一种叠层片式压敏电阻排用测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公告了一种叠层片式压敏电阻排用测试装置，包括夹具、设有测试按钮的控制台和参数测试仪，夹具放置在控制台上，且与参数测试仪连接，其特征在于：夹具设有包括导电测试针的夹具PCB和夹具定位板，夹具与参数测试仪连接是夹具PCB的导电测试针的针帽端与参数测试仪连接，导电测试针的各个针脚端与被测试的叠层片式压敏电阻排产品相对应的各个外电极充分接触。夹具定位板是设有机械定位探头的定位板。本实用新型专利技术装置结构简单，操作方便，且信息反馈简单直观，测试数据直接显示在PC系统显示器上，适用于测试叠层片式压敏电阻排的各项电性参数并进行判定，利于对叠层片式压敏电阻排进行分选。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试装置，特别是涉及一种叠层片式压敏电阻排用测试装置及其测试方法。
技术介绍
在同一印刷电路板(Printed Circuit Board，缩略词为PCB)线路采用多个片式压敏电阻时，常常占用过多线路面积，导致电路复杂化，带来电路设计、维护方面的隐患。而片式压敏电阻排作为一种新型压敏元件，能够在同一单体上集成多个压敏电阻并且每个压敏电阻与表层电阻层构成RC回路，不仅缩小产品体积的优势，还具有压敏电阻的防护静电放电(Electrc^tatic Discharge，缩略词为ESD)和电磁干扰 (Electromagnetidnterference，缩略词为EMI)的效果，正在应用于多功能化、微型化的通信、消费类电子产品上。片式压敏电阻排结构复杂，测试参数多，至今尚未见有叠层片式压敏电阻排用测试装置的相关报道。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是弥补上述现有技术的缺陷，提供一种叠层片式压敏电阻排用测试装置。本技术的技术问题通过以下技术方案予以解决。这种叠层片式压敏电阻排用测试装置，包括夹具、设有测试按钮的控制台和参数测试仪，所述夹具放置在所述控制台上，且与所述参数测试仪连接。这种叠层片式压敏电阻排用测试装置的特点是所述夹具设有包括导电测试针的夹具PCB和夹具定位板，所述夹具与所述参数测试仪连接是所述夹具PCB的导电测试针的针帽端与所述参数测试仪连接，所述导电测试针的各个针脚端与被测试的叠层片式压敏电阻排产品相对应的各个外电极充分接触，以确保测试的准确性。所述夹具定位板是设有机械定位探头的定位板，通过机械定位探头将叠层片式压敏电阻排产品精确定位于所述夹具定位板的相应位置，进而夹紧定位在控制台上。本技术的叠层片式压敏电阻排用测试装置技术问题通过以下进一步的技术方案予以解决。所述控制台是由个人计算机(Personal Computer缩略词为PC)系统控制的控制台，所述PC系统分别与所述控制台和所述参数测试仪连接，所述参数测试仪按照设定的程序依次测试叠层片式压敏电阻排产品的各项性能参数，并将测试数据传送至所述PC系统。所述控制台包括控制主板和外箱，所述控制主板设有控制台程序，按设定程序向所述参数测试仪发送指令。所述PC系统是设有测试控制程序的微机系统。所述PC系统用于控制所述参数测试仪采集测试数据，以及将所述参数测试仪传送的测试数据与设定的标准参数值进行对比分析，判定叠层片式压敏电阻排产品的各项性能参数是否合格，并将判定结果通过显示器显示，反馈给操作者。优选的是，所述PC系统是采用PentiUm4处理器的设有测试控制程序的微机系统。所述参数测试仪包括压敏电阻直流参数测试仪和压敏电阻静态电容测试仪，所述压敏电阻直流参数测试仪用于测试叠层片式压敏电阻排产品直流参数，包括压敏电压Vb、 漏电流IL、绝缘阻抗CrosdR和直流阻抗RDe，并计算非线性系数α值，所述压敏电阻静态电容测试仪用于测试叠层片式压敏电阻排产品静态电容参数，包括电容C和损耗因子DF。本技术与现有技术对比的有益效果是本技术装置结构简单，操作方便，且信息反馈简单直观，测试数据直接显示在 PC系统显示器上，适用于测试叠层片式压敏电阻排的各项电性参数并进行判定，利于对叠层片式压敏电阻排进行分选。附图说明图1是本技术具体实施方式的整体结构示意图；图2是图1的夹具结构示意图；图3是图2的夹具PCB和夹具定位板局部放大图；图4是图3的十端子八联叠层片式压敏电阻排产品的端子示意图；图5是图4的产品内部器件连接示意图。具体实施方式下面结合具体实施方式并对照附图对本技术进行说明。一种如图1 3所示的叠层片式压敏电阻排用测试装置，包括夹具5、设有测试按钮的由PC系统4控制的控制台1、压敏电阻直流参数测试仪2和压敏电阻静态电容测试仪 3。夹具5设有包括导电测试针的夹具PCB 6和夹具定位板7，夹具PCB 6的导电测试针8 的针帽端与压敏电阻直流参数测试仪2和压敏电阻静态电容测试仪3连接，夹具定位板7 是设有机械定位探头的定位板。十端子八联叠层片式压敏电阻排产品9的十个端子和内部器件连接如图4、5所示。PC系统4是采用PentiUm4处理器的设有测试控制程序的微机系统，用于控制压敏电阻直流参数测试仪2和压敏电阻静态电容测试仪3采集测试数据，以及将其传送的测试数据与设定的标准参数值进行对比分析，判定叠层片式压敏电阻排产品的各项性能参数是否合格，并将判定结果通过显示器显示，反馈给操作者。本具体实施方式专门用于测试叠层片式压敏电阻排产品9的直流参数和静态电容参数。直流参数包括压敏电压Vb、漏电流IL、绝缘阻抗CrosiJR和直流阻抗RDC，并计算非线性系数α值；静态电容参数包括电容C和损耗因子DF。具体测试方法依次有以下步骤1)定位产品通过设有机械定位探头的夹具定位板7将被测试的10端子8联叠层片式压敏电阻排产品9精确定位于夹具定位板7的相应位置，进而夹紧定位在控制台1上，被测试的十端子八联叠层片式压敏电阻排产品9的各个外电极10与夹具PCB 6的导电测试针8相对应的各个针脚端充分接触，以确保测试的准确性；2)测试产品按下测试按钮，控制台发出指令，由压敏电阻直流参数测试仪2和压敏电阻静态电容测试仪3按设定的程序分别测试叠层片式压敏电阻排产品9的直流参数和静态电容参数，直流参数包括压敏电压、漏电流、绝缘阻抗和直流阻抗，并计算非线性系数值，静态电容参数包括电容和损耗因子；3)数据处理压敏电阻直流参数测试仪2和压敏电阻静态电容测试仪3的测试数据通过GPIB 传送至PC系统4，PC系统4设有的测试控制程序将测试数据与设定的标准参数值进行对比分析，判定叠层片式压敏电阻排产品的各项性能参数是否合格，并将判定结果通过显示器反馈给操作员，至此测试完成。以上内容是结合具体的优选实施方式对本技术所作的进一步详细说明，不能认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属
的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下做出若干等同替代或明显变型，而且性能或用途相同，都应当视为属于本技术由所提交的权利要求书确定的专利保护范围。权利要求1.一种叠层片式压敏电阻排用测试装置，包括夹具、设有测试按钮的控制台和参数测试仪，所述夹具放置在所述控制台上，且与所述参数测试仪连接，其特征在于所述夹具设有包括导电测试针的夹具印刷电路板PCB和夹具定位板，所述夹具与所述参数测试仪连接是所述夹具PCB的导电测试针的针帽端与所述参数测试仪连接，所述导电测试针的各个针脚端与被测试的叠层片式压敏电阻排产品相对应的各个外电极充分接触；所述夹具定位板是设有机械定位探头的定位板。2.如权利要求1所述的叠层片式压敏电阻排用测试装置，其特征在于所述控制台是由个人计算机PC系统控制的控制台，所述PC系统分别与所述控制台和所述参数测试仪连接。3.如权利要求1或2所述的叠层片式压敏电阻排用测试装置，其特征在于 所述控制台包括控制主板和外箱。4.如权利要求3所述的叠层片式压敏电阻排用测试装置，其特征在于 所述PC系统是微机系统。5.如权利要求4所述的叠层片式压敏电阻排用测试装置，其特征在于 所述PC系统是采用Pentium4处理器的微机系统。6.如权利要求5所述的本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种叠层片式压敏电阻排用测试装置，包括夹具、设有测试按钮的控制台和参数测试仪，所述夹具放置在所述控制台上，且与所述参数测试仪连接，其特征在于：所述夹具设有包括导电测试针的夹具印刷电路板ＰＣＢ和夹具定位板，所述夹具与所述参数测试仪连接是所述夹具ＰＣＢ的导电测试针的针帽端与所述参数测试仪连接，所述导电测试针的各个针脚端与被测试的叠层片式压敏电阻排产品相对应的各个外电极充分接触；所述夹具定位板是设有机械定位探头的定位板。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：成学军，贾广平，邵庆云，师习恩，
申请(专利权)人：深圳顺络电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94