一种框架机构，该框架机构包括第一工作框架，以提供第一扫描器的第一扫描区域；第一框架，以支撑第一面板，该第一框架可枢转地耦合至该第一工作框架的第一侧，以便该第一框架可在折叠朝向与远离该第一扫描区域的折叠位置与展开位置之间环绕着该第一工作框架的第一侧而旋转；及第二框架，以支撑第二面板，该第二框架可枢转地耦合至该第一工作框架的第二侧，以便该第二框架可在折叠朝向与远离该第一扫描区域的折叠位置与展开位置之间环绕着该第一工作框架的第二侧而旋转，其中该第一扫描区域允许该第一扫描器在当上述这些第一与第二框架其中之一者位于该折叠位置处而另一者位于该展开位置处时，扫描上述这些第一与第二框架其中之一者。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学检测，特别涉及一种用于光学检测系统中的框架机构。
技术介绍
显示装置，例如液晶显示器(Liquid crystal display, LCD)装置，用于电子式显示包括文字、影像及动画的资讯。LCD可包括数层，例如偏光滤光片，玻璃基板，彩色滤光板， 液晶及反射表面，其可决定该LCD的品质。为了检查LCD是否为合格LCD，有时候可运用肉眼检测。但是，肉眼检测在LCD的大量生产当中代表耗时、耗工及不准确。再者，随着半导体制造的进步，由肉眼检测来检查具缩小尺寸的特征的IXD产品可能变得更为困难。在名为“检测系统”的美国第12/732586号专利申请案(以下称之为“586申请案”)当中(由本申请案其中之一专利技术人郭上鲲等于2010年3月沈日提出申请)已经公开一种使用扫瞄器来检测物件的缺陷或特征的检测系统。图1所示为586申请案的图IA 的复制，其例示光学检测用的系统10。请参照图1，系统10可包括进行检测的产品，例如面板11，扫描器12，信号产生器14，分析装置16及支撑框架13。要进行检测的面板11可通过例如操作者来放置在支撑框架13当中。但是在检测之前，一般可进行用于面板11的预热程序来确保检测品质。根据面板尺寸，该预热可耗用例如20秒，因此会减慢该检测程序。因此需要一种框架机构，其可便于连续检测而不会危及检测品质。
技术实现思路
本专利技术的实施例可提供一种框架机构，用于在检测系统中支撑面板，让扫描器进行光学扫描。该框架机构包括第一工作框架，用于提供第一扫描器的第一扫描区域，第一框架，用于支撑第一面板，该第一框架可枢转地耦合至该第一工作框架的第一侧，以便该第一框架可在该第一框架折叠朝向该第一扫描区域的折叠位置与该第一框架远离该第一扫描区域的展开位置之间环绕着该第一工作框架的第一侧而旋转；及第二框架，用于支撑第二面板，该第二框架可枢转地耦合至该第一工作框架的第二侧，以便该第二框架可在该第二框架折叠朝向该第一扫描区域的折叠位置与该第二框架远离该第一扫描区域的展开位置之间环绕着该第一工作框架的第二侧而旋转，其中该第一扫描区域允许该第一扫描器在当上述这些第一与第二框架其中之一者位于该折叠位置处而上述这些第一与第二框架之另一者位于该展开位置处时，扫描上述这些第一与第二框架其中之一者。本专利技术的一些实施例亦可提供一种框架机构，用于在检测系统中支撑面板，让扫描器进行光学扫描。该框架机构包括第一工作框架，用于提供第一扫描器的第一扫描区域； 第二工作框架，用于提供该第一扫描器的第二扫描区域；第一框架，用于支撑第一面板，该第一框架可枢转地耦合至该第一工作框架的第一侧，以便该第一框架可在该第一框架折叠朝向该第一扫描区域的折叠位置与该第一框架远离该第一扫描区域的展开位置之间环绕着该第一工作框架的第一侧而旋转；第二框架，用于支撑一第二面板，该第二框架可枢转地耦合至该第二工作框架的第一侧，以便该第二框架可在该第二框架折叠朝向该第二扫描区域的折叠位置与该第二框架远离该第二扫描区域的展开位置之间环绕着该第二工作框架的第一侧而旋转；及一旋转器，用于旋转该第一扫描器，以便该第一扫描器可调适成在一个方向上扫描该第一框架，并在该相反方向上扫描该第二框架。本专利技术的实施例仍可提供一种框架机构，用于在检测系统中支撑面板，让扫描器进行光学扫描。该框架机构包括第一工作框架，用于提供第一扫描器的第一扫描区域；第二工作框架，其平行于该第一工作框架延伸，用于提供第二扫描器的第二扫描区域；第一框架，用于支撑第一面板，该第一框架可枢转地耦合至该第一工作框架的第一侧，以便该第一框架可在该第一框架折叠朝向该第一扫描区域的折叠位置与该第一框架远离该第一扫描区域的展开位置之间环绕着该第一工作框架的第一侧而旋转；第二框架，用于支撑第二面板，该第二框架可枢转地耦合至该第一工作框架的第二侧，以便该第二框架可在该第二框架折叠朝向该第一扫描区域的折叠位置与该第二框架远离该第一扫描区域的展开位置之间环绕着该第一工作框架的第二侧而旋转；第三框架，用于支撑第三面板，该第三框架可枢转地耦合至该第二工作框架的第一侧，以便该第三框架可在该第三框架折叠朝向该第二扫描区域的折叠位置与该第三框架远离该第二扫描区域的展开位置之间环绕着该第二工作框架的第一侧而旋转；及第四框架，用于支撑第四面板，该第四框架可枢转地耦合至该第二工作框架的第二侧，以便该第四框架可在该第四框架折叠朝向该第二扫描区域的折叠位置与该第四框架远离该第二扫描区域的展开位置之间环绕着该第二工作框架的第二侧而旋转。在下文的说明中将部分提出本专利技术的其他特点与优点，而且从该说明中将了解本专利技术其中一部分，或者通过实施本专利技术亦可获知。通过权利要求中特别列出的元件与组合将可了解且达成本专利技术的特点与优点。应该了解的是，上文的概要说明以及下文的详细说明都仅供作例示与解释，其并未限制本文所主张的专利技术。附图说明当并同各说明书附图而阅览时，即可更佳了解本专利技术之前揭示的摘要以及上文详细说明。为达本专利技术的说明目的，各说明书附图中绘有实施例。然应了解本专利技术并不限于各实施例中所绘的精确排置方式及设备装置。在各说明书附图中图1为美国第12/732586号专利申请案的图IA的复制图；图2A为根据本专利技术实施例之一的框架机构的透视图；图2B为图2A所示的该框架机构的仰视图；图3为根据本专利技术另一实施例的框架机构的仰视图；图4A为根据本专利技术又另一实施例的框架机构的透视图；图4B为图4A所示的该框架机构的仰视图；图5A为根据本专利技术一实施例，在框架机构中托架的透视图；及图5B为根据本专利技术另一实施例，在框架机构中托架的透视图。主要元件标记说明10 系统11 面板12扫描器13支撑框架14信号产生器16分析装置20框架机构21第一框架22第二框架23第三框架对第四框架26 转枢27固定装置28 柱子29 托架30框架机构36旋转器38第一扫描器40框架机构48第二扫描器50 螺栓59 托架210 第一面板220 第二面板230第三面板240第四面板250 肋材251第一工作框架252第二工作框架258 轨道290 基座291，292 凸缘310 第一面板320 第二面板591，592 凸缘具体实施例方式现将详细参照于本专利技术实施例，其实施例图解于附图之中。尽其可能，所有图示中将依相同元件标记以代表相同或类似的部件。图2A为根据本专利技术一实施例的框架机构20的透视图。请参照图2A，框架机构20可包括第一框架21、第二框架22与第一工作框架251。第一框架21、第二框架22与第一工作框架251的每一个的形式可为实质长方形。第一工作框架251可提供第一扫描器38第一扫描区域来扫描一面板。第一框架21与第二框架22可调适成分别支撑第一面板210与第二面板220。具体而言，以第一框架21为例，第一面板210可由固定装置27固定于一对柱子观，其依次可被固定至第一框架21的一对托架四。柱子观可平行于第一方向延伸， 并可依需要的距离互相隔开来符合第一面板210之尺寸。第一框架21的托架四可与实质上垂直于该第一方向的第二方向平行延伸，并可被调适成将柱子观保持在定位。托架四的结构将在以下的段落中参照图5A与图5B做详细说明。第一框架21通过转枢沈可枢转地耦合至第一工作框架251的第一侧(未本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种框架机构，用于在检测系统中支撑面板，让扫描仪进行光学扫描，其特征是，该框架机构包含：第一工作框架，用于提供第一扫描仪的第一扫描区域；第一框架，用于支撑第一面板，该第一框架可枢转地耦合至上述第一工作框架的第一侧，以便上述第一框架可在上述第一框架折叠朝向上述第一扫描区域的折叠位置与上述第一框架远离上述第一扫描区域的展开位置之间环绕着该第一工作框架的第一侧而旋转；及第二框架，用于支撑第二面板，该第二框架可枢转地耦合至上述第一工作框架的第二侧，以便该第二框架可在上述第二框架折叠朝向上述第一扫描区域的折叠位置与上述第二框架远离该第一扫描区域的展开位置之间环绕着该第一工作框架的第二侧而旋转，其中上述第一扫描区域允许上述第一扫描仪在当上述这些第一与第二框架其中之一者位于上述折叠位置处而上述这些第一与第二框架的另一者位于该展开位置处时，扫描上述这些第一与第二框架其中之一者。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭上鲲，蔡荣华，李小麟，
申请(专利权)人：郭上鲲，
类型：发明
国别省市：71
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