【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种检测装置，特别涉及一种亚微米颗粒粒径测量装置。
技术介绍
颗粒物质在日常生活和工业生产中有着广泛应用，其尺寸大小关系到工业流程、 产品质量、能源消耗及生产过程的安全性。因此，颗粒粒径的准确快速测量意义重大。光散射法以其适用范围广、使用限制少、测量速度快、支持在线测量等优势成为应用最广泛的粒径测量法。目前应用较多的光散射法有衍射散射法、角散射法、动态光散射法以及后向散射谱分析法等。后向散射谱分析法出现较晚，但发展很快，近年来成为粒径测量领域研究的热点。其原理为石英卤素灯照射单分散颗粒系，光谱仪接收后向180°散射光信号并输入计算机，计算机对光谱数据进行快速傅里叶变换(FFT)，得到呈单峰特性的频谱图，频谱图峰值位置与颗粒粒径存在线性关系，选取标准颗粒标定得到此函数关系，然后通过测量待测颗粒后向散射光谱得到颗粒粒径。此装置存在的缺陷是石英卤素灯波长范围主要集中在可见光和红外波段，对大粒径颗粒测量精度较高，但对于粒径小于1 μ m的亚微米颗粒测量误差较大，一般在5%以上；光路一般采用透镜组，结构复杂且调试困难。
技术实现思路
本技术是针对现有的测量装置对小颗粒测量精度差，调试困难的问题，提出了一种亚微米颗粒粒径测量装置，解决亚微米颗粒的测量精度问题，而且能减小测量装置体积，有利于在线测量。本技术的技术方案为一种亚微米颗粒粒径测量装置，氙灯出射的白光经过滤光片滤光后，经聚焦透镜聚焦耦合到入射光纤，照射样品池中的颗粒，出射光纤将颗粒后向散射光传导至光谱仪，光谱仪采集光谱数据输入计算机。所述滤光片为截止波长为400nm的紫外滤光片。所述入射光纤和出射光纤为...
【技术保护点】
１．一种亚微米颗粒粒径测量装置，其特征在于，氙灯（１）出射的白光经过滤光片（２）滤光后，经聚焦透镜（３）聚焦耦合到入射光纤（４），照射样品池（５）中的颗粒，出射光纤（６）将颗粒后向散射光传导至光谱仪（７），光谱仪采集光谱数据输入计算机（８）。
【技术特征摘要】
1.一种亚微米颗粒粒径测量装置，其特征在于，氙灯(1)出射的白光经过滤光片(2)滤光后，经聚焦透镜(3)聚焦耦合到入射光纤(4)，照射样品池(5)中的颗粒，出射光纤(6)将颗粒后向散射光传导至光谱仪(7)，光谱仪采集光谱数据输入计算机(8...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨依枫，杨晖，郑刚，刘国斌，邢世通，
申请(专利权)人：上海理工大学，
类型：实用新型
国别省市：31
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