一种新型叶片总长检测量具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种新型叶片总长检测量具，其能有效解决现有叶片总长测具测量精度低、测量效果差的问题，结构简单，测量操作方便，测量结果准确、稳定，其测量结果不受操作人员操作水平的影响。其包括框架测具，其特征在于：其还包括测量座与导块，所述导块安装于所述框架测具，所述测量座两端通过滚动轴承安装于所述导块，在所述测量座中心上部安装有压紧座、下部安装有测量板，所述测量板上端连接有顶杆，所述顶杆安装于所述测量座中心的轴向台阶孔内，所述压紧座上安装有千分表，在测量过程中所述顶杆上端部与千分表表头接触。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及叶片检测工具领域，具体为一种新型叶片总长检测量具。
技术介绍
现有的叶片总长测具(见图1、图2)，其用定位卡板19置于框架测具检测叶片总 长的档位上，两排圆柱销与测量块18槽宽间隙配合。检测时，测量块以销定位，滑动至叶片 总长上，使用塞尺检测总长面漏光间隙值。其缺点在于由于采用原始的塞尺测量法，其测 量精度极低，且测量效率较低；另外，操作时需要始终保证测量块A面与定位卡板贴合无漏 光，为避免塞尺过量将测量块撑起，需要用手施加适度的力于测量块背面，若作用力过大， 则会压弯定位卡板，导致测量数据不准确，因此现有的总长测具对操作人员的操作水平要 求较高。
技术实现思路
针对上述问题，本技术提供了一种新型叶片总长检测量具，其能有效解决现 有叶片总长测具测量精度低、测量效果差的问题，结构简单，测量操作方便，测量结果准确、 稳定，其测量结果不受操作人员操作水平的影响。其技术方案是这样的，其包括框架测具，其特征在于其还包括测量座与导块，所 述导块安装于所述框架测具，所述测量座两端通过滚动轴承安装于所述导块，在所述测量 座中心上部安装有压紧座、下部安装有测量板，所述测量板上端连接有顶杆，所述顶杆安装 于所述测量座中心的轴向台阶孔内，所述压紧座上安装有千分表，在测量过程中所述顶杆 上端部与千分表表头接触。其进一步特征在于所述测量板通过螺钉安装于连接板，所述顶杆安装于所述连 接板；所述测量板下端面呈圆弧状，其在测量过程中始终保持与叶片总长面线接触；所述 导块根据叶片总长圆弧设置圆弧状、并通过键槽与所述框架测具相连接。本技术的一种新型叶片总长检测量具，其结构简单，使用方便，其测量过程和 测量结果较少受到人为操作影响，测量准确。附图说明图1为本技术的静叶片用型面三坐标检测量具主视结构示意图；图2为图1的俯视结构示意图；图3为本技术主视的结构示意图；图4为图3俯视的结构示意图；图5为图4左视的结构示意图。具体实施方式见图3、图4和图5，本技术包括框架测具15、测量座5与导块13，导块13安装于框架测具15，测量座5两端通过滚动轴承12安装于导块13，在测量座5中心上部安装 有压紧座2、下部安装有测量板6，测量板6上端连接有顶杆8，顶杆8安装于测量座5中心 的轴向台阶孔内16，压紧座上2安装有千分表14，在测量过程中顶杆8上端部与千分表14 表头接触。测量板6通过螺钉7安装于连接板16，顶杆8安装于连接板16 ；测量板6下端 面呈圆弧状，其在测量过程中始终保持与叶片总长面线接触；导块13根据叶片总长圆弧设 置为圆弧状、并通过键槽17与框架测具15相连接。图3中，9为螺帽，10为台阶销，17为 IOmm标准块；图4中，1、4均为螺钉，3为夹簧，11为圆柱销。 下面具体描述一下运用本技术检测叶片总长的过程将导块13固定于框架 测具15上，测量座5置于导块13上，放置IOmm标准块18于测量座5与测量板6之间，对 千分表14归零，然后取出IOmm标准块18，沿叶片内背方面滑动测量座5，同时读取千分表 读数，完成测量工作。权利要求1.一种新型叶片总长检测量具，其包括框架测具，其特征在于其还包括测量座与导 块，所述导块安装于所述框架测具，所述测量座两端通过滚动轴承安装于所述导块，在所述 测量座中心上部安装有压紧座、下部安装有测量板，所述测量板上端连接有顶杆，所述顶杆 安装于所述测量座中心的轴向台阶孔内，所述压紧座上安装有千分表，在测量过程中所述 顶杆上端部与千分表表头接触。2.根据权利要求1所述的一种新型叶片总长检测量具，其特征在于所述测量板通过 螺钉安装于连接板，所述顶杆安装于所述连接板。3.根据权利要求2所述的一种新型叶片总长检测量具，其特征在于所述测量板下端 面呈圆弧状，其在测量过程中始终保持与叶片总长面线接触。4.根据权利要求1所述的一种新型叶片总长检测量具，其特征在于所述导块根据叶 片总长圆弧设置圆弧状、并通过键槽与所述框架测具相连接。专利摘要本技术提供了一种新型叶片总长检测量具，其能有效解决现有叶片总长测具测量精度低、测量效果差的问题，结构简单，测量操作方便，测量结果准确、稳定，其测量结果不受操作人员操作水平的影响。其包括框架测具，其特征在于其还包括测量座与导块，所述导块安装于所述框架测具，所述测量座两端通过滚动轴承安装于所述导块，在所述测量座中心上部安装有压紧座、下部安装有测量板，所述测量板上端连接有顶杆，所述顶杆安装于所述测量座中心的轴向台阶孔内，所述压紧座上安装有千分表，在测量过程中所述顶杆上端部与千分表表头接触。文档编号G01B5/02GK201876216SQ20102061570公开日2011年6月22日 申请日期2010年11月20日 优先权日2010年11月20日专利技术者姜龙网, 张家军, 滕树新, 范非, 陈雄 申请人:无锡透平叶片有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种新型叶片总长检测量具，其包括框架测具，其特征在于：其还包括测量座与导块，所述导块安装于所述框架测具，所述测量座两端通过滚动轴承安装于所述导块，在所述测量座中心上部安装有压紧座、下部安装有测量板，所述测量板上端连接有顶杆，所述顶杆安装于所述测量座中心的轴向台阶孔内，所述压紧座上安装有千分表，在测量过程中所述顶杆上端部与千分表表头接触。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈雄，姜龙网，张家军，滕树新，范非，
申请(专利权)人：无锡透平叶片有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32