本发明专利技术公开了一种颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置，包括支架，放置在所述支架上、且用于放置颗粒的装料槽，所述支架用于支撑并旋转装料槽；在所述装料槽的末端，设有用于同时输出颗粒的质量与电量的天平、法拉第筒及静电计，所述法拉第筒放置在天平上，所述静电计通过导线与法拉第筒连接。本发明专利技术所述颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置，可以克服现有技术中无法测量及分析摩擦带电量等缺陷，以实现能够测量及分析摩擦带电量的优点。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及摩擦电测量及分析技术，具体地，涉及一种颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置。
技术介绍
任何两个物体摩擦，都可以起电。18世纪中期，美国科学家富兰克林经过分析和研究，认为有两种性质不同的电，叫做正电和负电。物体因摩擦而带的电，不是正电就是负电。比如与用丝绸摩擦过的玻璃棒所带的电是为正电；与用毛皮摩擦过的橡胶棒带的电为负电。摩擦电是一个经典现象，特别是人们现在发现看似相同化学成分组成的颗粒物质的摩擦也会带电。然而，目前没有一种测量颗粒摩擦带电量的仪器，更没有办法分析滚动摩擦、滑动摩擦对带电量的影响。在实现本专利技术的过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在无法测量及分析摩擦带电量等缺陷。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，针对上述问题，提出一种颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置， 以实现能够测量及分析摩擦带电量的优点。为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是一种颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置，包括支架，放置在所述支架上、且用于放置颗粒的装料槽，所述支架用于支撑并旋转装料槽；在所述装料槽的末端，设有用于同时输出颗粒的质量与电量的天平、法拉第筒及静电计，所述法拉第筒放置在天平上，所述静电计通过导线与法拉第筒连接。进一步地，所述支架包括水平设置的底座，垂直设置在所述底座上方的螺杆，以及水平设置在所述螺杆顶端的回转定杆。进一步地，所述支架，还包括设置在所述螺杆与回转定杆之间、且用于调整回转螺杆高度的螺母。进一步地，所述回转定杆，包括长方形本体，以及水平对称设置在所述长方形本体的长度方向一端的一对连接条；在所述长方形本体上靠近一对连接条处，对称开设有用于与螺杆连接的一对螺纹孔；在所述一对连接条的末端，对称开设有用于与转轴连接的一对转轴连接孔。进一步地，所述装料槽，包括与所述回转定杆配合连接的转轴，与所述转轴转动式连接的回转体，以及设置在所述回转体上方的料槽。进一步地，在所述回转定杆与回转体之间，还设有用于固定回转体位置的锁紧螺栓。进一步地，所述料槽的横截面为“凹”形；在所述料槽的“凹”形内表面，可根据测量要求铺设沙床。3进一步地，所述回转定体，包括与回转定杆相匹配、且用于与转轴连接的一对转轴连接孔，用于放置料槽的凹槽，以及对称设置、且用于将料槽固定在凹槽内部的一对卡件。本专利技术各实施例的颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置，由于包括支架，放置在支架上、且用于放置颗粒的装料槽，支架用于支撑并旋转装料槽；在所述装料槽的末端，设有用于同时输出颗粒的质量与电量的天平、法拉第筒及静电计，法拉第筒放置在天平上，静电计通过导线与法拉第筒连接；可以测量同种材料颗粒滚动摩擦带电量，测量同种材料颗粒滑动摩擦带电量，以及测量同种材料颗粒流摩擦带电量；从而可以克服现有技术中无法测量及分析摩擦带电量的缺陷，以实现能够测量及分析摩擦带电量的优点。本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。下面通过附图和实施例，对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。附图说明附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中图1为根据本专利技术颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置的局部剖视图的结构示意图； 图加和图2b为根据本专利技术颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置中回转定杆的结构示意图3a和图北为根据本专利技术颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置中回转体的结构示意图如和图4b为根据本专利技术颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置中料槽的结构示意图。结合附图，本专利技术实施例中附图标记如下1-底座；2-回转顶杆；3-螺杆；4-螺母；5-转轴；6-锁紧螺栓；7-回转体；8-料槽； 9-沙床；10-内筒；11-外筒；12-导线；13-电子称；14-静电计。具体实施例方式以下结合附图对本专利技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。根据本专利技术实施例，提供了一种颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置。如图1-图4b 所示，本实施例包括支架，放置在支架上、且用于放置颗粒的装料槽8，支架用于支撑并旋转装料槽8 ；在装料槽8的末端，设有用于同时输出颗粒的质量与电量的天平、法拉第筒及静电计14，法拉第筒放置在天平上，静电计14通过导线12与法拉第筒连接。这里，法拉第筒与天平的个数均为多个，每个法拉第筒包括位于外侧的外筒11、以及位于内侧的内筒10 ；外筒11与相应的天平接触；天平为电子称13。在上述实施例中，上述支架包括水平设置的回转定杆2，垂直设置在回转定杆2上方的螺杆3，以及水平设置在螺杆3顶端的回转定杆2 ；还包括设置在螺杆3与回转定杆2 之间、且用于调整回转螺杆3高度的螺母4。可见，支架由回转定杆2、回转定杆2和螺杆3 组成，通过螺母4调整回转定杆2的高度。其中，上述回转定杆2，包括长方形本体，以及水平对称设置在长方形本体的长度方向一端的一对连接条；在长方形本体上靠近一对连接条处，对称开设有用于与螺杆3连接的一对螺纹孔；在一对连接条的末端，对称开设有用于与转轴5连接的一对转轴5连接孔。在上述实施例中，上述装料槽8，包括与回转定杆2配合连接的转轴5，与转轴5转动式连接的回转体7，以及设置在回转体7上方的料槽8 ；在回转定杆2与回转体7之间，还设有用于固定回转体7位置的锁紧螺栓6 ；料槽8的横截面为“凹”形；在料槽8的“凹”形内表面，可根据测量要求铺设沙床9。可见，装料槽8由回转体7和料槽8组成，回转体7可围绕转轴5转动，通过锁紧螺栓6可固定回转体7的位置。其中，上述回转定体，包括与回转定杆2相匹配、且用于与转轴5连接的一对转轴5 连接孔，用于放置料槽8的凹槽，以及对称设置、且用于将料槽8固定在凹槽内部的一对卡件。上述实施例的颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置，由支架支撑装料槽8，颗粒放置在装料槽8中，通过调节装料槽8与水平方向的夹角实现颗粒流在重力作用下流动，从装料槽8末端流出，流出的颗粒正好进入装料槽8末端的法拉第筒中，法拉第筒置于天平上并与静电计14连接，将颗粒质量和电量同时输出，可测量颗粒摩擦电的荷质比，通过颗粒的大小、形状以及数量，以及装料槽8内侧的材料，来实现同种材料或异种材料颗粒、以及颗粒流摩擦带电量的测量，以及滚动摩擦、滑动摩擦带电量的测量。具体实施时，固定回转定杆2到合适的位置，将回转体7水平固定，颗粒平铺在料槽8中，松开锁紧螺母4，顺时针转动回转体7到合适位置固定，颗粒将沿沙床9表面滑出， 最终落入发拉第筒中，通过静电计14和电子称13测得颗粒带电量及其质量。综上所述，本专利技术各实施例的颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置，由于包括支架， 放置在支架上、且用于放置颗粒的装料槽，支架用于支撑并旋转装料槽；在所述装料槽的末端，设有用于同时输出颗粒的质量与电量的天平、法拉第筒及静电计，法拉第筒放置在天平上，静电计通过导线与法拉第筒连接；可以测量同种材料颗粒滚动摩擦带电量，测量同种材料颗粒滑动摩擦带电量，以及测量同种材料颗粒流摩擦带电量；从而可以克服现有技术中无法测量及分析摩擦带电量的缺陷，以实现能够测量及分析摩擦带电量的优点。最后应说明的是本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置，其特征在于，包括支架，放置在所述支架上、且用于放置颗粒的装料槽，所述支架用于支撑并旋转装料槽；在所述装料槽的末端，设有用于同时输出颗粒的质量与电量的天平、法拉第筒及静电计，所述法拉第筒放置在天平上，所述静电计通过导线与法拉第筒连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：谢莉，周俊，韩魁，
申请(专利权)人：兰州大学，
类型：发明
国别省市：62
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