本发明专利技术涉及分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序。具备在内部配置试料（Ｓ）的积分球（２０）、通过入射开口部（２１）将激励光供给到积分球（２０）的内部的照射光供给部（１０）、在积分球（２０）的内部保持试料（Ｓ）的试料容器（４００）、对来自出射开口部（２２）的被测定光进行分光并取得波长光谱的分光分析装置（３０）、对波长光谱进行数据解析的数据解析装置（５０），从而构成分光测定装置（１Ａ）。数据解析装置（５０）具有取得考虑了由试料容器（４００）引起的光的吸收的波长光谱的修正数据的修正数据取得部、修正波长光谱并且进行解析从而取得试料信息的试料信息解析部。由此，实现了可以适宜地进行在积分球内被保持于试料容器的试料的分光测定的分光测定装置、测定方法以及测定程序。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及具备积分球的分光测定装置、以及使用分光测定装置执行的分光测定 方法、分光测定程序。
技术介绍
为了测定从试料发出的光的强度而使用积分球。积分球的内壁由具有高反射率并 且在扩散性方面表现卓越的涂层或者材料制造，入射到内壁面的光被多重扩散反射。而且， 该被扩散的来自试料的光通过被设置于积分球的规定位置的出射开口部而被入射到光检 测器并被检测，由此，不依赖于试料中的发光模式、发光的角度特性等，能够高精度地取得 试料中的发光的强度等的信息(例如参照专利文献1)。作为使用积分球的成为测定的对象的试料的一个例子，存在有机EL(电致发光， electroluminescence)元件。有机EL元件一般是具有在由玻璃或者透明的树脂材料构成 的基板上层叠有阳极、包含发光层的有机层以及阴极的构造的发光元件。通过从阳极注入 的空穴和从阴极注入的电子在发光层中进行再结合而产生光子，从而发光层发光。在有机EL元件的发光特性的测定以及评价中，外部量子效率等是重要的，该外部 量子效率由被放出至元件外部的光子数相对于所注入的电子数的比例定义。另外，在有机 EL元件中所使用的发光材料的测定以及评价中，发光量子收率(内部量子效率)是重要的， 该发光量子收率由来自试料的发光的光子数相对于试料所吸收的激励光的光子数的比例 定义。使用积分球的光测定装置也能够适宜地运用于这样的有机EL元件中的量子效率的 评价中。专利文献专利文献1 日本特开2003-215041号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的问题近年来，在下一代显示器和下一代照明的研究开发中，从所谓电力低消耗化的观 点出发，为了提高有机EL元件等的发光元件的发光效率，用于发光元件的发光材料的发光 量子收率的评价的重要性增加。作为这样的发光量子收率的评价方法，是使用具备上述的 积分球的光测定装置，并由光致发光(photoluminescence =PL)法测定发光材料的绝对发 光量子收率的方法。具体来说，在由PL法得到的发光量子收率的评价中，对被配置于积分球内的发光 材料的试料照射规定波长的激励光，并测定由来自试料的荧光等的发光的光子数相对于试 料所吸收的激励光的光子数的比例定义的发光量子收率Φρρ另外，关于该量子收率，可以 使用基于在没有试料的状态下将试料容器配置于积分球内并进行测定的参照(reference) 测定以及在积分球内在试料被保持于试料容器中的状态下进行测定的样品测定的测定结 果而求得的方法。本申请专利技术人对这样的试料的分光测定进行研究探讨，结果发现了 在使用积分 球的测定中，由于内壁上的光的多重反射而使激励光或者来自试料的发光等多重地通过试 料容器，由此取得的试料信息的精度可能发生下降。在此情况下，不能够无视由试料容器引 起的光的吸收的影响，起因于该吸收率(透过率)的波长依赖性等而在发光量子收率等的 解析结果中产生误差。本专利技术是为了解决以上的问题而悉心研究的结果，以供给一种可以适宜地进行关 于积分球内被保持于试料容器中的试料的分光测定的分光测定装置、分光测定方法以及分 光测定程序为目的。解决问题的技术手段为了达成这样的目的，本专利技术的分光测定装置的特征在于，具备(1)在内部配置 测定对象的试料并具有用于入射被照射于试料的激励光的入射开口部以及用于出射来自 试料的被测定光的出射开口部的积分球；(2)作为通过入射开口部而被供给到积分球的内 部的照射光而供给激励光的照射光供给单元；C3)在积分球的内部将试料保持在规定位置 上的试料容器；(4)对从积分球的出射开口部出射的被测定光进行分光，并取得其波长光 谱的分光单元；以及( 对由分光单元取得的波长光谱进行数据解析的数据解析单元，(6) 数据解析单元具有取得用于考虑由试料容器引起的激励光或者被测定光的至少一者的吸 收而修正波长光谱的修正数据的修正数据取得单元、以及由修正数据修正波长光谱并且解 析被修正了的波长光谱从而取得关于试料的信息的试料信息解析单元。另外，本专利技术的分光测定方法的特征在于，是一种使用具备(1)在内部配置测定 对象的试料并具有用于入射被照射于试料的激励光的入射开口部以及用于出射来自试料 的被测定光的出射开口部的积分球、(2)作为通过入射开口部而被供给到积分球的内部的 照射光而供给激励光的照射光供给单元、( 在积分球的内部将试料保持在规定位置上的 试料容器、以及(4)对从积分球的出射开口部出射的被测定光进行分光并取得其波长光谱 的分光单元的分光测定装置，( 对由分光单元所取得的波长光谱进行数据解析的分光测 定方法，(6)具备取得用于考虑由试料容器引起的激励光或者被测定光的至少一者的吸 收而修正波长光谱的修正数据的修正数据取得步骤、以及由修正数据修正波长光谱并且解 析被修正了的波长光谱从而取得关于试料的信息的试料信息解析步骤。另外，本专利技术的分光测定程序的特征在于，是一种应用于具备(1)在内部配置测 定对象的试料并具有用于入射被照射于试料的激励光的入射开口部以及用于出射来自试 料的被测定光的出射开口部的积分球、(2)作为通过入射开口部而被供给到积分球的内部 的照射光而供给激励光的照射光供给单元、( 在积分球的内部将试料保持在规定位置上 的试料容器、以及(4)对从积分球的出射开口部出射的被测定光进行分光并取得其波长光 谱的分光单元的分光测定装置，( 用于在计算机中执行对由分光单元所取得的波长光谱 的数据解析的程序，(6)在计算机中执行取得用于考虑由试料容器引起的激励光或者被测 定光的至少一者的吸收而修正波长光谱的修正数据的修正数据取得处理、以及由修正数据 修正波长光谱并且解析被修正了的波长光谱从而取得关于试料的信息的试料信息解析处 理。在以上所述的分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序中，使用设置有激 励光入射用的开口部以及被测定光出射用的开口部并以可以由光致发光法测定试料的发光特性的方式构成的积分球、以可以由波长光谱区别激励光以及来自试料的发光的方式对 被测定光进行分光测定的分光单元，构成分光测定装置。而且，关于在积分球内保持试料的 试料容器，准备考虑了由试料容器引起的光的吸收的修正数据，并在用该修正数据修正波 长光谱之后，进行波长光谱的解析以及试料信息的导出。由此，即使在不能够无视由试料容 器引起的光的吸收的影响的情况下，也能够抑制在发光量子收率等的解析结果中所产生的 误差，从而能够适宜且高精度地进行试料的分光测定。专利技术的效果根据本专利技术的分光测定装置、测定方法以及测定程序，对具有积分球和分光单元 的分光测定装置，准备考虑了由在积分球内保持试料的试料容器而引起的光的吸收的修正 数据，并在由该修正数据修正波长光谱之后，进行波长光谱的解析以及试料信息的导出，从 而即使在不能够无视由试料容器引起的光的吸收的影响的情况下，也能够适宜地进行试料 的分光测定。附图说明图1是示意性地表示分光测定装置的一个实施方式的构成的图。图2是表示积分球的构成的一个例子的截面图。图3是表示积分球的构成的一个例子的截面图。图4是表示数据解析装置的构成的一个例子的方块图。图5是示意性地表示关于由试料容器引起的光的吸收的图。图6是表示透过率测定模式下的测定装置的动作例的流程图。图7是表示波长调整模式下的测定装置的动作例的流程图。图8是本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种分光测定装置，其特征在于， 具备： 积分球，在内部配置测定对象的试料，具有用于入射被照射于所述试料的激励光的入射开口部以及用于出射来自所述试料的被测定光的出射开口部； 照射光供给单元，供给所述激励光作为通过所述入射开口部被供给到所述积分球的内部的照射光； 试料容器，在所述积分球的内部将所述试料保持在规定位置上； 分光单元，对从所述积分球的所述出射开口部出射的所述被测定光进行分光，并取得其波长光谱；以及 数据解析单元，对由所述分光单元取得的所述波长光谱进行数据解析， 所述数据解析单元具有： 修正数据取得单元，取得修正数据，该修正数据用于考虑由所述试料容器引起的所述激励光或者所述被测定光的至少一者的吸收而修正所述波长光谱；以及 试料信息解析单元，由所述修正数据修正所述波长光谱，并且解析被修正了的波长光谱，从而取得关于所述试料的信息。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：井口和也，
申请(专利权)人：浜松光子学株式会社，
类型：发明
国别省市：JP
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