使用两波长ＯＴＤＲ及波长相关的反射元件用于得出光网络中的光路参数的方法及装置制造方法及图纸

一种从光网络中的多个与波长无关的事件中区分出一个波长相关的反射元件（ＨＲＤ）的方法，该反射元件（ＨＲＤ）在一个第一预定的波长（λ１）上是高反射性的并且在至少另一个预定波长（λ２）上是显著地较低反射的，该方法包括以下步骤：在一个第一位置处将该波长相关的反射元件（ＨＲＤ）连接到所述光路上，并且使用在远离所述反射元件的一个位置处连接到所述光路上的一个光时域反射计（２２），将在所述第一波长（λ１）与所述第二波长（λ２）上的光发射进入所述光路之中，检测来自所述光路的相应的后向反射的光并且从中获取第一和第二ＯＴＤＲ迹线（ＯＴＤＲ－λ１，ＯＴＤＲ－λ２），这两个迹线对应于作为距所述点的光学距离的函数所检测到的后向反射的光的所述第一（λ１）和第二（λ２）波长；对该第一和第二ＯＴＤＲ迹线进行比较以便把对应于所述波长相关的反射元件的一个峰值与对应于所述与波长无关的局部反射事件的多个峰值区分开，并且将所区分的峰值的至少一个参数值输出为所述波长相关的反射元件的一个参数的一种测量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
１．使用一个光时域反射计（ＯＴＤＲ）装置（２２）以及一个波长相关的反射（ＨＤＲ）元件来表征一个光网络的一个选定的光路的一个或多个参数的一种方法，所述ＯＴＤＲ与所述ＨＤＲ元件是在对应的第一和第二互相间隔开的点处连接到所述选定的光路上，所述ＨＤＲ元件在两个预定波长（λ１，λ２）之一上是高反射性的并且在这两个预定波长中的另一个上是显著地较低反射性的，这两个波长均不对应于该光路的一个正常工作波长，该方法的特征在于以下步骤：使用连接到所述选定的光路的所述第一点上的所述光时域反射计装置（２２）：将在所述两个波长（λ１）与（λ２）的每一个上的光在所述第一点处发射进入所述选定的光路之中，在所述第一点处检测在所述两个波长（λ１，λ２）的每一个上的作为时间的函数的相应的后向反射的光并且从中对应地获取第一和第二ＯＴＤＲ迹线（ＯＴＤＲ－λ１，ＯＴＤＲ－λ２），这两个迹线各自代表作为光学距离的函数的后向反射的光；对该第一和第二ＯＴＤＲ迹线进行比较以便把对应于所述ＨＲＤ元件的一个峰值与对应于波长无关的局部反射率的多个峰值区分开，并且从所述峰值得出所述ＨＲＤ元件以及在所述第一与第二互相间隔开的点之间的所述选定的光路之一或两者的一个或多个参数的值。...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：S·佩龙，
申请(专利权)人：爱斯福公司，
类型：发明
国别省市：CA