电子照相感光体及图像形成方法技术

本发明专利技术提供电子照相感光体及图像形成方法，通过减少当使用圆筒状感光体被车刀切削加工后的导电性基体时产生的半色调图像中的干涉条纹，能够得到适于轻印刷领域等的高画质。电子照相感光体在通过切削加工而被精加工的圆筒状基体上至少具有感光层，在沿该基体中心轴的方向上的基体表面形状的相关图中的间隔为0以外的峰中，其高度(自相关系数)从最大至第3大的峰的高度平均值为0.3以上0.8以下。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及能够应对轻印刷领域等极高画质的图像形成的电子照相感光体(以下有时简称为感光体)及图像形成方法。
技术介绍
近年来，使用了干式电子照相方式的打印系统的画质得以提高，在份数较少的打印领域逐渐被广泛使用。结果，所要求的画质水平进一步提高，并且采用了以往很少使用的方式、例如向涂敷纸上的打印、高覆盖度图像的打印、高画质图像的大量打印等多种使用方式。与此相伴，发生以往几乎未被指出的问题的情况增多。其中之一是，产生被认为是因曝光图案和针对感光体的导电性基体面的切削周期而引起的半色调图像的干涉条纹花纹。基于与中间色的均一性提高相关的要求和图像形成装置的性能提高、以及涂敷纸的使用这一组合，其成为近年来频发的问题，亟待解决(例如专利文献1)。以往，作为通过切削而使感光体的导电性基体表面粗糙的原因，是为了抑制将图像潜像写入到感光体的激光、与来自感光体的导电性基体表面的反射光发生干涉而产生的干涉条纹。作为其加工方法，例如调整切削的条件，或进行喷丸(blast)加工，设法研究导电性基体面的凹凸形状来进行应对(例如专利文献2 4)。上述示出的对策也成为对本专利技术中视为问题的故障的对策。但是，即使应用上述对策，由于残留有导电性基体的表面形状的周期性本身，所以其效果有限，尤其是向份数少的打印等被要求高画质的领域中的应用， 尚且存在问题。另外，作为不易产生周期性的加工方法，已知有对导电性基体表面喷出介质进行加工的加工方法，但这些加工法中，导电性基体加工的生产率低，存在介质嵌入并残留于导电性基体而导致产生缺陷的危险，有必要进一步改善。专利文献1 日本特开2003-302777号公报专利文献2 日本专利第3480618号公报专利文献3 日本特开2001-235885号公报专利文献4 日本特开2003-173037号公报
技术实现思路
本专利技术为了开发一种直接减少周期性、成为更有效解决上述问题的有效对策的技术。本专利技术的目的在于，提供一种电子照相用感光体以及使用了该电子照相用感光体的图像形成方法，通过减少使用了圆筒状感光体被车刀(bite)切削加工后的导电性基体 (有时也简称为基体或原料管)时产生的半色调图像中的干涉条纹，能够得到适合轻印刷领域等的高画质。本专利技术的目的可通过采用下述构成而达成。(1) 一种电子照相感光体，其特征在于，在通过切削加工而被精加工的圆筒状基体上至少具有感光层，在沿该基体中心轴的方向上的基体表面形状的相关图(correlogram) 中的间隔为0以外的峰中，其高度(自相关系数)从最大至第3大的峰的高度平均值为0.3 以上0.8以下。(2)根据(1)所述的电子照相感光体，其特征在于，将上述相关图中的0. 3以上的峰的位置按照间隔从小到大的顺序设为R1、R2、R3.......时，其为非等差数列性。(3) 一种图像形成方法，其特征在于，使用(1)或( 所述的电子照相感光体，通过采用了激光或LED的曝光来进行图像形成。附图说明图1是说明本专利技术中作为技术问题的最终画面的条纹状浓度不均的示意图。图2是说明因导电性基体面的切削间距产生的电荷产生层的膜厚变化的示意图。图3是说明本专利技术中的自相关系数的计算方法的图。图4是图示了半色调曝光图案的说明图。图5是使用了本专利技术的电子照相感光体的彩色图像形成装置的结构图。 具体实施例方式对于本专利技术进一步进行说明。本专利技术中作为技术问题的故障是如图1所示那样在画面上产生倾斜的条纹状浓度不均的现象，在均勻的图像中十分明显。尤其在光面图像且如轻印刷那样的大画面高画质图像中被视为问题。根据专利技术人的研究，本专利技术中视为问题的干涉条纹的产生原因如下所述。干涉条纹因感光体的灵敏度变化的周期性和曝光的周期性重叠而产生。如图2 所示，电荷产生层(CGL)涂敷液的附着量反映基底的形状，因此如果基体的表面形状存在周期性，则电荷产生层的膜厚带有周期性地发生变化，从而，灵敏度也带有周期性地发生变化。如果对这样的感光体采用激光、LED光源等进行周期性曝光，则产生由随之带有周期性地发生变化的灵敏度和曝光的干涉所导致的条纹状浓度不均。作为干涉不均的形式，表现为沿着稍倾斜的方向延展的浓淡不均。因此，对于减少干涉条纹而言，降低导电性基体的周期性是有效的，因此降低主扫描方向的基体形状的周期性是有效的。本专利技术详细研究了对于减少干涉条纹有效的周期性的降低范围，并进行了定量。本专利技术的自相关系数为0. 3 0. 8，其理由是，如果通过切削加工以达到0. 3以下的方式使表面粗糙化，则产生局部大的变化点，容易产生图像损伤(沿周方向延伸的锐利损伤，推测原因是表面形状的变化在各处过大)，如果为0. 8以上，则减少干涉条纹的效果不足。对于自相关系数，由于以一定的进给速度进行了加工的基体表面成为与输送间距相当的加工面，所以在输送间距周边的间隔(Iug)(后述)中具有大的峰，最大(但1除外) 至第3大的峰的高度平均值高于0. 8。另一方面，在随机使介质冲撞的喷丸加工、以化学方式使表面粗糙化的阳极氧化中，几乎不产生高的峰，小于0. 3。然而，这样的表面形状对减少干涉条纹的效果并不充分，或者虽然防止效果充分，但却成为引起其他问题的原因。因此， 为了达成本专利技术的目的，有必要使自相关系数为0. 3 0. 8。作为用于达成本专利技术的合适方法，只要对车刀的进给速度进行编程以使其在合适的范围加速或减速，或者使旋转速度在合适的范围变化即可实现。实际上，在使车刀的进给速度、或切削对象的导电性基体转速、或者该两者变化的同时进行切削。考虑到导电性基体自身的形状精度(偏差等)，一边改变车刀进给速度一边进行的切削是最有效的。另外，并不是完全没有研究感光体的导电性基体和自相关系数的关系的专利申请。然而，例如在日本特开2009-拟821号公报记载的专利技术中，通过使用自相关系数来规定以一定速度切削的基体中的切削输送间距内部的表面形状，并规定感光层的外表面层的粘结树脂和感光层表面的表面粗糙度，实现了防止长时间使用时的浓度不均、转印不良、中间脱落，与此相对，在本专利技术中通过对包含多个切削输送间距的基体的表面形状的自相关性进行规定，实现了因与曝光图案的干涉导致的条纹的减少。或者，虽然日本特开 2003-302777号、日本特开2003-149844号、以及日本特开2003-173037号公报记载的专利技术着眼于干涉条纹和自相关系数的关系，但是其以一定的切削速度调整了主峰和副峰，来调整自相关系数，并且增加了在切削后形成阳极氧化被膜这一繁杂且高成本的工序，与之相对，并不像本专利技术这样发现了采用高生产率的切削加工进行精加工时的自相关系数，而且其效果也不充分。本专利技术的主旨在于，发现如果能够利用切削加工扰乱在圆筒状导电性基体的表面通过切削而产生的周期性凹凸的规则性，则对于减小干涉条纹故障是极有效的，进而，发现用自相关系数表示该扰乱程度是最合适的，并且发现了其上限值、下限值。上述说明中，在切削加工中，由于使基体一边沿中心轴旋转一边与切削车刀抵接， 所以产生凹凸形状，这容易成为感光体的圆筒状导电性基体在沿其中心轴的方向规则形成的加工面形状。为了使上述自相关系数为0. 3 0. 8的范围，在将该基体表面通过切削加工进行整形时，有必要改变加工周期宽度。因此，在加工中途改变车刀的移动速度等。由于在切削加工的中本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种电子照相感光体，其特征在于，在通过切削加工而被精加工的圆筒状基体上至少具有感光层，在沿该基体中心轴的方向上的基体表面形状的相关图中的间隔为０以外的峰中，其高度、即自相关系数从最大至第３大的峰的高度平均值为０．３以上０．８以下。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：崎村友男，滨口进一，野崎尚树，松崎真优子，
申请(专利权)人：柯尼卡美能达商用科技株式会社，
类型：发明
国别省市：JP