检波器及检波方法技术

本发明专利技术提供一种检波器及检波方法。该检波器提高从输入信号检测出的包络线的针对输入信号的跟随性。根据包目标信号的输入信号来求出输出信号并进行输出的检波器具有：将所述输入信号与所述输出信号进行比较，并输出所得到的比较结果的比较器；和根据所述比较结果，对第一值以及与所述第一值符号相反的第二值赋予权重，并对所述被赋予权重的第一值及所述被赋予权重的第二值进行积分，并输出积分值作为所述输出信号的包络线生成器。所述包络线生成器具有生成根据所述输入信号的振幅来输出所述第一值的第一增益生成器。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术所公开的技术涉及对输入信号的包络线进行检测的检波器。
技术介绍
在光盘再现装置中，进行通过光拾取器从光盘读出的RF(Radic) Frequency 射频)信号的包络线检测，生成跟随RF信号的极大值的峰值信号和跟随RF信号的极小值的谷值信号。例如在专利文献1中记载有一种利用RF信号是疑似随机信号而削减了电路规模的信号振幅测量电路。在该电路中，将采用变换速度是低速的AD(Anal0g-t0-Digital 模-数)变换器经多次AD变换而得到的值中的一部分视为峰值电平或谷值电平。专利文献1 JP特开2001-167440号公报由于RF信号是模拟信号，所以当采用数字电路来构成进行RF信号的包络线检测的检波器时，需要采用进行模拟信号与数字信号之间的变换的变换器。当变换器进行变换时，由于需要某种程度的变换时间，因此有时会跟随不上输入了作为包络线而被检测出的峰值信号或谷值信号的RF信号的变化。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提高针对从输入信号检测出的包络线的输入信号的跟随性。基于本专利技术的例示的实施方式的检波器，其根据包括目标信号的输入信号来求出输出信号并进行输出，具有比较器，其将所述输入信号与所述输出信号进行比较，并输出所得到的比较结果；和包络线生成器，其根据所述比较结果，对第一值以及与所述第一值符号相反的第二值赋予权重，并对所述被赋予权重的第一值以及所述被赋予权重的第二值进行积分，且输出积分值作为所述输出信号，所述包络线生成器具有第一增益生成器，该第一增益生成器根据所述输入信号的振幅来输出所述第一值。由此，根据输入信号的振幅值，对第一值或第二值进行积分。因此，能够使针对输入信号的积分值的跟随性恰当地变化，使检波器能够进行稳定的动作。本专利技术例示的实施方式的检波方法，根据包括目标信号的信号中来求出输出信号，将所述输入信号与所述输出信号进行比较，根据所得到的比较结果，对第一值以及与所述第一值符号相反的第二值赋予权重，并对所述被赋予权重的第一值以及所述被赋予权重的第二值进行积分，且输出积分值作为所述输出信号，从所述输入信号中检测出所述目标信号的频率分量以外的频率分量即无用频率分量，当检测出所述无用频率分量时，抑制所述积分值的绝对值的增加。(专利技术效果)根据本专利技术例示的实施方式，能够根据输入信号改变从输入信号检测出的包络线 (峰值信号或谷值信号)的针对输入信号的跟随性，因此，能够根据状况进行恰当的包络线检测。附图说明图1是表示基于本专利技术的实施方式的包络线检波电路的结构的方框图。图2是表示RF信号、峰值信号及谷值信号的示例的图表。图3是表示在RF信号稳定期间的RF信号、峰值信号及比较器输出的示例的图表。图4是表示在RF信号缺欠期间的RF信号、峰值信号及比较器输出的示例的图表。图5是表示在RF信号骤然衰落期间的RF信号、峰值信号及比较器输出的示例的图表。图6是表示基于本专利技术的第一变形例的包络线检波电路的峰值检波的部分的结构的方框图。图7是图6的积分控制器具有的检测电路的电路图。图8是表示基于本专利技术的第二变形例的峰值检波电路的结构的方框图。具体实施例方式以下，针对本专利技术例示的实施方式，参照附图进行说明。在图中用后两位相同的参照号码所示出的结构要素是相互对应的，且是相同或类似的结构要素。图中的功能方框间的实线表示电连接。本专利技术中的各功能块，典型上能由硬件来实现。例如，各功能块作为IC(集成电路)的一部分而能形成于半导体基板上。其中IC包括LSI (Large-Scale Integrated circuit :^ !^] ) >ASIC(Application-Specific Integrated Circuit电路)、门阵列、FPGA(Field Programmable Gate Array :现场可编程门阵列)等。取而代之，各功能块的一部分或全部也能由软件来实现。例如，这样的功能块能够通过在处理器上执行的程序来实现。换言之，本说明书中所说明的各功能块，既可以由硬件来实现，也可以由软件来实现，且能够通过硬件与软件的任意组合来实现。(实施方式)图1是表示基于本专利技术的实施方式的包络线检波电路110的结构的方框图。图1 的包络线检波电路(检波器)110，对从光盘102读出的RF(RadiC) Frequency 射频)信号 RI的包络线进行检测，并将所检测出的包络线作为峰值信号PKE及谷值信号BTE来输出。主轴电动机104使光盘102旋转。光拾取器106读取记录在光盘102中的信号， 将与记录在光盘102中的信号相应的信号输出给RF放大器108。RF放大器108对从光拾取器106接收到的信号进行放大，并被作为RF信号RI输出给包络线检波电路110。在包络线检波电路110的输入信号即RF信号RI中，反映光盘上的伤痕或指纹、黑光 衰落 缺欠 (black · drop · out)(由于光盘上的污点等而导致的读出信号的缺欠)、记录层的剥离等的影响。此外，当读出可记录的光盘时，RF信号RI的振幅根据是否是记录完毕的区域而有很大不同。一般而言，RF信号RI包括应通过进行检波来提取其包络线的“目标信号”信号； 和具有目标信号的频率分量以外的频率分量的“噪声”。图2是表示RF信号RI、峰值信号PKE及谷值信号BTE的示例的图表。峰值信号 PKE与谷值信号BTE之差大致表示了 RF信号RI的振幅。图3是表示在RF信号RI稳定期间(图2的期间TN)的RF信号RI、峰值信号PKE及比较器输出CSP的示例的图表。在本说明书中，所谓包络线是，例如像图2的峰值信号PKE或谷值信号BTE那样，将某信号的峰值期间或谷值期间作为整体而连结的线，例如，如图3所示的具有其值暂时低于信号RI的值的期间的峰值信号PKE的波形，也包含于信号RI的包络线。图1的包络线检波电路110具有增益控制器112 ；峰值检波电路120 ；和谷值检波电路160。峰值检波电路120具有DA(Digital-t0-Anal0g)变换器(以下称为DAC) 122 ； 比较器124 ；和包络线生成器130。包络线生成器130具有启动增益(attack gain)生成器132 ；衰落增益(drop gain)生成器134 ；和运算器140。运算器140具有选择器136 ； 和积分器138。谷值检波电路160具有DAC162 ；比较器164 ；和包络线生成器170。包络线生成器170具有启动增益生成器172 ；衰落增益生成器174 ；和运算器180。运算器180具有选择器176 ；和积分器178。DAC122将所输入的峰值信号PKE(积分器138的积分值)变换为模拟信号，输出给比较器124。比较器124对RF信号RI与DAC122的输出进行比较，当RF信号RI大于 DAC122的输出时，将“1”作为比较结果CSP而输出给选择器136，当RF信号RI小于DAC122 的输出时，将“0”作为比较结果CSP而输出给选择器136(参照图3)。启动增益生成器132，将与从增益控制器112输出的增益控制信号GCP相应的值作为启动增益AGP输出给选择器136。衰落增益生成器134将与从增益控制器112输出的增益控制信号GCP相应的值作为衰落增益DGP输出给选择器136。启动增益本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种检波器，根据包括目标信号的输入信号来求出输出信号并进行输出，具有：比较器，其将所述输入信号与所述输出信号进行比较，并输出所得到的比较结果；和包络线生成器，其根据所述比较结果，对第一值以及与所述第一值符号相反的第二值赋予权重，并对所述被赋予权重的第一值以及所述被赋予权重的第二值进行积分，且输出积分值作为所述输出信号，所述包络线生成器具有第一增益生成器，该第一增益生成器根据所述输入信号的振幅来输出所述第一值。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：富川靖彦，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP