使工作频率不同的多个测试模块通过单一的同步模块所生成的同步信号而同步。提供一种测试装置，包括：同步模块，在以具有基准频率的基准时钟动作的同时，生成指定周期的同步信号；以及测试模块，以基准频率的ｎ倍频率的高频率时钟动作，基于与同步信号同步的测试周期信号测试被测试设备；测试模块具有：对同步信号进行模拟的周期模拟器；移相器，按照模拟的同步信号的相位数据与ｎ的乘积除以基准时钟的周期得到的移相相位（级）数对高频率时钟的相位进行移相；测试周期生成部，生成以移相的高频率时钟的边缘定时转化的测试周期脉冲信号及显示测试周期脉冲信号与测试周期的相位差的测试周期相位数据。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及。本专利技术特别涉及在将测试装置的功能模块化的 同时将各模块相互连接实现测试功能的测试装置中，各模块可适用不同的动作时钟的测试 装置及测试方法。本申请与下述日本申请相关联。对于承认按照文献的参照编入的指定国， 参照下述申请记载的内容编入本申请，作为本申请的一部分。专利申请2008-209079，申请日2008年8月14日。
技术介绍
在非专利文献1中，公开了一种提供柔性平台的测试装置。该测试装置可对应各 种测试功能适当组合模块，构筑或再构筑对应用途的测试功能。该测试装置中，以模块提供 各种测试功能，多个模块协同动作，测试装置整体运行。因此，需要具备使各模块同步运行 的同步功能，该同步功能以同步模块形式提供。非专利文献1 「对应多样化测试需要的“柔性平台” T2000」、、爱德万测 试株式会社，互联网(URL :http://www. advantest. co. jp/products/ate/12000/index, shtml)
技术实现思路
同步模块生成的同步信号，以同步模块的动作时钟为基准生成，其他模块根据各 模块固有的动作时钟而动作。此处同步模块及其他模块的动作时钟具有相同分辨率(频 率)时，使各模块同步一般不会产生问题。但是当包含以高于同步模块的工作频率的动作 时钟而动作的高频率模块时，实现各模块的同步则需要克服一定问题。即同步模块生成的 同步信号中包含的相位数据，与以高于同步模块的频率而动作的高频率模块的周期信号中 的相位数据不匹配，基于同步信号生成的高频率模块的周期信号，生成为偏离原来的相位 的信号。为解决上述问题，本专利技术的第1方式中提供一种测试装置，包括同步模块，在以 具有基准频率的基准时钟动作的同时生成指定周期的同步信号，作为同步信号，生成以基 准时钟的边缘定时转化的同步脉冲信号，以及显示指定周期的定时与同步脉冲信号的边缘 定时之间的相位差的同步相位数据；测试模块，以基准频率的η倍(η为1以上的整数)频 率的高频率时钟动作，根据与同步信号同步的测试周期信号测试被测试器件；其中，测试模 块包括模拟同步信号的周期模拟器；按照以周期模拟器模拟的同步相位数据与η的乘积 除以基准时钟的周期所得的位移数(段数)，将高频率时钟的相位进行移相的移相器；作为 测试周期信号，生成以移相器所移相的高频率时钟的边缘定时进行转化的测试周期脉冲信 号，以及表示测试周期信号的周期定时与测试周期脉冲信号的边缘定时之间的相位差的测 试周期相位数据的测试周期生成部。或者，提供一种测试装置，包括按照基准时钟动作输出同步信号的同步模块，该 同步信号显示将所述基准时钟作为基准测试的同步定时；以所述基准时钟的η倍(η为1以上的整数)的频率的高频率时钟进行动作的测试模块；根据所述同步信号，所述测试模块 选择应作为测试信号的基准的所述高频率时钟的边缘的相器；以所述移相器选择的所述边 缘为基准，生成显示所述测试信号的周期的测试周期信号的测试周期生成部。所述测试模块还具有对所述同步信号进行模拟的周期模拟器，作为所述同步信 号，所述同步模块生成以所述基准时钟的边缘定时转化的同步脉冲信号和显示所述同步定 时与所述同步脉冲信号的边缘定时的相位差的同步相位数据；所述移相器通过按照所述周 期模拟器模拟的同步相位数据与所述η的乘积除以所述基准时钟的周期所得的位移数将 所述高频率时钟的相位移相，选择所述边缘；作为所述测试周期信号，所述测试周期生成部 生成按照所述移相器移相的所述高频率时钟的边缘定时转化的测试周期脉冲信号及显示 所述测试周期信号的周期定时与所述测试周期脉冲信号的边缘定时的相位差的测试周期 相位数据。测试模块根据基准时钟的频率两倍的频率的高频率时钟动作，移相器在同步相位 数据为2以上时，可将高频率时钟的相位进行1相位移相。优选包括根据与基准时钟的频 率相同的频率的时钟信号动作的基准频率模块。同步模块、测试模块及基准频率模块可以 单一规格的总线相互连接。此时，测试模块及基准频率模块与来自同步模块的单一的同步 信号同步动作。第2方式中提供一种测试方法，是测试装置中应用的测试方法，该测试装置包括 同步模块，以具有基准频率的基准时钟动作的同时，生成指定周期的同步信号，作为同步信 号，生成按照基准时钟的边缘定时迁移的同步信号，以及显示指定周期的定时与同步脉冲 信号的边缘定时的相位差的同步相位数据；测试模块，以基准频率的η倍(η为1以上的整 数)频率的高频率时钟动作，根据与同步信号同步的测试周期信号测试被测试器件；该测 试方法中，测试模块包括周期模拟步骤，对同步信号进行模拟；移相步骤，按照周期模拟 步骤所模拟的同步相位数据与η的乘积除以基准时钟的周期得到的移相数，将高频率时钟 的相位进行移位；测试周期生成步骤，作为测试周期信号，生成以移相步骤被移相的高频率 时钟的边缘定时迁移的测试周期脉冲信号及显示测试周期信号的周期定时与测试周期脉 冲信号的边缘定时的相位的差测试周期相位数据。或者，提供一种测试方法，是测试装置中应用的测试方法，该测试装置包括同步 模块，以基准时钟动作，输出显示以所述基准时钟作为基准测试的同步定时的同步信号；测 试模块，以所述基准时钟的η倍(η为1以上的整数)频率的高频率时钟动作；该测试方法 中所述测试模块中，包括移相步骤，根据所述同步信号选择应作为测试信号的基准的所述 高频率时钟的边缘；测试周期生成步骤，将所述移相步骤选择的所述边缘作为基准，生成显 示所述测试信号的周期的测试周期信号。所述测试模块中，还包括对所述同步信号进行模拟的周期模拟步骤；作为所述同 步信号，所述同步模块生成以所述基准时钟的边缘定时转化的同步脉冲信号、和显示所述 同步定时与所述同步脉冲信号的边缘定时的相位差的同步相位数据；所述移相步骤中，通 过按照所述周期模拟步骤模拟的同步相位数据与所述η的乘积除以所述基准时钟的周期 得到的位移数将所述高频率时钟的相位移相，选择所述边缘；所述测试周期生成步骤中，作 为所述测试周期信号，生成以在所述移相步骤被移相的所述高频率时钟的边缘定时转化的 测试周期脉冲信号及显示所述测试周期信号的周期定时与所述测试周期脉冲信号的边缘定时的相位差的测试周期相位数据。所述测试模块可以根据所述基准时钟的频率的两倍频率的高频率时钟动作，所述 移相步骤中，所述同步相位数据为2以上时将所述高频率时钟的相位进行1相位移相。还 可以具有根据与所述基准时钟的频率相同频率的时钟信号，使基准频率模块动作的步骤。 所述同步模块、所述测试模块及所述基准频率模块可通过单一规格的总线相互连接，根据 所述同步模块输出的所述同步信号，通过所述总线使所述测试模块及所述基准频率模块同 步。所述测试模块及所述基准频率模块可与来自所述同步模块的单一的所述同步信号同步 动作。另外，上述专利技术的概要，并未列举本专利技术的必要特征的全部。所述特征群的次级组 合也可构成专利技术。附图说明图1与被测试器件200共同示出的本实施方式的测试装置100的功能块示意图图2表示同步模块120与高频率模块140的动作定时的一例。图3表示同步模块120与高频率模块140的动作定时的另一例。图4表示同步模块120与高频率模块140的动作定时的另一例。附图标记说明100测试装置110控制部120同本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种测试装置，其特征在于包括：同步模块，按照基准时钟动作，输出显示将所述基准时钟作为基准的测试的同步定时的同步信号；测试模块，以所述基准时钟的ｎ倍频率的高频率时钟动作，ｎ为１以上的整数；所述测试模块具有：移相器，根据所述同步信号选择应作为测试信号的基准的所述高频率时钟的边缘；测试周期生成部，将被所述移相器选择的所述边缘作为基准，生成显示所述测试信号的周期的测试周期信号。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：秋田德则，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：JP
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