电缆网并行测试方法技术

技术编号:6667881 阅读:233 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开一种电缆网并行测试方法,第一步:将测试头与电缆网的芯相连;第二步:配置开关矩阵的导通顺序与数字IO的测试方式,预设被测对象的通断关系;第三步:将端口1的芯1与其它N-1个端口的芯1到芯m并行开关切换测量,每次测量N-1个导通关系;第四步:切换端口1芯1到芯2,重复第三步测量,直至切换到端口1的芯m;第五步:重复第三步、第四步测量端口2与端口3到端口N的通断关系,直至测量到端口N-1与端口N之间的通断关系;第六步:分析测量结果与标准关系,判读故障点。采用N-1组通道并行数字IO和N-1组通道矩阵开关模块配合,实现对N端口m线芯的复杂电缆网的并行通断检测。

【技术实现步骤摘要】

本方法属于通用测试领域,特别是一种针对复杂电缆网的快速检测系统。
技术介绍
在电缆网通断测试过程中,由于有些复杂电缆网具有多个端口,每个端口线芯大多非一一对应。要完整测量每两个端口线芯的导通情况,测试点繁多,工作量非常巨大。一个多端复杂电缆网测试次数可达几十万次,这么多测试点手动方式根本无法测量。《导弹地面电缆网的通用电缆检测平台》介绍了一种逐一向相关端口线芯加电,并判断通断或绝缘的设备。基于电缆网并行测量系统,提出了一种快速测试方法目前尚无文献涉及此类测试方法。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种,该,包括以下步骤第一步将测试头与电缆网的芯相连;第二步配置开关矩阵的导通顺序与数字IO的测试方式,预设被测对象的通断关系;第三步将端口 1的芯1与其它N-I个端口的芯1到芯m并行开关切换测量,每次测量N-I个导通关系;第四步切换端口 1芯1到芯2,重复第三步测量,直至切换到端口 1的芯m ;第五步重复第三步、第四步测量端口 2与端口 3到端口 N的通断关系,直至测量到端口 N-I与端口 N之间的通断关系;第六步分析测量结果与标准关系,判读故障点。本专利技术的有益效果由于选用矩阵开关的通道控制具有互斥性,可以完成每次的开关切换。测量一个N 端口 m线芯的复杂电缆网需要开关切换次数为错误!未找到引用源。,经实验数字IO并行处理器可每秒测量12组数据,采用数字IO测量时间为错误!未找到引用源。s本系统采用 N-I组通道并行数字IO和N-I组通道矩阵开关模块配合,实现对N端口 m线芯的复杂电缆网的并行通断检测。此电缆网需要测量的通断关系次数为错误!未找到引用源。。具体实施例方式对一个20端口 31芯的电缆网测量其导通关系。其需要测量的通断次数为164331次。接线适配器引出19个31芯接口,数字并行IO采用19路并行测量通道。其测量步骤如下步骤1 将端口 1的芯1与其它19个端口的芯1到芯31并行开关切换测量。每次可测量19个导通关系。步骤2 切换端口 1芯1到芯2,经过同上测量步骤,直至切换到端口 1的芯31。步骤3 同前两步骤的方法测量端口 2与端口 3到端口 20的通断关系,直至测量到端口 19与端口 20之间的通断关系。经过计算量一个20端口 31线芯的复杂电缆网需要开关切换次数为18259次。通过试验测量时间为25分钟。权利要求1.,其特征在于包括以下步骤 第一步将测试头与电缆网的芯相连;第二步配置开关矩阵的导通顺序与数字IO的测试方式,预设被测对象的通断关系; 第三步将端口 1的芯1与其它N-I个端口的芯1到芯m并行开关切换测量,每次测量 N-I个导通关系;第四步切换端口 1芯1到芯2,重复第三步测量,直至切换到端口 1的芯m ; 第五步重复第三步、第四步测量端口 2与端口 3到端口 N的通断关系,直至测量到端口 N-I与端口 N之间的通断关系;第六步分析测量结果与标准关系,判读故障点。全文摘要本专利技术公开一种,第一步将测试头与电缆网的芯相连;第二步配置开关矩阵的导通顺序与数字IO的测试方式,预设被测对象的通断关系;第三步将端口1的芯1与其它N-1个端口的芯1到芯m并行开关切换测量,每次测量N-1个导通关系;第四步切换端口1芯1到芯2,重复第三步测量,直至切换到端口1的芯m;第五步重复第三步、第四步测量端口2与端口3到端口N的通断关系,直至测量到端口N-1与端口N之间的通断关系;第六步分析测量结果与标准关系,判读故障点。采用N-1组通道并行数字IO和N-1组通道矩阵开关模块配合,实现对N端口m线芯的复杂电缆网的并行通断检测。文档编号G01R31/08GK102169151SQ20101054689公开日2011年8月31日 申请日期2010年11月16日 优先权日2010年11月16日专利技术者厚泽, 崔文涛, 徐沛虎, 王宏伟, 王超 申请人:北京航天测控技术开发公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.电缆网并行测试方法,其特征在于:包括以下步骤:第一步:将测试头与电缆网的芯相连;第二步:配置开关矩阵的导通顺序与数字IO的测试方式,预设被测对象的通断关系;第三步:将端口1的芯1与其它N-1个端口的芯1到芯m并行开关切换测量,每次测量N-1个导通关系;第四步:切换端口1芯1到芯2,重复第三步测量,直至切换到端口1的芯m;第五步:重复第三步、第四步测量端口2与端口3到端口N的通断关系,直至测量到端口N-1与端口N之间的通断关系;第六步:分析测量结果与标准关系,判读故障点。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:厚泽王超徐沛虎崔文涛王宏伟
申请(专利权)人:北京航天测控技术开发公司
类型:发明
国别省市:11

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