光盘设备、其控制方法、程序以及信息记录介质技术

本发明专利技术提供了能够在从光盘介质中读取信息的操作期间校正控制参数的值的光盘设备。在与关于预定控制参数设置的值相对应的工作条件下读取记录在光盘介质上的信息的光盘设备，其中，装置通过在正在进行从光盘介质中读取信息的操作期间重复执行如下处理：关于预定控制参数的两个值，分别获取指示从光盘介质中读取信息的精度的评估值，以及根据两个所获取评估值更新预定控制参数的值，以便校正控制参数的值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及读取记录在诸如⑶、DVD、和蓝光盘(注册商标)的光盘介质上的信息的光盘设备、控制光盘设备的方法、程序以及信息存储介质。
技术介绍
近年来，各种各样的光盘介质被用作信息记录介质。光盘设备用于读取记录在这样光盘介质上的信息。光盘设备包括用光照射光盘介质以检测来自光盘介质的反射光的光学拾取器。光盘设备控制关于光盘介质的表面相对地移动光学拾取器的驱动系统将光学拾取器移动到可以读取信息的位置。这样，光盘设备从光盘介质中读取信息。当光盘设备控制诸如光学拾取器和驱动系统的各个部分从光盘介质中读取信息时，设置与控制有关的各种控制参数。那些控制参数的一个示例是与物镜的球面像差校正有关的参数(下文称为SA参数)。例如，在光学拾取器内部，配备了准直透镜，以便校正用于将光线聚焦在光盘介质上的物镜的球面像差。然后，通过按照SA参数的设置值适当调整准直透镜的位置，使物镜的球面像差得到校正，结果是，可以高精度地将来自物镜的光线聚焦在光盘介质上。如上所述，通过为诸如SA参数的控制设备设置适当值，并且在与设置值对应的工作条件下控制设备的各个部分，可以在从光盘介质中读取信息的精度方面改进光盘设备。要为那些控制参数设置的值根据作为读取目标的光盘介质的类型、独特可变性等而改变。因此，当重新将光盘介质放置在设备内部时，光盘设备在开始读取信息之前首先进行调整控制参数的处理(例如，参见专利文献1)。尤其，这种调整处理牵涉到如下控制。也就是说，光盘设备首先在可指定范围内改变控制参数的设置值，并且通过设置几个设置值来尝试从介质中读取信息，从而评估相应信息读取精度。然后，通过使用为多个设置值的每一个获得的读取精度的评估值，计算这样可以提高信息读取精度的控制参数的设置值(调整值)，并且将计算值设置成预定控制参数的值。现有技术文件专利文件专利文件JP 4001024B
技术实现思路
当重新将光盘介质放置在设备内部时，对控制参数的上述调整处理通常只进行一次。然而，在一些情况下，控制参数的所希望设置值在设备正在使用的时候发生变化。例如， 取决于物镜的材料等，在正在使用光盘设备的同时，当温度发生了变化时，物镜的透镜特性也发生变化。其结果是，SA参数的最佳设置值也发生变化。但是，对控制参数进行上述调整处理要花费一些时间。因此，如果在设备正在使用的同时执行这样的调整处理，则可能使信息读取操作中止。本专利技术就是在考虑了上述情况之后作出的，并且本专利技术的目的在于提供能够在从光盘介质中读取信息的操作期间校正控制参数的值的光盘设备，以及提供控制该光盘设备的方法、程序、和信息存储介质。进一步，本专利技术的另一个目的在于提供能够在设备正在使用的同时，在相对较短时间间隔内校正控制参数的设置值的光盘设备，以及提供控制该光盘设备的方法、程序、和信息存储介质。按照本专利技术，提供了在与关于预定控制参数设置的值对应的工作条件下，读取记录在光盘介质上的信息的光盘设备，所述光盘设备包括校正部分，用于通过在正在进行从光盘介质中读取信息的操作的同时重复执行如下处理，校正预定控制参数的值关于预定控制参数的两个值，分别获取指示从光盘介质中读取信息的精度的评估值；以及根据两个所获取评估值更新预定控制参数的值。在上述光盘设备中，所述校正部分可以根据分别关于预定控制参数的两个值获取的两个评估值之间的幅度关系，确定增大还是减小预定控制参数的值。在上述光盘设备中，所述校正部分可以关于控制参数的两个值的每一个获取多个评估值，并且基于比较为两个值的每一个获取的多个评估值的结果，更新预定控制参数的值。在上述光盘设备中，所述校正部分可以获取根据通过从光盘介质中读取信息的操作获得的再现信号计算的值，作为评估值之一。按照本专利技术，还提供了控制在与关于预定控制参数设置的值对应的工作条件下， 读取记录在光盘介质上的信息的光盘设备的方法，所述方法包括通过在正在进行从光盘介质中读取信息的操作的同时重复执行如下处理，校正预定控制参数的值关于预定控制参数的两个值，分别获取指示从光盘介质中读取信息的精度的评估值；以及基于两个所获取评估值更新预定控制参数的值。按照本专利技术，还提供了其中存储着控制在与关于预定控制参数设置的值相对应的工作条件下，读取记录在光盘介质上的信息的光盘设备的程序的计算机可读信息存储介质，所述程序使计算机起校正部分的作用，所述校正部分用于通过在正在进行从光盘介质中读取信息的操作的同时重复执行如下处理，校正预定控制参数的值关于预定控制参数的两个值，分别获取指示从光盘介质中读取信息的精度的评估值；以及基于两个所获取评估值更新预定控制参数的值。按照本专利技术，还提供了在与关于预定控制参数设置的值对应的工作条件下，读取记录在光盘介质上的信息的光盘设备，所述光盘设备包括测量单元，用于测量所述光盘设备内部的温度；第一校正部分，用于通过评估从光盘介质中读取信息的精度，校正预定控制参数的值；第二校正部分，用于根据所述测量单元测量的温度和预定常数值校正预定控制参数的值；以及校正控制部分，用于在开始从光盘介质中读取信息之后的每个预定定时有选择地使所述第一校正部分和所述第二校正部分的任意一个进行预定控制参数的值的校正。在上述光盘设备中，所述校正控制部分可以在与所述测量单元测量的温度的变化相对应的每个定时使预定控制参数的值的校正被执行。进一步，在上述光盘设备中，所述校正控制部分可以在所述测量单元测量到预定温度变化之后第一次满足与读取操作有关的预定条件的每个定时使得预定控制参数的值的校正被执行。在光盘设备中，所述校正控制部分可以在使所述第二校正部分进行预定次数校正之后使所述第一校正部分进行校正。按照本专利技术，还提供了控制在与关于预定控制参数设置的值对应的工作条件下， 读取记录在光盘介质上的信息的光盘设备的方法，所述光盘设备包括测量所述光盘设备内部的温度的测量单元，所述方法包括在开始从光盘介质中读取信息之后的每个预定定时通过第一校正处理和第二校正处理的任意一种有选择地校正预定控制参数的值，所述第一校正处理包括通过评估从光盘介质中读取信息的精度，校正预定控制参数的值，所述第二校正处理包括基于所述测量单元测量的温度和预定常数值校正预定控制参数的值。按照本专利技术，还提供了其中存储着控制在与关于预定控制参数设置的值对应的工作条件下，读取记录在光盘介质上的信息的光盘设备的程序的计算机可读信息存储介质， 所述光盘设备包括测量所述光盘设备内部的温度的测量单元，所述程序使计算机起如下作用第一校正部分，用于通过评估从光盘介质中读取信息的精度，校正预定控制参数的值； 第二校正部分，用于基于所述测量单元测量的温度和预定常数值校正预定控制参数的值; 以及校正控制部分，用于在开始从光盘介质中读取信息之后的每个预定定时有选择地使所述第一校正部分和所述第二校正部分的任意一个执行预定控制参数的值的校正。附图说明图1是例示按照本专利技术实施例的光盘设备的配置示例的框图；图2是例示按照本专利技术实施例的光盘设备的光学拾取器的内部配置示例的示意图；图3是示出控制参数的设置值与评估值之间的关系的示例的曲线图；图4是例示按照本专利技术第一实施例的光盘设备的功能的示例的功能框图；图5是示出温度变化与控制参数的设置值之间的关系的示例的曲线图；图6是例示按照本专利技术第二实施例的光盘设备执行的校正处理的流程的本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种在与关于预定控制参数设置的值对应的工作条件下，读取记录在光盘介质上的信息的光盘设备，所述光盘设备包括校正部分，用于通过在正在进行从光盘介质中读取信息的操作的同时重复执行如下处理，校正预定控制参数的值：关于预定控制参数的两个值，分别获取指示从光盘介质中读取信息的精度的评估值；以及基于两个所获取评估值更新预定控制参数的值。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：西形尚之，
申请(专利权)人：索尼计算机娱乐公司，
类型：发明
国别省市：JP