本实用新型专利技术公开了嵌入式RTC实时时钟评估测试装置，其特征在于，包括MCU，与MCU的计算模块(1)相连的温度传感器(2)和时钟基准模块(3)，还包括与MCU相连PC接口模块(4)、RTC接口模块(5)、LCD显示模块(6)和按键模块(7)。本实用新型专利技术可以用很短短的时间得到RTC实时时钟的补偿参数，实现RTC实时时钟的整个参数校正。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种实时时钟评估测试装置，特别是一种用于RTC实时时钟的嵌 入式评估测试装置。
技术介绍
RTC实时时钟一般选择晶振作时钟源。但随着温度变化，晶振的实际频率较标称值 会产生一定程度的偏差(温漂)。显而易见，温漂势必会影响RTC实时时钟精度。因此，在生产过程中，就需要对嵌RTC实时时钟进行参数校正，从而确定每颗晶振 的TC曲线。得到TC曲线后，就可得知任意温度下晶振实际频率相对标称值的偏差。RTC实 时时钟再针对这个偏差进行补偿，从而保证嵌入式RTC实时时钟精度。以32. 768K音叉晶振为例，需要注意的是，所有的32. 768K音叉晶振TC曲线的数 学模型都为二次曲线，如图2所示，但对个体来说，TC曲线互不相同、具有个体差异。对使用其他工艺加工的晶振来说也是一样，即使用同种工艺加工的晶振，它们的 数学模型是一样的，但个体之间的TC曲线不同。这也是需要对每个RTC实时时钟进行校正 的原因。
技术实现思路
本技术的目的在于，提供一种嵌入式RTC实时时钟评估测试装置。它可以用 很短短的时间得到RTC实时时钟的补偿参数，实现RTC实时时钟的整个参数校正。本技术的技术方案嵌入式RTC实时时钟评估测试装置，包括MCU，即微小处 理单元(可用MSP430F5438)，与MCU的计算模块相连的温度传感器，精度为士0. 5°C，能够 有效的获取环境温度值；时钟基准模块，利用该时钟基准模块做MCU定时器的时钟源，来捕获RTC实时时钟 的输出脉冲(Pulse)，从而获取晶振频率，此频率再跟标称频率比较，就可获取晶振频率误差。还包括与MCU相连PC接口模块、RTC接口模块、IXD显示模块和按键模块。其中IXD显示模块用来显示嵌入式RTC实时时钟评估测试装置操作提示信息，显 示获取得到的原始参数及经过计算的校正参数。整个参数校正过程均伴随着LCD提示信息。通过提示信息，用户可选择对应按键 模块进行参数校正操作。同时LCD显示模块也会显示校正参数值，供用户判断数据是否在 正常范围内。前述的嵌入式RTC实时时钟评估测试装置中，所述PC接口模块为RS-232接口。前述的嵌入式RTC实时时钟评估测试装置中，所述RTC接口模块为RS_232、SPI或 IIC 接口。前述的嵌入式RTC实时时钟评估测试装置中，所述时钟基准模块为误差士 Ippm的 IOM高精度有源晶振。与现有技术相比，本技术可以用很短短的时间得到RTC实时时钟的补偿参 数，实现RTC实时时钟的整个参数校正。如果RTC实时时钟的参数校正用手工操作，需要大 量的人力资源，而且相对来说，个人的生产效率也非常低下。除此之外，纯人工操作也会引 入很大的误差，因此，本技术不仅可以提高整体生产效率、提高成品率，而且误差较低。附图说明图1是本技术的结构示意图；图2是32. 768K音叉晶振的TC曲线。附图中的标记为1-计算模块，2-温度传感器，3-时钟基准模块，4-PC接口模块， 5-RTC接口模块，6-IXD显示模块，7-按键模块。具体实施方式以下结合附图和实施例对本技术作进一步的说明，但并不作为对本技术 限制的依据。实施例。嵌入式RTC实时时钟评估测试装置，如图1所示，包括MCU，与MCU的计算 模块1相连的温度传感器2和时钟基准模块3，还包括与MCU相连PC接口模块4、RTC接口 模块5、IXD显示模块6和按键模块7。所述PC接口模块4为RS-232接口。所述RTC接口 模块5为RS-232、SPI或IIC接口。所述时钟基准模块3为误差士 Ippm的IOM高精度有源晶振。RTC实时时钟都需要一个参数校正过程来确定晶振TC曲线，这个过程极其繁琐， 不仅要测量参数校正过程中的环境温度、晶振频率误差，还要根据晶振加工工艺对应的特 定数学模型，结合测量得到的环境温度跟晶振频率误差，计算出校正参数。基于此，利尔达推出了嵌入式RTC实时时钟测试评估系统，用户只需按照IXD屏的 提示信息进行操作，就能很方便的实现RTC实时时钟的整个参数校正过程，用最短的时间， 得到RTC实时时钟的补偿参数。获取待校正RTC实时时钟的原始参数，在获取原始参数完成后，根据晶振TC曲线 计算出校正参数，并将校正参数烧录至RTC实时时钟。工作原理将带测试的RTC实时时钟接入RTC接口模块5，通过时钟基准模块3和 温度传感器2获取原始参数，嵌入式RTC实时时钟评估测试系统的计算模块1来进行校正 参数的计算。根据获取的温度及该温度下的晶振频率误差值，结合MCU内存储的晶振TC曲 线的数学模型，就可计算得到晶振TC曲线各系数项值。这些系数项值通过嵌入式RTC实时 时钟评估测试系统的RTC接口发送给RTC实时时钟，将校正参数烧录至RTC实时时钟。本 技术的嵌入式RTC实时时钟评估测试系统预留出了两类接口。一类与PC相连的PC接 口模块，其接口类型为RS-232;另一类与RTC实时时钟相连RTC接口模块，其接口类型为 RS-232/SPI/IIC。根据不同类型RTC实时时钟的通讯接口，嵌入式RTC实时时钟评估测试 系统可选择与其匹配的接口进行通讯，通过这这个通讯接口，嵌入式RTC实时时钟评估测 试系统可向RTC实时时钟发送命令及数据(CMD&Data)，也可接收RTC实时时钟发送的命令 及数据(CMD&Data)。本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．嵌入式ＲＴＣ实时时钟评估测试装置，其特征在于，包括ＭＣＵ，与ＭＣＵ的计算模块（１）相连的温度传感器（２）和时钟基准模块（３），还包括与ＭＣＵ相连ＰＣ接口模块（４）、ＲＴＣ接口模块（５）、ＬＣＤ显示模块（６）和按键模块（７）。
【技术特征摘要】
1.嵌入式RTC实时时钟评估测试装置，其特征在于，包括MCU，与MCU的计算模块(1) 相连的温度传感器⑵和时钟基准模块(3)，还包括与MCU相连PC接口模块G)、RTC接口 模块(5)、LCD显示模块(6)和按键模块(7)。2.根据权利要求1所述的嵌入式RTC实时时钟评估测试装置，其特征在于所述PC接...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈磊，王丽花，
申请(专利权)人：利尔达科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：86
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