具有多个承载体的光电测量装置以及用于对准所述承载体的方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种具有多个承载体的光电测量装置以及用于对准所述承载体的方法。该光电测量装置包括读头(1)以及互相接合的至少两个承载体(3)，每个承载体(3)均包括纵向内表面，当所述读头(1)移动时，所述读头在所述纵向内表面上运行。所述装置(100)还包括用于每个承载体(3)的至少一个附加元件，每个附加元件均包括相对于对应的所述承载体(3)的所述内表面布置在特定的基准距离处的基准。所述基准距离对于所有的所述附加元件和对应的所述承载体(3)都是大体上相等的，所述基准互相对准，结果，各个所述承载体(3)的所述内表面也被对准。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及包括多个承载体的光电测量装置以及用于对准所述承载体的方法。
技术介绍
适于测量纵向移动的光电测量装置通常包括大体上中空的承载体、布置在承载体内的尺，以及面对尺并相对于所述尺在一个或另一个方向上纵向移动的读头，该读头在所述承载体的内表面上运行。例如，在文献US5016359和US20020124665中公开了这种装置的实例。一种将这些种类的装置接合到将要使用这些装置的机器的非常普通的方法是通过诸如螺钉的装置将承载体直接接合到所述机器的台或工作台，例如如在文献US5375338 中所公开的。假如待使用的承载体包括非常大的长度，则非常难以操作和/或运输，结果，有时候将承载体分成两个或多个部分是有益的。这些部分可以以所有部分都被对准并且尺可以被正确布置的方式被一个接一个地直接固定到机器的台或工作台。在考虑各个部分的外表面的情况下使所述部分对准，然而，由于制造公差，例如，各个部分可能包括不同的厚度，保证了各外表面之间的正确对准，却不能保证各个部分的内表面之间的正确对准，因此不能确保读头的正确移动。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种具有多个承载体的光电测量装置，其中，至少能够在很大程度上确保所述承载体的内表面之间的正确对准，从而使得在所述内表面上运行的读头能够正确移动，并且还提供了一种用于实施所述对准的方法。本专利技术的装置包括互相接合的至少两个承载体以及可相对于所述承载体纵向地移动的读头。每个承载体均包括纵向内表面，当所述读头移动时，所述读头在所述纵向内表面上运行。所述装置还包括附接到每个承载体的至少一个附加元件，每个附加元件均包括特定的基准，并且每个附加元件均被附接到对应的所述承载体，结果是，所述基准与对应的所述承载体的所述内表面之间的特定的基准距离对于所有的所述承载体和对应的所述附加元件都是相等的。各个所述承载体的所述基准互相对准，使得，因为所述基准距离在所有情况下都是大体相等的，所以各个所述承载体的所述内表面均被对准，并且使得所述读头即使是在从一个承载体移动到另一个承载体的过程中也能够在所述内表面上正确地移动。结果，代替了充当各个所述承载体之间的用于对准它们的基准面的所述承载体的外表面，所述附加元件被用作对准所述承载体的基准，从而以轻松、简单并且廉价的方式实现了各个所述承载体的所述内表面之间的正确对准，并且比现有技术更精确。根据附图和本专利技术的详细描述，将使本专利技术的这些和其他优点以及特征变得明显。附图说明图1示出了本专利技术的光电测量装置的优选实施方式的立体图。图2示出了图1的装置的承载体以及对应的附加元件的立体分解图。图3是图1的装置的承载体以及对应的附加元件的横向剖视图。图4示出了图1的装置的附加元件。图5示出了本专利技术的光电测量装置的另一实施方式的承载体的立体图。图6示出了设计成用于与图5的承载体相配合的承载体的立体图。具体实施例方式图1至图3示出了本专利技术的被设计成用于测量长度的光电测量装置的优选实施方式的立体图。所述装置100包括带或尺2以及面对尺2并在所述尺2上纵向移动的读头1， 从而根据所述读头1的移动来测量长度。尺2的长度取决于待测量的总长度，并且取决于制造者和/或最终使用者的要求。尺2被布置在承载体3之内，以使尺与外界隔离开，并尽可能地防止可能导致测量误差的灰尘落在其上。对相当大的长度的测量涉及使用具有延伸长度的尺2，而这需要相当大的长度的承载体3。相当大的长度的承载体3难以运输和操作，结果，当其所需要的长度相当大时，优选地使用多个承载体3而不是仅使用一个承载体，以便构成所需要的长度。本专利技术的装置100被设计为使用两个或多个承载体3。在图1所示装置100的实施方式中，作为实施例，所述装置100包括三个承载体3， 尽管根据它们的总长度和/或制造者和/或最终使用者的需要，其可包括更多个承载体3， 或者，甚至仅包括两个承载体3。承载体3是大体上U形的，如图2和图3中更详细地示出的，例如，该承载体具有基部30和大体上垂直并互相面对的两个壁31和32，并且装置100 的尺2被布置在承载体3之内。读头1被设计为在内部在尺2上纵向移动，在所述承载体 3的内表面30a上运行。本专利技术的装置100的目的在于正确地并以简单的方式对准各个承载体3的内表面30a，以使得读头1移动而不会由于所述承载体3之间的不对准而跳动，而这种跳动可能会导致错误的测量和/或导致所述读头1的过早损坏。装置100包括用于每个承载体3的至少一个附加元件4、47、48，所述至少一个附加元件与对应的承载体3的内表面30a相关联或与其有关，当所述承载体3被接合在一起时，各个承载体3的附加元件4、47、48都参与到承载体之间，使得所述承载体3的不同内表面30a被正确地对准。每个附加元件4、47、48均包括基准并且与对应的承载体3相关联， 结果，对于所有的承载体3和其对应的附加元件4、47、48，所述基准400和对应的承载体3 的内表面30a之间的特定的基准距离Dl、D2都是相等的。不同的基准400互相对准，使得各个承载体3的内表面30a对准。在内表面30a和外表面30b之间限定的基部30的厚度30c由于承载体3的制造工艺而并不总是相同的，承载体通常由挤压工艺制造，并且能够造成所述厚度30c的公差， 使得当承载体3被固定到机器的结构200时(以及当承载体被接合在一起时)，假如将外表面30b用作对准承载体3的基准，则不能保证各个承载体3的内表面30a被完美地对准。在本专利技术的装置100的优选实施方式中，不是将外表面30b用作基准。而是将附加元件4 用作将所述承载体3固定到结构200的基准。在优选的实施方式中，附加元件4包括优选地对应于诸如图4所示的旋转体的插入件，并且每个承载体3均包括与内表面30a大体上成横向并可从承载体3的外部接近的腔体33，所述附加元件4被部分地布置在所述腔体33中。腔体33从所述外表面30b朝向内表面30a延伸。腔体33的长度优选地小于基部30的厚度30c，使得所述腔体33不会完全穿过所述基部30。优选地，每个承载体3均包括两个腔体33，所述承载体3的每一端各有一个腔体33，在每个腔体33中至少部分地布置有一插入件4。在优选的实施方式中，基准400对应于附加元件4的基准面40，该基准面大体上平行于内表面30a。当附加元件4被部分地布置在腔体33中时，所述附加元件4的一部分保留在所述腔体33的外面，从外表面30b向外突出。基准面40对应于附加元件4的位于腔体33外面并且大体上平行于外表面30b的表面，如图3所示，因此，基准距离Dl大于对应的承载体3的基部30的厚度30c。这还允许更容易地确定所述基准距离D1，甚至允许作用于所述附加元件4以在必要时改变所述基准距离D1，如下面所解释的。下面将解释用于对准该装置100的优选实施方式的承载体3的方法。所述方法包括以下步骤设定步骤对于所有承载体3/附加元件4单元设定用作所需的基准距离Dl的标准基准距离。标准基准距离被设定为大于承载体3的厚度30c并且小于基准距离D1，结果， 所使用的附加元件4包括能确保该情况的尺寸。确定步骤对于每个承载体3/附加元件4单元确定真实的基准距离Dl。这可能通过例如借助于卡规或传统构件测量所述距离Dl来测定。比较步骤比较每个特定的基准距离Dl与本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种光电测量装置，该光电测量装置包括：至少两个承载体（３），所述至少两个承载体互相接合；以及读头（１），所述读头能够相对于所述承载体（３）纵向地移动；每个承载体（３）均包括纵向内表面（３０ａ），当所述读头（１）移动时，所述读头在所述纵向内表面上运行，所述光电测量装置的特征在于：所述装置（１００）还包括接合到每个承载体（３）的至少一个附加元件（４；４７，４８），每个附加元件（４；４７，４８）均包括相对于所对应的承载体（３）的所述内表面（３０ａ）布置在确定的基准距离（Ｄ１；Ｄ２）处的基准（４００），并且所述基准距离（Ｄ１；Ｄ２）对于所有的所述承载体（３）和它们的所对应的所述基准（４００）都是相等的，所述基准（４００）互相对准，使得各个所述承载体（３）的所述内表面（３０ａ）被对准。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：何塞·哈维尔·孙苏内吉·穆吉萨，胡安·卡洛斯·德尔加·希门尼斯，
申请(专利权)人：菲高公司，
类型：发明
国别省市：ES