本发明专利技术提供一种短路测试装置，用于测试一被测电路的短路情况，所述被测电路包括多个并联的电子元件，所述短路测试装置包括一用于判断该被测电路是否存在短路情况的判断电路及一用于查找该被测电路中的具体短路电子元件的查找电路，该判断电路电性连接至所述被测电路的任一电子元件的电源输入端，该查找电路电性连接至该被测电路的其中二电子元件的电源输入端，通过测试所述二电子元件的电源输入端之间是否存在电位差来判断该被测电路是否存在短路情况。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于电子装置的测试装置，尤其涉及一种短路测试装置。
技术介绍
在手机、电脑等电子装置的印刷电路板中集成有很多电子元件，例如常见的电容、 三极管等，这些电子元件常常可能由于焊接不当或异物阻塞等原因而导致发生短路的情况，从而使得印刷电路板不能正常工作。此时，则需要通过测试判断哪些电子元件发生了短路，然后将其更换或者对电路进行修复，以使印刷电路板能正常工作。当电路板线路中存在多个并联的电子元件时，无论这些并联的电子元件中的任何一个发生短路，都会在电路板线路上形成直流通路。此时电路板线路中的电阻阻值极小，使用万用表去测量线路上各个节点时，所测得的阻值均基本相同，难以精确地查找发生短路的位置。在这种情况下，一般只能从电路板上依次取下可能发生短路的电子元件，然后用万用表测量取下该电子元件后的电路板上的线路阻抗是否正常，若恢复正常，则说明短路是由该被取下的电子元件引起的；若电路板阻抗仍不正常，则还需要再取下其它被怀疑电子元件进行测试，如此逐个测试直到短路情况消除。显然，上述的短路测试方法花费时间较长，效率较低。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种能快速准确地测试多个电子元件并联电路的短路情况及查找短路点位置的短路测试装置。一种短路测试装置，用于测试一被测电路的短路情况，所述被测电路包括多个并联的电子元件，所述短路测试装置包括一用于判断该被测电路是否存在短路情况的判断电路及一用于查找该被测电路中的具体短路电子元件的查找电路，该判断电路电性连接至所述被测电路的任一电子元件的电源输入端，该查找电路电性连接至该被测电路的其中二电子元件的电源输入端，通过测试所述二电子元件的电源输入端之间是否存在电位差来判断该被测电路是否存在短路情况。相较于现有技术，所述的短路测试装置通过所述判断电路能快速准确地判断被测电路是否具有短路情况存在，同时通过所述查找电路可以直接测试各电子元件之间的电位差而快速地查找出短路的电子元件，明显提高了测试效率。附图说明图1为本专利技术较佳实施方式短路测试装置及一由多个电子元件并联而成的待测电路的电路图。图2为本专利技术较佳实施方式短路测试装置的判断电路的电路图。图3为本专利技术较佳实施方式短路测试装置的查找电路的电路图。主要元件符号说明短路测试装置100判断电路10第一开关11第一运算放大器Ull发光二极管Dll限流电阻Rll电阻R13、R15、R31、R32、R33、R34、R35、R36测试夹Pl查找电路30第二运算放大器U31第二开关31探针P2、P3报警器B31被测电路200电子元件Χ1、Χ2· . . XnXl-1, X2-1. . · Xn测试端Xl-2, X2-2. · · Xn具体实施例方式请参阅图1，本专利技术较佳实施方式的短路测试装置100适用于测试一由多个电子元件并联而成的被测电路200的短路情况。该短路测试装置100包括一判断电路10与一查找电路20。请参阅图1，一被测电路200为一由N个电子元件Xl至fti (η为大于1的整数)并联而成的并联电路，在本实施例中，电子元件Xl至紐通称为Xi (i = 1 η)。其中，所述电子元件Xi为电容、三级管及MOS型场效应晶体管等电阻阻值较大的电子元件。每一电子元件Xi均具有两测试端，即Xi-I及Xi-2，其中，Xl-1，X2-1. . . Xn-I电性连接于一起，X1-2， X2-2. . . Xn-2电性连接于一起并接地。所述短路测试装置100包括一判断电路10及一查找电路30。所述判断电路10用于判断被测电路200是否存在短路情况；所述查找电路30用于查找该被测电路200中发生短路的具体电子元件。请参阅图2，所述判断电路10包括一第一运算放大器U11、一第一开关11、一发光二极管D11、一限流电阻R11、二电阻R13、R15及一测试夹P1。所述第一开关11包括一第一控制端，一第一连接端及一第二连接端。当第一控制端获得高电平时，可以驱动第一连接端与第二连接端相互导通；当第一控制端获得低电平时，第一开关11处于截止状态，第一连接端与第二连接端之间无法导通。所述第一开关11可以为三极管或MOS型场效应晶体管，在本实施例中，所述第一开关11为一 N沟道MOS型场效应晶体管。该N沟道MOS型场效应晶体管Qll的栅极、源极及漏极分别对应该第一控制端、第一连接端及第二连接端。所述第一运算放大器Ul 1的正相输入端及反向输入端分别连接至一电源VCC及所述测试夹P1，且该正相输入端及反向输入端之间通过所述限流电阻Rll相互串接，该第一运算放大器Ull的输出端通过电阻R13电性连接至所述第一开关11的第一控制端。该第一开关11的第一连接端接地，第二连接端电性连接至该发光二极管Dll的阴极。该发光二极管Dll的阳极通过所述电阻R15电性连接至电源VCC。另外，所述第一开关11也可以为一 NPN型三极管，该NPN型三极管的基极、发射极和集电极分别对应该第一开关11的第一控制端、第一连接端和第二连接端。请参阅图3，所述查找电路30包括一第二运算放大器U31、一 第二开关31、一报警器B31、电阻R31 R36及二探针P2、P3。所述第二开关31包括一第二控制端、一第三连接端及一第四连接端。当第二控制端获得高电平时，可以驱动第三连接端与第四连接端相互导通；当第二控制端获得低电平时，第二开关31处于截止状态，第三连接端与第四连接端之间无法导通。该第二开关31可以为三极管或者MOS型场效应晶体管，在本实施例中，所述第二开关31为一 NPN型三极管。该NPN型三极管Q31的基极、发射极和集电极分别对应该第二开关31的第二控制端、第三连接端和第四连接端。该第二运算放大器U31的正向输入端通过所述电阻R31电性连接至探针P2，该第二运算放大器U31的反向输入端通过所述电阻R32电性连接至探针P3，该第二运算放大器 U31的输出端通过所述电阻R35电性连接至所述第二开关31的第二控制端。所述第二开关 31的第四连接端电性连接至所述报警器B31 —端，该第二开关31的第三连接端接地。所述报警器B31的另一端通过所述电阻R36电性连接至电源VCC。所述电阻R33 —端电性连接至该第二运算放大器U31的反向输入端与电阻R32之间，另一端接地。所述电阻R34—端电性连接至第二运算放大器U31的正向输入端与电阻R31之间；另一端电性连接至该第二运算放大器U31的输出端与电阻R35之间。若探针P2及P3之间电位相等或基本相等，即探针P2及P3之间没有电位差或电位差极小，则第二运算放大器U31的输出端向第二开关31的第二控制端输出低电平，第二开关31保持截止，没有电流经过报警器B31，不会启动报警器B31发声；若探针P2及P3之间电位不相等，则探针P2及P3之间存在较大的电位差，会使得第二运算放大器U31的输出端向第二开关31的第二控制端输出高电平，驱动第二开关31的第三连接端与第四连接端之间相互导通，有电流经过报警器B31，可以启动B31发声报警。所述第二开关31也可以为一 N沟道MOS型场效应晶体管，该N沟道MOS型场效应晶体管的栅极、源极和漏极分别对应该第二开关31的第二控制端、第三连接端和第四连接端。使用所述短路测试装置100对被测电路200进行短路测试时，首先使用本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种短路测试装置，用于测试一被测电路的短路情况，所述被测电路包括多个并联的电子元件，其特征在于：所述短路测试装置包括一用于判断该被测电路是否存在短路情况的判断电路及一用于查找该被测电路中的具体短路电子元件的查找电路，该判断电路电性连接至所述被测电路的任一电子元件的电源输入端，该查找电路电性连接至该被测电路的其中二电子元件的电源输入端，通过测试所述二电子元件的电源输入端之间是否存在电位差来判断该被测电路是否存在短路情况。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：熊金良，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94
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