本发明专利技术涉及一种角接触轴承沟位测量用复合测量标准块，在测量块本体的上端面一体设有上中心圆柱与上圆凸环，上圆凸环的上端面与上中心圆柱的上端面平齐，上圆凸环的上端面与测量块本体的轴线呈垂直设置，上中心圆柱、上圆凸环与测量块本体呈同轴设置；在测量块本体的下端面一体设有下中心圆柱与下圆凸环，下圆凸环的下端面与下中心圆柱的下端面平齐，下圆凸环的下端面与测量块本体的轴线呈垂直设置；下圆凸环、下中心圆柱与测量块本体呈同轴设置；下圆凸环的外径长度与测量块本体的外径长度相等，下圆凸环的内径长度大于上圆凸环的外径长度。本发明专利技术可以准确测量角接触轴承的沟位，结构简单，测量非常方便，测量重复性好，使用效果良好。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种角接触轴承沟位测量用部件，尤其是一种角接触轴承沟位测量用复合测量标准块。
技术介绍
目前，角接触轴承内外圈沟位的测量装置仍为传统的深沟球沟位仪表。由于角接触轴承的沟道形状为半沟，而非深沟球轴承的整沟。传统的测量方法包含平脚测头、仪表与被测套圈。深沟沟位测量工作原理见附(图1)，平脚测头在测力的作用下可以上下偏移，也可以左右偏移。测头上下偏移时仪表的指针不动，测头左右偏移时会带动仪表跳动。测量沟位时测头在测力作用下上下移动。当测头接触到套圈滚道的第一个点时，测头处于不稳定状态，此时测头会左右移动，当测头与沟道两个点同时接触时才会处于稳定状态，此时仪表上的读数就为套圈的沟位。但是角接触轴承套圈的沟道是半沟时，(图2)，测头上下左右移动，测头的点与沟道接触，测头的点找到接触点，因此找不到稳定状态的位置。半沟沟位测量不准确，而且测量量很困难。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种可以准确测量角接触轴承的沟位、结构简单、测量非常方便的角接触轴承沟位测量用复合测量标准块。按照本专利技术提供的技术方案，所述角接触轴承沟位测量用复合测量标准块，它包括圆柱状的测量块本体，在测量块本体的上端面一体设有上中心圆柱与上圆凸环，上圆凸环在上中心圆柱的外部，上圆凸环的上端面与上中心圆柱的上端面平齐，上圆凸环的上端面与测量块本体的轴线呈垂直设置，上中心圆柱与测量块本体呈同轴设置，上圆凸环与测量块本体呈同轴设置；在测量块本体的下端面一体设有下中心圆柱与下圆凸环，下圆凸环在下中心圆柱的外部，下圆凸环的下端面与下中心圆柱的下端面平齐，下圆凸环的下端面与测量块本体的轴线呈垂直设置，下中心圆柱与测量块本体呈同轴设置，下圆凸环与测量块本体呈同轴设置；下圆凸环的外径长度与测量块本体的外径长度相等，下圆凸环的内径长度大于上圆凸环的外径长度；且上圆凸环的外径与被测角接触轴承的内圈的外径长度相同，上圆凸环的内径与被测角接触轴承的内圈的内径长度相同；下圆凸环的外径与被测角接触轴承的外圈的外径长度相同，下圆凸环的内径与被测角接触轴承的外圈的内径长度相同；测量块本体、上圆凸环与下圆凸环的高度之和等于被测角接触轴承的宽度。所述上中心圆柱与下中心圆柱的直径长度相同。本专利技术可以准确测量角接触轴承的沟位，结构简单，测量非常方便，测量重复性好，使用效果良好。附图说明图1是传统的深沟球沟位仪表测量深沟球轴承的内外圈沟位的操作图。图2是传统的深沟球沟位仪表测量角接触轴承的内外圈沟位的操作图。图3是本专利技术的主视图。图4是本专利技术的俯视图。图5是本专利技术的仰视图。图6是本专利技术的测量角接触轴承的内外圈沟位的操作图之一。图7是本专利技术的测量角接触轴承的内外圈沟位的操作图之二。具体实施例方式下面结合具体附图和实施例对本专利技术作进一步说明。如图所示该角接触轴承沟位测量用复合测量标准块，它包括圆柱状的测量块本体1，在测量块本体1的上端面一体设有上中心圆柱2与上圆凸环3，上圆凸环3在上中心圆柱2的外部，上圆凸环3的上端面与上中心圆柱2的上端面平齐，上圆凸环3的上端面与测量块本体1的轴线呈垂直设置，上中心圆柱2与测量块本体1呈同轴设置，上圆凸环3与测量块本体1呈同轴设置；在测量块本体1的下端面一体设有下中心圆柱4与下圆凸环5，下圆凸环5在下中心圆柱4的外部，下圆凸环5的下端面与下中心圆柱4的下端面平齐，下圆凸环5的下端面与测量块本体1的轴线呈垂直设置，下中心圆柱4与测量块本体1呈同轴设置，下圆凸环5与测量块本体1呈同轴设置；下圆凸环5的外径长度与测量块本体1的外径长度相等，下圆凸环5的内径长度大于上圆凸环3的外径长度；且上圆凸环3的外径与被测角接触轴承的内圈的外径长度相同，上圆凸环3的内径与被测角接触轴承的内圈的内径长度相同；下圆凸环5的外径与被测角接触轴承的外圈的外径长度相同，下圆凸环5的内径与被测角接触轴承的外圈的内径长度相同；测量块本体1、 上圆凸环3与下圆凸环5的高度之和等于被测角接触轴承的宽度。所述上中心圆柱2与下中心圆柱4的直径长度相同。使用本专利技术的复合测量标准块进行角接触轴承沟位测量时，还需配备一个高度测量仪6、一个测量底座7、一个被测量轴承外圈和内圈沟位标准件加钢球组成的被测轴承 8、或一个被测量轴承内圈和外圈沟位标准件加钢球组成的被测轴承8和一个测量精度为 0. 001的测量仪表9。本专利技术的角接触轴承沟位测量用复合测量标准块是一个圆柱体的铁块，材料为 GCrl5轴承钢，标准块的热处理与轴承套圈的热处理要求相同，复合测量标准块的外径与被测轴承的外径相同，它有上下两个端面，上端面有一个上圆凸环3和一个上中心圆柱2，上圆凸环3位置在外围，上圆凸环3的外、内径尺寸大小与被测轴承的内圈外、内径尺寸分别对应相同，上中心圆柱2是一个直径5mm左右的凸起平面，上圆凸环3的上端面和上中心圆柱2的上端面在同一个平面内，允许误差为0. 001 ；下端面也有一个下圆凸环5和一个下中心圆柱4，下圆凸环5的外、内圈尺寸与被测轴承外、内圈的尺寸分别对应相同。下中心圆柱4还是一个直径5mm的凸起圆柱平面，下圆凸环5的下端面与下中心圆柱4的下端面在同一个平面内，允许误差为0. 001。 进行沟位测量操作时，被测量轴承8放在测量底座7上，见附图6和图7。复合测量标准块的下端面与被测量轴承8的外圈接触，升降高度测量仪6，测量仪表9的测点测在上端面的中心点上。仪表调“0”;复合测量标准块翻面，其上端面与被测量轴承8的内圈端面接触，仪表测头测在下端面的中心点上。这时测量仪表9上的数据差就是被测量轴承8 的凸出量，该凸出量即为沟位。权利要求1.一种角接触轴承沟位测量用复合测量标准块，其特征是它包括圆柱状的测量块本体(1)，在测量块本体(1)的上端面一体设有上中心圆柱(2)与上圆凸环(3)，上圆凸环(3) 在上中心圆柱(2)的外部，上圆凸环(3)的上端面与上中心圆柱(2)的上端面平齐，上圆凸环(3)的上端面与测量块本体(1)的轴线呈垂直设置，上中心圆柱(2)与测量块本体(1)呈同轴设置，上圆凸环(3)与测量块本体(1)呈同轴设置；在测量块本体(1)的下端面一体设有下中心圆柱(4)与下圆凸环(5)，下圆凸环(5)在下中心圆柱(4)的外部，下圆凸环(5)的下端面与下中心圆柱(4)的下端面平齐，下圆凸环 (5)的下端面与测量块本体(1)的轴线呈垂直设置，下中心圆柱(4)与测量块本体(1)呈同轴设置，下圆凸环(5)与测量块本体(1)呈同轴设置；下圆凸环(5)的外径长度与测量块本体(1)的外径长度相等，下圆凸环(5)的内径长度大于上圆凸环(3)的外径长度；且上圆凸环(3)的外径与被测角接触轴承的内圈的外径长度相同，上圆凸环(3)的内径与被测角接触轴承的内圈的内径长度相同；下圆凸环(5)的外径与被测角接触轴承的外圈的外径长度相同，下圆凸环(5)的内径与被测角接触轴承的外圈的内径长度相同；测量块本体(1)、上圆凸环(3)与下圆凸环(5)的高度之和等于被测角接触轴承的宽度。2.如权利要求1所述的角接触轴承沟位测量用复合测量标准块，其特征是所述上中心圆柱(2)与下中心圆柱(4)的直径长度相同。全文摘要本专利技术涉及一种角接触轴承沟位测量用复合测量标准块，在测量块本体的上端面一体设有上中心圆柱与上本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种角接触轴承沟位测量用复合测量标准块，其特征是：它包括圆柱状的测量块本体（１），在测量块本体（１）的上端面一体设有上中心圆柱（２）与上圆凸环（３），上圆凸环（３）在上中心圆柱（２）的外部，上圆凸环（３）的上端面与上中心圆柱（２）的上端面平齐，上圆凸环（３）的上端面与测量块本体（１）的轴线呈垂直设置，上中心圆柱（２）与测量块本体（１）呈同轴设置，上圆凸环（３）与测量块本体（１）呈同轴设置；在测量块本体（１）的下端面一体设有下中心圆柱（４）与下圆凸环（５），下圆凸环（５）在下中心圆柱（４）的外部，下圆凸环（５）的下端面与下中心圆柱（４）的下端面平齐，下圆凸环（５）的下端面与测量块本体（１）的轴线呈垂直设置，下中心圆柱（４）与测量块本体（１）呈同轴设置，下圆凸环（５）与测量块本体（１）呈同轴设置；下圆凸环（５）的外径长度与测量块本体（１）的外径长度相等，下圆凸环（５）的内径长度大于上圆凸环（３）的外径长度；且上圆凸环（３）的外径与被测角接触轴承的内圈的外径长度相同，上圆凸环（３）的内径与被测角接触轴承的内圈的内径长度相同；下圆凸环（５）的外径与被测角接触轴承的外圈的外径长度相同，下圆凸环（５）的内径与被测角接触轴承的外圈的内径长度相同；测量块本体（１）、上圆凸环（３）与下圆凸环（５）的高度之和等于被测角接触轴承的宽度。...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：谭义银，
申请(专利权)人：无锡市第二轴承有限公司，
类型：发明
国别省市：32
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