本发明专利技术公开了接触器触头参数的测试装置及方法。测试装置包括驱动电机和由驱动电机驱动的丝杆，还包括一由所述丝杆传动的测试头，其中，所述测试头包括，测试固定台，所述测试固定台两端分别设有第一凸起和第二凸起；测针，所述测针从所述第一凸起穿出；导电柱，所述导电柱固定于所述第二凸起，所述测针与所述导电柱之间有间隙；弹簧，所述测针穿过弹簧的轴心；信号采集单元，所述信号采集单元一端与所述测针电连接，另一端与所述导电柱电连接。采用上述技术方案，取得的有益效果是：接触器开距与超程的测试过程完全自动化，不需要考虑人为的因素导致测试的数据不准确。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电器产品参数的测试装置及方法，特别涉及。
技术介绍
接触器不仅能接通和切断电路，而且还具有低电压释放保护作用。接触器是控制电路控制系统中的重要元件之一。它的精密程度直接影响到自动控制系统的稳定性和安全性。接触器的开距与超程参数是影响接触器精密程度的最重要的参数之一。在传统的开距与超程测试过程中，多采用卡尺进行测量。测试过程是当卡尺的深度尺头部接触接触器的触头，在卡尺上记录一个位置，深度尺顶着触头继续前行至接触器内部的动触点与静触点接触，此时测试灯亮。由此测试出接触器的开距。这种测试方式的测试精度受限于操作者的责任心，身体素质，操作熟练程度等多因素的影响。
技术实现思路
本专利技术为解决现有技术中存在的技术问题，提供了一种能精确且自动测试接触器触头参数的测试装置及其测试方法，接触器触头参数包括接触器的开距和超程。接触器的开距是指接触器动触点和静触点之间的间隙。接触器通电吸合时，接触器动静触点导通时触头的位置至接触器触头被磁力吸合时的极限位置，两位置的距离即超程，即触点导通后多行走的距离。在测试接触器的开距时，因接触器的动触点与触头之间不会产生相对位移， 所以测试过程中触头的位移即为动触点的位移。本专利技术解决上述技术问题，提供的技术方案是提供接触器触头参数的测试装置， 包括一驱动电机和一由驱动电机驱动的丝杆，还包括一由所述丝杆传动的测试头，其中，所述测试头包括，一测试固定台，所述测试固定台两端分别设有第一凸起和第二凸起；一测针，所述测针从所述第一凸起穿出；一导电柱，所述导电柱固定于所述第二凸起，所述测针与所述导电柱之间有间隙；一弹簧，所述测针穿过弹簧的轴心；一信号采集单元，所述信号采集单元一端与所述测针电连接，另一端与所述导电柱电连接。作为本专利技术的一优选方案，所述测针上设有第一限位套和第二限位套，所述弹簧一端与所述第一限位套接触，另一端与所述第一凸起的外壁接触，所述第二限位套位于所述第一凸起的内壁。作为本专利技术的另一优选方案，所述第二凸起的内壁设有一弹簧座，所述弹簧一端固定于所述测针，另一端固定于所述弹簧座。作为本专利技术的再一优选方案，所述测针的头部设有一钳状测头。作为本专利技术的又一优选方案，所述测针与所述导电柱之间的间隙为0.5mm 1. Omm0本专利技术解决现有技术中存在的技术问题，还提供了一种接触器触头参数的测试方法，包括以下步骤，步骤A，驱动电机通过丝杆带动测试头的测针向接触器的触头移动；步骤B，测试头测针的头部接触触头并被触头压回，测试头测针的尾部与导电柱接触从而产生第一电信号；步骤C，信号采集单元接收该第一电信号，即记录为触头的初始位置；步骤D，测试头的测针在驱动电机作用下继续顶着触头前行，当动触点与静触点接触时产生第二电信号；步骤E，信号采集单元接收该第二电信号，即记录为触头行进距离的终点位置。上述步骤可以实现测试接触器的开距，测试完接触器的开距后，还可以包括以下步骤，步骤F，驱动电机停止运动并对接触器的线圈进行通电，动触点与静触点在瞬间吸合；步骤G，测试头的测针在弹簧弹力作用下被弹出继续与触头接触，测试头测针的尾部与导电柱断开；步骤H，信号采集单元采集测试头尾部与导电柱断开的第三电信号，并记录此时触头的位置信息；步骤I，驱动电机启动并带动测针前行，当导电柱与测试头的尾部再次接触时，产生第四电信号；步骤J，信号采集单元采集到该第四电信号，并记录此时触头的位置信息。上述步骤F至步骤J是测试接触器超程的过程。采用上述技术方案，相对于现有技术，取得的有益效果是(1)接触器开距与超程的测试过程完全自动化，不需要考虑人为的因素导致测试的数据不准确。( 测针的头部可以根据接触器的多种形状，进行相应的设计。如钳状测头或直杆状测头等。(3)接触器的开距与超程的测试可连续测试，无需更换组件，也无需对组件进行调整，提高测试效率。附图说明图1是本专利技术所述的接触器触头参数的测试装置示意图；图2是本专利技术所述的测试装置的测试头第一实施例示意图；图3是本专利技术所述的测试装置的测试头第二实施例示意图；图4是本专利技术所述的测试装置的测试头第二实施例俯视图；图5是本专利技术所述的接触器触头参数的测试装置及接触器的结构示意图；图6是本专利技术所述的测试装置测试接触器开距的流程图；图7是本专利技术所述的测试装置测试接触器超程的流程图。具体实施例方式下面结合附图及具体实施方式详细说明本专利技术的技术方案。如图1、图2所示，本专利技术所述的一种接触器触头参数的测试装置，包括驱动电机14、由驱动电机14驱动的丝杆12和由丝杆12传动的测试头10 ；测试头10包括测试固定台沈、测针20、导电柱M、弹簧22和信号采集单元16，测试固定台沈两端分别设有第一凸起26a和第二凸起^b，测针20从第一凸起26a穿出，导电柱M固定于第二凸起^b，测针 20与导电柱M之间有间隙，测针20穿过弹簧22的轴心，信号采集单元16 —端与测针20 电连接，另一端与导电柱M电连接。驱动电机14通过伺服电机座11固定在轴承座13上， 轴承座13固定于支座17上，测试头10固定在移动支架15上，移动支架15固定于滑块19 上。固定于移动支架15上的测试头20可以在丝杆的带动下移动。如图2所示，本专利技术所述的接触器触头参数测试装置的测试头第一实施例示意图。测试头10的测针20上设有第一限位套21a和第二限位套21b，弹簧22 —端与第一限位套21a接触，弹簧22的另一端与第一凸起^a的外壁接触，因此弹簧22被限位于第一限位套21a与第一凸起^a的外壁之间，弹簧22处于预压缩状态。第二限位套21b位于第一凸起26a的内壁，也即第一凸起^a与第二凸起26b之间，第二限位套21b可对弹簧22进行限位。测针20的头部是针状针头20a。测针20的尾部20b与导电柱M之间的间隙距离 Δ，弹簧22的弹性系数需根据接触器内部的弹簧的弹性系数来设定，以满足测针在回退间隙距离Δ时，触头没有发生位移。优选地，间隙距离Δ可选0.5mm至1.0mm。如图3、图4所示，本图示出接触器触头参数测试装置的测试头第二实施例示意图。在本实施例中，弹簧22设于第一凸起^a的内壁，也即第一凸起与第二凸起26b 之间；同时，在第二凸起的内壁设有弹簧座23，弹簧22的一端固定于弹簧座23上，另一端固定于测针20上，测针20的尾部20b与导电柱24之间的间隙距离Δ 2与第一实施例中的Δ取值范围相同。弹簧22设于第一凸起26a与第二凸起26b之间，可使测试头10的结构更加紧凑。本实施例中，测针20的针头20a是钳状测头，可根据需要进行更换成其它形状的针头。结合图5、图6说明本专利技术所述的接触器开距、超程的测试方法。接触器30设有动触点32、静触点34、接触器内弹簧36及触头38，接触器内弹簧36的两端分别顶在铁芯37 和线圈39之间。步骤A，驱动电机14通过丝杆12带动测试头10的测针20向接触器30的触头38 移动；步骤B，测试头10测针20的头部20a接触触头38并被触头38压回，测试头10的测针20的尾部20b与导电柱M接触从而产生第一电信号；步骤C，信号采集单元16接收该第一电信号，即记录为触头38的初始位置； 步骤D，测试头10的测针20在驱动电机14作用下继续顶着触头38前行，当动触点32与静触点34接触时产生第二电信本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．接触器触头参数的测试装置，包括一驱动电机和一由驱动电机驱动的丝杆，其特征在于，还包括一由所述丝杆传动的测试头，其中，所述测试头包括，一测试固定台，所述测试固定台两端分别设有第一凸起和第二凸起；一测针，所述测针从所述第一凸起穿出；一导电柱，所述导电柱固定于所述第二凸起，所述测针与所述导电柱之间有间隙；一弹簧，所述测针穿过弹簧的轴心；一信号采集单元，所述信号采集单元一端与所述测针电连接，另一端与所述导电柱电连接。
【技术特征摘要】
1.接触器触头参数的测试装置，包括一驱动电机和一由驱动电机驱动的丝杆，其特征在于，还包括一由所述丝杆传动的测试头，其中，所述测试头包括，一测试固定台，所述测试固定台两端分别设有第一凸起和第二凸起； 一测针，所述测针从所述第一凸起穿出；一导电柱，所述导电柱固定于所述第二凸起，所述测针与所述导电柱之间有间隙； 一弹簧，所述测针穿过弹簧的轴心；一信号采集单元，所述信号采集单元一端与所述测针电连接，另一端与所述导电柱电连接。2.根据权利要求1所述的接触器触头参数的测试装置，其特征在于，所述测针上设有第一限位套和第二限位套，所述弹簧一端与所述第一限位套接触，另一端与所述第一凸起的外壁接触，所述第二限位套位于所述第一凸起的内壁。3.根据权利要求1所述的接触器触头参数的测试装置，其特征在于，所述第二凸起的内壁设有一弹簧座，所述弹簧一端固定于所述测针，另一端固定于所述弹簧座。4.根据权利要求1所述的接触器触头参数的测试装置，其特征在于，所述测针的头部设有一钳状测头。5.根据权利要求1所述的接触器触头参数的测试装置，其特征在于，所述测针与所述导电...
【专利技术属性】
技术研发人员：施晓红，胡熙鹏，雷鸣，
申请(专利权)人：厦门精合电气自动化有限公司，
类型：发明
国别省市：92
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