本发明专利技术提供一种光拾取器装置，通过消除多层串扰，使跟踪信号、聚焦信号稳定化。通过使来自设置于来自该层的反射光的回路上的多区域衍射光栅的中心区域的衍射光在半导体检测器上的衍射位置比来自衍射光栅周边部分的衍射光的衍射位置更远离光轴，使来自其他层的杂散光不会入射到来自衍射光栅的周边部区域的感光度区域。另外，通过分割中心区域，减小半导体检测器的面积。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光拾取器装置，尤其涉及光拾取器装置的读出光学系统。
技术介绍
光盘的一层的记录容量较多地依赖于使用的半导体激光器的波长和物镜的开口数(NA)。半导体激光器的波长越短、或NA越大，越能增大记录密度，从而能够增大每一层的容量。在现在市场上流通的光盘驱动装置的主体是使用波长650nm左右的红色光和ΝΑΟ. 6 的物镜的DVD (Digital Versatile Disc)驱动装置，但作为超过DVD的记录密度的驱动装置，以光波长405nm左右的蓝紫色的半导体激光器为光源，使用ΝΑΟ. 85的物镜的光盘驱动装置也上市了。作为以现状能够达到的使记录密度进一步增加的方式，考虑了使用波长的短波长化，但可以预想开发比该蓝紫色短的紫外线区域的半导体激光器是困难的，并且，也可以预想由于紫外线导致聚碳酸酯制的光盘基板的劣化。另外，关于物镜的高NA化，由于物镜在空气中的NA的界限是1，因此也难以通过物镜的NA增大记录密度。在这种状况下，作为增大一张光盘的容量的方式，实施了双层化。在非专利文献 1 (Jpn. J. Appl. Phys.，Vol. 42 (2003)，pp. 956-960)中介绍了双层相变化光盘的技术。在使激光照射双层光盘的场合，由于同时照射邻接层，因此有层间串扰的问题。为了减少这种问题，进行增大层间隔的工作。由于激光被聚光，且目的层(该层)以外偏离激光的聚光面， 因此能够减少层间串扰。另一方面，若增大层间隔，则球面象差成为问题。记录层被埋入折射率与空气不同的聚碳酸酯中，球面象差随着距光盘表面的深度而不同。物镜以该球面象差相对于特定层变小的方式设计，若将激光的焦点移到其他层上，则由于焦点位置距表面的距离不同，产生球面象差。该象差通常可通过将由两片透镜构成的膨胀透镜光学系统或液晶元件置于物镜前来修正。也就是说，通过改变两片透镜的距离或液晶元件的相位来补正象差。但是，若考虑液晶元件的可补偿范围或在小型光盘驱动装置实现透镜的移动机构，难以修正较大的球面象差。在为了进一步增加容量而实施多层化的场合，由于球面象差的补正界限，多层整体的厚度被限制，若层数多，则层间隔变窄。因此，在实际的多层用光盘驱动装置中，还存在层间串扰。为了减少上述的串扰，根据非专利文献2(IS0M/0DS' 08，Technical Digest Post-deadline Papers, TD05-155 (2008))，在利用透镜对来自多层光盘的反射光进行聚光时，利用来自目的层和邻接层的反射光的聚光位置在光轴上不同这种情况。以包含光轴的方式配置光栅，并将反射镜配置在来自该层的反射光的聚光面上。来自邻接层的反射光由于照射光栅而衰减。另一方面，由于来自该层的反射光透过光栅和反射镜之间的间隙，因此可不衰减地返回检测系统。由此，可减少层间串扰。另外，在非专利文献3 (Jpn. J. Appl. Phys.，Vol. 45，No. 2B(2006)，pp. 1174-1177) 中，使用一条光线得到了跟踪信号，但防止两层中的杂散光对跟踪信号产生影响。通过构成为利用使配置在回路上的光栅的中心部分的光偏离光轴来检测，防止杂散光入射到配置在光轴中心附近的光栅信号检测用四分割检测器。使用图21说明由光拾取器装置的检测光学系统的多层光盘产生的串扰。跟踪误差信号的检测在此使用PP(push-pull)法，焦点误差信号的检测使用像散法。为了简单化， 501为双层光盘，511及512为信息记录层。为了简单化，没有图示激光光源。从激光光源被准直的激光入射到物镜401。从物镜401向多层光盘出射的激光光线的最小光线光点位置如光线80所示地位于信息记录层511上，并读出来自信息记录层511的信息。光盘501 旋转，在信息记录层511上形成图22所示的用于跟踪的引导槽即轨道。图22表示信息记录层的一部分，旋转轴位于纸面的左远方。激光光线作为光点94照射该引导槽。若基于旋转轴进行光轴的垂直方向的定义，则箭头521的方向为径向，箭头522的方向为切向。由于照射光的焦点位于记录层511，因此其反射光沿与入射光相同的光路反向返回图21的物镜401。若在透过物镜后的位置523测定反射光的强度分布，则例如如图23所示。在该场合，只考虑引导槽的影响，利用在与槽垂直的方向上产生的衍射光显现出所谓的球图案。也就是说，在径向出现941及942所示的明暗区域，明暗根据与引导槽的位置关系变化。接着，来自图21的物镜401的出射光透过像散进入的检测透镜402，作为光线801照射半导体检测器51。半导体检测器51设置在最小模糊圆的位置。图M表示半导体检测器51上的来自光盘的反射光的入射状态。反射光由配置于中央的田字状的四分割半导体检测器541检测。来自该层的反射光线作为光点811照射半导体检测器Ml。光点811的球图案如图25所示。与图23不同，球图案在上下显现，交换切向与径向。这是由于使像散的方向相对于切向倾斜45度。在这种反射光的照射状态中， 在将四分割半导体检测器的各个检测区域的名称设为A、B、C、D，其信号名称也相同时， 跟踪误差信号TE表示为TE = (A+B) - (C+D)，另外，在将焦点误差信号设为AF，将数据信号设为 RF 时，AF = A+C- (B+D)，RF = A+C+B+D。能够利用四分割半导体检测器进行使用象散法的光拾取器的原理的动作说明，实际上为了跟踪，需要在径向上移动物镜，为了减少此时产生的跟踪误差信号的不平衡，将非专利文献3记载的光线分为四份以上而进行检测。采用在对多层光盘照射激光时，来自各层的反射光量为大致同量的光盘的设计。 因此，接近物镜的层的透过率增大，使激光能够照射到距物镜远的层。在这种条件下，如图 21所示，若使激光的焦点位于作为信息读出对象层511，则一部分激光作为光线82透过该层511，并被邻接层512反射，例如成为以反射光83表示的杂散光。该反射光83返回物镜 401，并入射到检测透镜402后，在光检测器51的跟前暂时聚光，如光束804所示，一边扩散一边入射到半导体检测器51。光束804在半导体检测器面上如图M所示，成为扩散的光点841，并为覆盖四个检测区域541的状态。因此，与同时存在于检测器上的光点811干涉。 该干涉被伴随层间隔的不均勻性的光点841的相位的变化影响，并变化。由该干涉导致的作为总光量的RF信号强度的波动引起RF信号的跳动的劣化，使数据读出时的误差率恶化。 另外，TE信号也同时被该干涉影响，在存在半导体检测器的位置偏离及光盘的倾斜等场合波动尤其增大，难以使光点追随旋转的光盘上的引导槽。邻接层512在读出对象层511靠近物镜的场合也从邻接层产生反射光，同样产生干涉问题。
技术实现思路
专利技术的目的在于，在光拾 取器装置中，减少来自上述其他层的干涉对TE、AF信号的影响。同时也以尽量减小半导体检测器的整体尺寸为目的。为了解决上述课题，在本专利技术中，在来自多层光盘的反射光的回路上使用被分割为多区域的衍射光栅，使来自衍射光栅的中心区域的衍射光在半导体检测器上的照射位置偏离光轴，防止杂散光入射到用于其他控制信号的感光度区域。另外，通过将衍射光栅的中心区域分割为第一区域和第二区域，减小半导体检测器的整体尺寸。本专利技术的光拾取器装本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种光拾取器装置，其特征在于，具有：激光光源；使来自激光光源的激光在多层光信息存储媒体中选择的一个记录层上聚光的照射光聚光光学系统；以及检测从上述多层光信息存储媒体中的上述选择的记录层反射的反射光的检测光学系统，上述检测光学系统具有：检测透镜；具有多个感光度区域的半导体检测器；以及位于上述检测透镜和上述半导体检测器之间且被分割为多个区域的多区域衍射光栅，来自上述多区域衍射光栅的多个区域中包括光轴的中心区域的衍射光在上述半导体检测器上的照射位置比来自其他分割区域的衍射光在上述半导体检测器上的照射位置更远离上述光轴。
【技术特征摘要】
2010.05.28 JP 2010-1231121.一种光拾取器装置，其特征在于，具有激光光源；使来自激光光源的激光在多层光信息存储媒体中选择的一个记录层上聚光的照射光聚光光学系统；以及检测从上述多层光信息存储媒体中的上述选择的记录层反射的反射光的检测光学系统，上述检测光学系统具有检测透镜；具有多个感光度区域的半导体检测器；以及位于上述检测透镜和上述半导体检测器之间且被分割为多个区域的多区域衍射光栅，来自上述多区域衍射光栅的多个区域中包括光轴的中心区域的衍射光在上述半导体检测器上的照射位置比来自其他分割区域的衍射光在上述半导体检测器上的照射位置更远离上述光轴。2.根据权利要求1所述的光拾取器装置，其特征在于，上述多区域衍射光栅的中心区域被通过光轴的直线分割为第一区域和第二区域，来自上述第一区域及上述第二区域的衍射光分别是一条。3.根据权利要求2所述的光拾取器装置，其特征在于，以下述方式决定上述第一区域及上述第二区域的衍射方向在来自上述多层信息存储媒体中的上述选择的记录层以外的记录层的杂散光中，通过上述第一区域及上述第二区域且在上述半导体检测器上为最大形状的杂散光在上述半导体检测器上为凸部朝向与光轴相反侧的形状。4.根据权利要求3所述的光拾取器装置，其特征在于，上述杂散光的全部聚光点位于比上述多区域衍射光栅靠上述半导体检测器侧，来自上述第一区域的衍射光的方向及来自上述第二区域的衍射光的方向是通过光轴且互相相交的方向，透过上述第一区域及上述第二区域的上述杂散光在上述半导体检测器上不照射检测通过上述第一区域及上述第二区域的、来自上述被选择的记录层的反射光的感光度区域以外的感光度区域。5.根据权利要求3所述的光拾取器装置，其特征在于，在比上述多区域衍射光栅靠上述检测透镜侧具有聚光位置的杂散光透过上述第一区域及上述第二区域后，成为在上述半导体检测器上为最大形状的杂散光，来自上述第一区域的衍射光的方向及来自上述第二区域的衍射光的方向是不通过光轴且从各自区域远离的方向，透过上述第一区域及上述第二区域的杂散光不照射检测通过上述第一区域及上述第二区域的、来自上述被选择...
【专利技术属性】
技术研发人员：木村茂治，
申请(专利权)人：日立视听媒体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP
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