本发明专利技术提供了一种面板测试治具,包括:底座、承载于底座上的背光模块、两导引构件、枢接至底座的上盖、两拉杆及清洁杆。导引构件分别平行地设置于底座上,且背光模块位于导引构件之间。每一拉杆具有第一端以及第二端。第一端枢接至上盖。第二端可滑动地连接至对应的导引构件。清洁杆连接于第二端之间,并接触背光模块的上表面。在上盖相对底座开启或闭合期间,每一拉杆受上盖带动而同时相对上盖与底座转动,致使第二端相对对应的导引构件滑动,并带动清洁杆往复地擦拭上表面。采用本发明专利技术,可在操作面板测试治具的同时清洁面板测试治具的背光模块,并有效地达到减少额外的人力浪费以及提高清洁效果的功效。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种面板测试治具以及治具清洁方法。
技术介绍
显示装置中的面板单元在制作完成之后,必须利用面板测试机台产生测试信号, 将面板单元送入面板测试机台中,以确认面板单元是否可以正确运作。由于刚由生产线完成制作的面板单元还没有设置讯号排线或是电连接器,因此这时候面板测试机台必须透过具备探针的面板测试治具,来对面板单元输入测试讯号。面板测试治具是以探针接触面板单元边缘外露的信号接点(Contact Pad)来达成电性连接,而将测试信号传送至待测试的面板单元上。目前用来测试液晶显示装置中的面板单元的面板测试治具,在利用电测画面检验面板时为了提高测试的准确度,必须维持面板测试治具的背光模块的洁净度。因此,测试人员必须使用无尘布(或其它相关清洁物品)对面板测试治具的背光模块进行擦拭清洁。然而,就现有的面板测试治具而言,每片面板单元在检测完成后,都需要测试人员使用无尘布对面板测试治具的背光模块进行擦拭清洁,使得平均每个面板测试治具会造成 15%的人力浪费。而且,由于每个面板测试治具皆是人为擦拭,因此有很大的机会发生测试人员忘了清洁的疏忽。再者,面板测试治具的边框附近往往无法彻底清洁,因此也无法保证清洁效果能达到所需的标准。因此,如何解决上述问题,成为一项值得研究的问题。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的目的之一在于,提供一种,用以减少额外的人力浪费以及提高清洁功效。根据本专利技术的一个方面,提供一种面板测试治具用以测试面板单元,包括底座、背光模块、两导引构件、上盖、两拉杆、清洁杆以及下板。背光模块承载于底座上。两导引构件分别平行地设置于底座上,并且背光模块位于导引构件之间。上盖枢接至底座。每一拉杆具有第一端以及第二端。第一端枢接至上盖。第二端可滑动地连接至对应之导引构件。清洁杆连接于第二端之间,并接触背光模块的上表面。下板承载于底座上并位于清洁杆上方。 下板包含出光口。面板单元承载于下板上并正对出光口。当上盖相对底座闭合时,面板单元夹持于上盖与下板之间。在上盖相对底座开启或闭合期间,每一拉杆受上盖带动而同时相对上盖与底座转动,致使第二端相对对应的导引构件滑动,并带动清洁杆往复地擦拭背光模块的上表面。优选地,面板测试治具的每一导引构件包括两固定块以及导杆,固定块设置于底座上,并且导杆连接于固定块之间。优选地,面板测试治具还包括两滑动块,每一滑动块枢接至对应的第二端,并可滑动地套设至对应的导杆上。清洁杆连接于滑动块之间。优选地,面板测试治具的清洁杆还包括两杆体以及清洁片,两杆体分别连接于滑动块之间,清洁片设置于杆体之间,用以随杆体移动而擦拭背光模块的上表面。优选地,面板测试治具的杆体分别锁附至滑动块,清洁片夹挤以固定于杆体之间。优选地,面板测试治具的清洁片为硅胶片。优选地,当上盖相对底座闭合时,拉杆平行导杆。优选地,面板测试治具的背光模块还包括背光单元、偏光片以及光学玻璃。背光单元承载于底座上,偏光片设置于背光单元上,光学玻璃设置于偏光片上。光学玻璃包括上表面,用以受清洁杆擦拭。优选地,面板测试治具的上盖还包括检测窗,当上盖相对底座闭合时,检测窗正对面板单元与出光口。根据本专利技术的另一个方面,提供一种治具清洁方法用以在测试面板单元期间进行清洁。包括提供面板测试治具,面板测试治具包括底座、承载于底座上的背光模块、分别平行地设置于底座上的两导引构件、枢接至底座的上盖、两拉杆、清洁杆以及承载于底座上的下板,其中每一拉杆的第一端枢接至上盖,每一拉杆的第二端可滑动地连接至对应的导引构件,且清洁杆连接于第二端之间。放置面板单元于下板上。闭合上盖至底座,进而带动拉杆同时相对上盖与底座转动,致使第二端分别相对对应的导引构件滑动,并带动清洁杆对背光模块的上表面进行第一次擦拭。开启上盖离开底座,进而带动拉杆同时相对上盖与底座转动,致使第二端分别相对对应之导引构件滑动,并带动清洁杆对上表面进行第二次擦拭。取出放置于下板上的面板单元。采用本专利技术的,能够在操作面板测试治具时同时清洁面板测试治具的背光模块,并有效地达到减少额外的人力浪费以及提高清洁效果的功效。附图说明为让本专利技术上述目的和其它特征、优点与实施例能更明显易懂,所附附图的详细说明如下图1示出了依照本专利技术一实施例的面板测试治具的立体图;图2示出了图1中的面板测试治具的立体图,其中上盖相对底座完全开启,并且承载于底座上的下板已取下;图3示出了图2中的面板测试治具的立体图,其中上盖相对底座完全闭合;图4示出了图1中的面板测试治具的俯视图;图5示出了图2中的清洁杆的局部立体图;图6示出了图2中的背光模块的局部侧视图;图7示出了依照本专利技术一实施例的治具清洁方法的流程图。具体实施例方式下面参照附图,对本专利技术的实施方式作进一步的详细描述。根据本专利技术的一个方面,提供一种面板测试治具。更具体地说,其主要可在显示装置的面板单元在进行电测流程期间,藉由面板测试治具的上盖相对底座开启与闭合的动作以带动连接上盖的拉杆,进而连动清洁杆以分别清洁面板测试治具中的背光模块的上表面两次。换言之,本专利技术的面板测试治具可在对面板单元测试前与测试后,各对面板测试治具中的背光模块清洁一次。藉此,在操作本专利技术的面板测试治具时,即可同时清洁面板测试治具的背光模块,并有效地达到减少额外的人力浪费以及提高清洁效果的功效。图1示出了依照本专利技术一实施例的面板测试治具1的立体图。图2示出了图1中的面板测试治具1的立体图,其中上盖16相对底座10完全开启,并且承载于底座10上的下板22已取下。图3示出了图2中的面板测试治具1的立体图,其中上盖16相对底座10 完全闭合。如图1至图3所示,在本实施例中,本专利技术的面板测试治具1主要可用来测试面板单元。本实施例的面板测试治具1包括底座10、背光模块12、两导引构件14、上盖16、两拉杆18、清洁杆20以及下板22。面板测试治具1的背光模块12可承载于底座10上。面板测试治具1的两导引构件14分别平行地设置于底座10上,藉以使得背光模块12位于导引构件14之间。面板测试治具1的上盖16枢接至底座10。面板测试治具1的每一拉杆18 皆具有第一端180以及第二端182。拉杆18的第一端180枢接至上盖16,并且拉杆18的第二端182可滑动地连接至对应的导引构件14。面板测试治具1的清洁杆20连接于两拉杆18的第二端182之间,并接触背光模块12的上表面12如。面板测试治具1的下板22承载于底座10上并位于清洁杆20上方。面板测试治具1的下板22包括出光口 220。面板测试治具1的下板22可承载面板单元(未绘示),使得正面板单元对出光口 220,并可藉由背光模块12发光而通过下板22的出光口 220而到达面板单元。当面板测试治具1的上盖 16相对底座10闭合时,面板单元即夹持于上盖16与下板22之间,并可进行电测程序。在面板测试治具1的上盖16相对底座10开启或闭合期间,每一拉杆18会受上盖16带动而同时相对上盖16与底座10转动,致使每一拉杆18的第二端182相对各自对应的导引构件 14滑动,并带动清洁杆20往复地擦拭背光模块12的上表面12如。如图1所示,在本实施例中,面板测试治具1的每一导引构件14都包括两固定块 140以及导杆142。导引构件14的固定块140设置于底座10上,并且导引本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种面板测试治具,用以测试一面板单元,其特征在于,所述面板测试治具包括:一底座;一背光模块,承载于所述底座上;两导引构件,分别平行地设置于所述底座上,所述背光模块位于所述导引构件之间;一上盖,枢接至所述底座;两拉杆,每一所述拉杆具有一第一端以及一第二端,所述第一端枢接至所述上盖,所述第二端可滑动地连接至对应的所述导引构件;一清洁杆,连接于所述第二端之间,并接触所述背光模块的一上表面;以及一下板,承载于所述底座上并位于所述清洁杆上方,所述下板包括一出光口,所述面板单元承载于所述下板上并正对所述出光口,当所述上盖相对所述底座闭合时,所述面板单元夹持于所述上盖与所述下板之间;在所述上盖相对所述底座开启或闭合期间,所述每一拉杆受所述上盖带动而同时相对所述上盖与所述底座转动,致使所述第二端相对对应的所述导引构件滑动,并带动所述清洁杆往复地擦拭所述上表面。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:王宏振,胡琼,矫远君,
申请(专利权)人:友达光电苏州有限公司,友达光电股份有限公司,
类型:发明
国别省市:32
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