光电传感器及光电传感器系统技术方案

得到一种光电传感器及光电传感器系统，即使检测体非常薄，也能够不受到外部干扰的影响而正确地检测出检测体。本发明专利技术的一种光电传感器，具有投光部与受光部，根据受光部的受光信号的强度变化来检测出投光部与受光部之间是否有检测体。该受光部接收从该投光部不与该检测体交叉地到达该受光部的投光信号、和从该投光部与该检测体交叉地到达该受光部的投光信号，并与该投光部的投光定时信号同步地动作。并且，比较没有因该检测体而衰减的受光信号和因该检测体而衰减的受光信号的电平差，检测出检测体的有无信息。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种光电传感器及光电传感器系统，根据在投光元件与受光元件之间 有检测体时的受光信号电平之差来检测出是否有检测体。
技术介绍
在根据投光元件与受光元件之间有检测体时的受光信号电平之差来检测出是否 有检测体的光电传感器及光电传感器系统中，成对的投光元件与受光元件一般配置成从投 光元件至受光元件的光路与检测体的轴线平行。然而，在检测体的厚度薄的情况下，例如检 测体是薄平板的情况下，与检测体的轴线平行的光路不会被该检测体遮挡，因而无法检测 出检测体。因此，在日本特开平8-148981号公报(专利文献1)，提出了一种检测方法，在多 个投光部与受光部相对向配置的多光轴光电传感器中，利用配置于与发出投光信号的投光 部不同的级的受光部来进行检测。根据此方法，因为从投光部至受光部的光路与水平方向具有角度，即倾斜，所以即 使薄平板状的检测体配置成其轴线水平，光路也被检测体遮挡而可实现该检测。专利文献1 日本特开平8-148981号公报
技术实现思路
然而，在检测体非常薄的情况下，有该专利文献1所公开的方法也无法检测的情 况。此外，即使检测体遮挡光路，如果检测体是半透明，则受光部的受光电平的变化小，受到 受光部周边的照明或反射光等干扰的影响，存在检测结果不正确的问题。因此，本专利技术的目的在于提供一种光电传感器及光电传感器系统，即使检测体非 常薄，也能够不受到外部干扰的影响而正确地检测出检测体。本专利技术的第一种光电传感器，具有投光部和受光部，根据受光部的受光信号的强 度变化而检测出是否有投光部与受光部之间的检测体。上述受光部接收从上述投光部没有 与上述检测体交叉地到达上述受光部的投光信号和从上述投光部与上述检测体交叉地到 达上述受光部的投光信号，并与上述投光部的投光定时信号同步动作。并且，比较没有因上 述检测体而衰减的受光信号与因上述检测体而衰减的受光信号的电平差，检测出检测体的 有无信息。也可以在上述投光部的投光定时进行上述电平差的比较。上述受光部具有第1受光元件，接收从上述投光部不与上述检测体交叉地到达 上述受光部的投光信号；和第2受光元件，接收从上述投光部与上述检测体交叉地到达上 述受光部的投光信号，上述第1受光元件和第2受光元件与上述投光部的投光定时信号同 步动作。并且，对由上述第1受光元件接收的没有因上述检测体而衰减的受光信号、与由上 述第2受光元件接收的因上述检测体而衰减的受光信号的电平差进行比较，检测出上述检 测体的有无信息。此外，由两个受光元件接收来自一个投光元件的投光信号，在以下的说明 有时将此方式称为第一光电传感器。上述受光部具有第1投光元件，被配置为投光信号不与上述检测体交叉地到达 上述第1受光元件，并与上述检测体交叉地到达上述第2受光元件；和第2投光元件，被配 置为投光信号不与上述检测体交叉地到达上述第2受光元件，并与上述检测体交叉地到达 上述第1受光元件。此外，将上述第1投光元件与上述第1受光元件的一对、及上述第1投 光元件与上述第2受光元件的一对设为第1组，将上述第2投光元件与上述第1受光元件 的一对、及上述第2投光元件与上述第2受光元件的一对设为第2组，在上述第1组中，比 较没有因上述检测体而衰减的上述第1受光元件的受光信号与因上述检测体而衰减的上 述第2受光元件的受光信号的电平差，检测出上述检测体的有无信息，并且，在上述第2组 中，比较因上述检测体而衰减的上述第1受光元件的受光信号与没有因上述检测体而衰减 的上述第2受光元件的受光信号的电平差，检测出上述检测体的有无信息。并且，根据从上 述第1组获得的上述检测体的有无信息和从上述第2组获得的上述检测体的有无信息双重 地对照检测出检测体的有无信息。此时，在上述第1投光元件的投光定时进行上述第1组的上述电平差的比较，并且 在上述第2投光元件的投光定时进行上述第2组的上述电平差的比较。此外，在上述投光部具有第1及第2投光元件，并具有上述第1及第2组的情况 下，也可根据在上述第1组获得的上述检测体的有无信息和在上述第2组获得的上述检测 体的有无信息双重地对照上述检测体的有无信息，在没有检测出上述检测体的有无的情况 下，检测出上述检测体的异常状态及/或传感器故障。并且，也可多级地构成上述光电传感 器，检测多个上述检测体，也可共用上述第2组中的上述第2投光元件、及针对另一个检测 体的上述第1组中的上述第1投光元件，上述另一个检测体与进行上述第2组的检测的检 测体相邻。上述投光部具有第1投光元件，投射不与上述检测体交叉地到达上述受光部的 投光信号；和第2投光元件，投射与上述检测体交叉地到达上述受光部的投光信号。对接收 来自上述第1投光元件的没有因上述检测体而衰减的投光信号而产生的分时受光信号、与 接收来自上述第2投光元件的因上述检测体而衰减的投光信号而产生的另一个分时受光 信号的电平差进行比较，检测出上述检测体的有无信息。在此情况下，由一个受光元件接收 来自两个不同的投光元件的投光信号，在以下的说明中，有时将此方式称为第二光电传感 器。此外，虽从一个受光元件产生两个受光信号，但受光信号被分为从一个投光元件受光的 受光时间与从另一个投光元件受光的受光时间，即进行分时受光，而其中前者的受光时间 称为分时受光信号，并将后者的受光时间称为另一个分时受光信号。上述受光部具有第1受光元件，接收来自上述第1投光元件的没有因上述检测体 而衰减的投光信号及来自上述第2投光元件的因上述检测体而衰减的投光信号；和第2受 光元件，接收来自上述第2投光元件的没有因上述检测体而衰减的投光信号及来自上述第 1投光元件的因上述检测体而衰减的投光信号。将上述第1投光元件与上述第1受光元件 的一对、及上述第2投光元件与上述第1受光元件的一对设为第1组，将上述第2投光元件 与上述第2受光元件的一对、及上述第1投光元件与上述第2受光元件的一对设为第2组， 在上述第1组中，比较没有因上述检测体而衰减的上述第1受光元件的分时受光信号与因 上述检测体而衰减的上述第1受光元件的另一个分时受光信号的电平差，检测出上述检测 体的有无信息，并且，在上述第2组中，比较因上述检测体而衰减的上述第2受光元件的分时受光信号与没有因上述检测体而衰减的上述第2受光元件的另一个分时受光信号的电 平差，检测出上述检测体的有无信息，根据从上述第1组获得的上述检测体的有无信息和 从上述第2组获得的上述检测体的有无信息双重地对照检测出检测体的有无信息。并且， 也可以在上述第1投光元件及上述第2投光元件的分时投光定时进行上述电平差的比较。此外，也可在上述的任一种情况下，将成对的上述投光部与上述受光部单元化。本专利技术的一种光电传感器系统，具有多个任一种上述光电传感器，并具有与一系 列上述投光部连接的第1管理子站和与上述投光部所对应的一系列上述受光部连接的第2 管理子站。并且，上述第1管理子站产生上述投光定时信号，上述第2管理子站产生与上述 投光定时信号同步的受光信号的定时信号。此外，本专利技术的光电传感器系统中，多个一系列上述投光部和一系列上述受光部 与共同的数据信号线连接，向上位母站传递上述检测体的有无信息、上述检测体的异常状 态及/或传感器故障信息。并且，本专利技术的光电传感器系统中，在具备上述投光部具有第1及第2投光元件 本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种光电传感器，其特征在于，具有投光部和受光部，根据受光部的受光信号的强度变化而检测出是否有投光部与受光部之间的检测体，上述受光部接收从上述投光部不与上述检测体交叉地到达上述受光部的投光信号和从上述投光部与上述检测体交叉地到达上述受光部的投光信号，并与上述投光部的投光定时信号同步动作，比较没有因上述检测体而衰减的受光信号与因上述检测体而衰减的受光信号的电平差，检测出检测体的有无信息。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：斋藤善胤，
申请(专利权)人：株式会社恩尼怀尔，
类型：发明
国别省市：JP