提供能够简易地测定核酸存在比的核酸存在比测定装置、核酸存在比测定方法、判断方法以及核酸存在比测定试剂盒。一种核酸存在比测定装置，其包括：检测单元，在不同的温度范围内检测具有1个以上熔解温度的核酸混合物的熔解曲线的检测信号；存在比计算单元，基于从由上述检测单元检测出的检测信号中得出的特征量之比和标准信息，计算核酸存在比。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及核酸存在比测定装置、核酸存在比测定方法、判断方法及核酸存在比测定试剂盒。
技术介绍
以往，提出了一种熔解曲线分析方法及熔解曲线分析装置，其根据以微分熔解曲线表示的熔解曲线判断不同的两个峰的有无以及其温度范围，从而辨别基因多态性的类型；其中，微分熔解曲线表示的是对表示各温度下样品的信号值的熔解曲线的信号值进行微分而得的信号微分值与温度的关系(例如，参照专利文献1)。现有技术文献专利文献专利文献1 国际公开第2009/081965号小册子
技术实现思路
专利技术要解决的问题然而，在专利文献1的技术中，存在以下问题即使能够自动地辨别基因多态性的类型，也无法得到该基因的变异的比例。本专利技术是为了解决上述问题而完成的，其目的在于提供通过简易地计算核酸存在比即可测定核酸存在比的核酸存在比测定装置、核酸存在比测定方法、核酸存在比测定程序、判断方法以及核酸存在比测定试剂盒。用于解决问题的方案为了达成上述目的，本专利技术的核酸存在比测定装置包括以下结构检测单元，在不同的温度范围内检测具有1个以上熔解温度的核酸混合物的熔解曲线的检测信号；存在比计算单元，基于从由上述检测单元检测出的检测信号中得出的特征量之比和标准信息，计算核酸存在比。标准信息是指表示特征量之比与核酸存在比的关系的信息，例如，有表示特征量之比与核酸存在比的关系的标准曲线、表、计算式等。根据本专利技术的核酸存在比测定装置，检测单元，在不同的温度范围内检测具有1 个以上熔解温度的核酸混合物的熔解曲线的检测信号。而且，存在比计算单元，基于从由检测单元检测出的检测信号中得出的特征量之比和标准信息，计算核酸存在比，从而测定待测物(测定对象核酸混合物)中的核酸存在比。此外，本专利技术的核酸存在比测定装置的其他形态可以包括以下结构存储单元，存储表示特征量之比与存在比的关系的标准信息；或输入单元，用于输入上述标准信息；其中，所述特征量是基于从具有各不相同的熔解温度的核酸的存在比各不相同的多个核酸混合物各自得出的表示温度与检测信号的关系的熔解曲线、从包含上述熔解温度的多个温度范围内的上述熔解曲线的检测信号中得出的。根据这样的形态，存储单元，存储表示特征量之比与存在比的关系的标准信息，其中，所述特征量是基于从具有各不相同的熔解温度的核酸的存在比各不相同的多个核酸混合物各自得出的表示温度与检测信号的关系的熔解曲线、从包含各不相同的熔解温度的多个温度范围内的熔解曲线的检测信号中得出的。此外，该标准信息可由输入单元输入。而且，基于测定对象核酸混合物的熔解曲线的与多个温度范围分别对应的温度范围内的熔解曲线的检测信号，计算特征量之比，并基于所计算出的特征量之比和标准信息，计算核酸存在比，从而测定待测物中的核酸存在比。这样，基于表示多个核酸存在比与各核酸的从包含熔解温度的多个温度范围内的熔解曲线的检测信号中得出的特征量之比的关系的标准信息，和从测定对象核酸混合物的与多个温度范围分别对应的温度范围内的熔解曲线的检测信号中得出的特征量之比，简易地计算核酸存在比，从而可测定待测物中的核酸存在比。此外，本专利技术的核酸存在比测定装置的其他形态中，上述特征量之比可以为从一个熔解温度附近(大致相当于熔解温度)的检测信号水平减去背景水平所得的值与从其他熔解温度附近的检测信号水平减去背景水平所得的值之比；从一个熔解温度附近的检测信号的微分值减去背景水平所得的值与从其他熔解温度附近的检测信号的微分值减去背景水平所得的值之比；一个温度范围内的检测信号的微分值之和与其他温度范围内的检测信号的微分值之和之比；或者从一个温度范围内的检测信号的微分值之和减去背景水平之和所得的值与从其他温度范围内的检测信号的微分值之和减去背景水平之和所得的值之比。熔解温度附近的检测信号，原本理想的是使用熔解温度的检测信号，但考虑到因试剂条件(待测物的状态)、循环数而产生的熔解温度的偏移、因测定装置的检测灵敏度 (例如，以rc为单位进行测定)而产生的误差，熔解温度附近的检测信号意味着使用熔解温度附近的检测信号。另外，熔解温度附近的检测信号包含熔解温度的检测信号。此外，本专利技术的核酸存在比测定装置的其他形态中，上述特征量之比可以为在表示温度与检测信号的微分值的关系的熔解曲线中，由通过一个温度范围的下限值所对应的点和上述一个温度范围的上限值所对应的点所作的直线与熔解曲线所围成的部分的面积， 与由通过其他温度范围的下限值所对应的点和上述其他温度范围的上限值所对应的点所作的直线与熔解曲线所围成的部分的面积之比。此外，本专利技术的核酸存在比测定装置的其他形态中，上述温度范围的上限值或下限值可以为在表示温度和检测信号的微分值的关系的熔解曲线中的两个峰间检测信号的微分值为最小时的温度；在表示温度和检测信号的微分值的关系的熔解曲线中峰的峰脚所对应的温度；或在表示温度和检测信号的微分值的关系的熔解曲线中距离峰士 15°C以内的温度。此外，本专利技术的核酸存在比测定装置的其他形态中，上述温度范围的上限值或下限值可以为在表示温度和检测信号的微分值的关系的熔解曲线中距离峰士 10°c以内的温度。此外，本专利技术的核酸存在比测定装置的其他形态中，上述温度范围的上限值或下限值可以为在表示温度和检测信号的微分值的关系的熔解曲线中距离峰士7°C以内的温度。此外，本专利技术的核酸存在比测定装置的其他形态中，上述一个温度范围的上限值与含有高于上述一个温度范围的温度范围的下限值可以为不同的值。此外，本专利技术的核酸存在比测定装置的其他形态中，从上述一个温度范围的下限值到上限值的宽度与从上述其他温度范围的下限值到上限值的宽度可以为同一宽度。此外，本专利技术的核酸存在比测定装置的其他形态中，从上述一个温度范围的下限值到上限值的宽度与从上述其他温度范围的下限值到上限值的宽度可以为不同的宽度。此外，本专利技术的核酸存在比测定装置的其他形态可以进一步含有以下结构温度控制单元，控制上述核酸混合物的温度变化；测量单元，测量吸光度、荧光强度或相对荧光强度作为上述检测信号。通过该结构，使用从待测物测量出的检测信号，能够测定待测物中的核酸存在比。此外，本专利技术的核酸存在比测定方法可以为包括以下工序的方法检测工序，在不同的温度范围内检测具有1个以上熔解温度的核酸混合物的熔解曲线的检测信号；存在比计算工序，基于从上述检测工序中检测出的检测信号中得出的特征量之比和标准信息，计算核酸存在比。根据本专利技术的核酸存在比测定方法，在检测工序中，在不同的温度范围内检测具有1个以上熔解温度的核酸混合物的熔解曲线的检测信号。而且，在存在比计算工序中， 基于从上述检测工序中检测出的检测信号中得出的特征量之比和标准信息，计算核酸存在比，从而测定待测物中的核酸存在比。此外，本专利技术的核酸存在比测定方法的其他形态可以为包括以下工序的方法标准信息制作工序，制作表示特征量之比与存在比的关系的标准信息，所述特征量是基于从具有各不相同的熔解温度的核酸的存在比各不相同的多个核酸混合物各自得出的表示温度与检测信号的关系的熔解曲线、从包含上述熔解温度的多个温度范围内的上述熔解曲线的检测信号中得出的；特征量之比计算工序，基于测定对象核酸混合物的熔解曲线的与上述多个温度范围分别对应的温度范围内的熔解曲线的检测信号，计算特征量之比；存在比计算工序，基于上述特征量之比计算工序本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种核酸存在比测定装置，其包括：检测单元，在不同的温度范围内检测具有１个以上熔解温度的核酸混合物的熔解曲线的检测信号；存在比计算单元，基于从由上述检测单元检测出的检测信号中得出的特征量之比和标准信息，计算核酸存在比。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：平野胜靖，小森真理子，
申请(专利权)人：爱科来株式会社，
类型：发明
国别省市：JP
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