一公头接口 10、一第二公头接口 30、一第一母头接口 50及一测试单元70。所述第一公头接口 10、第二公头接口 30及第一母头接口 50均通过现有连接方式如数据线与测试单元70电性连接。所述测试单元70包括控制器71、切换开关73、USB环回测试模块75、USB扩展连接模块77及转接电路79。所述转接电路79—端与所述第一公头接口 10电性连接。所述控制器71电性连接至转接电路79。所述切换开关73—端与控制器71电性连接，其另一端分别与所述USB环回测试模块75及USB扩展连接模块77电性连接。所述USB环回测试模块75另一端与所述第二公头接口 30电性连接，所述USB扩展连接模块77另一端与所述第一母头接口 50电性连接。请参阅图2，该转接电路79包括一反向器F1，一第一三极管Ql及一第二三极管 Q2。本实施例中，所述第一三极管Ql及第二三极管Q2为NPN型晶体三极管。所述控制器71 电性连接至反向器Fl的输入端，该反向器Fl的输出端电性连接至第一三极管Ql的基极， 该第一三极管Ql的集电极电性连接至第一公头接口 10，其射极电性连接至切换开关73。所述第二三极管Q2的基极电性连接至控制器71与反向器Fl输入端之间，其集电极电性连接至第一公头接口 10与第一三极管Ql射极之间，其射极电性连接至切换开关73。请一并参阅图1及图2，当将该USB端口测试装置100对机台测试USB端口进行测试时，在机台的USB端口同时接入所述第一公头接口 10与第二公头接口 30，所述第一母头接口 50悬空。所述测试单元70上电，所述控制器71发出低电平，经反向器Fl输出到第一三极管Ql的基极为高电平，此时第一三极管Ql导通，第二三极管Q2截止，此时切换开关 73连接至所述USB环回测试模块75，该USB端口测试装置100对机台USB端口进行USB的环回测试。当在测试时需要导入系统的升级补丁或测试软件的更新文件时，保持第一公头接口 10与机台USB端口的连接状态，拔下接入的第二公头接口 30，再将移动存储设备(图未示)接入到所述第一母头接口 50，所述第二公头接口 30悬空。所述控制器71发出高电平， 经反向器Fl输出到第一三极管Ql的基极为低电平，此时第一三极管Ql截止，第二三极管 Q2导通，此时切换开关73连接至所述USB扩展连接模块77，该USB端口测试装置100作为 USB的延长数据线，实现移动存储设备(图未示)与机台的数据交换。当导入所需文件之后， 保持第一公头接口 10与机台USB端口的连接本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种ＵＳＢ端口测试装置，其包括第一公头接口及第二公头接口，其特征在于：该ＵＳＢ端口测试装置还包括测试单元及第一母头接口；所述测试单元包括控制器、切换开关、ＵＳＢ环回测试模块、ＵＳＢ扩展连接模块及转接电路；所述转接电路与所述第一公头接口、控制器及切换开关电性连接，所述切换开关还分别与所述ＵＳＢ环回测试模块及ＵＳＢ扩展连接模块电性连接；所述ＵＳＢ环回测试模块另一端与所述第二公头接口电性连接，所述ＵＳＢ扩展连接模块另一端与所述第一母头接口电性连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈吉宝，钟阳，黄俊，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94
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