光拾取装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光拾取装置。光拾取装置中除去因控制信号的变动及数据信号的误差率导致的多层间串音，确保窄层间隔下的稳定的运行。将来自多层光盘(501)的反射光以中心线分开的方式，被分离光学系统(107)平行分离成2份，并进行聚光。被聚光的来自所述层的反射光被限制反射区域的反射板(534)反射，并被光检测器(52)检测，来自其他层的反射光不被反射板(534)反射，所以层间串音降低。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光拾取装置，尤其涉及光拾取装置的读取光学系统。
技术介绍
对于光盘技术，现在普遍都在为增加容量而推进多层化技术。但是，常规光驱装置 尚存层间串音问题。参照图3，说明了光拾取装置检测光学系统中的多层光盘的串音问题。循迹误差 信号检测通常采用DPP (Differential Push-Pul 1)法。DPP法中，通过衍射光栅将激光分 离成1束主光线和2束子光线，以这3束光线对光盘进行照射。在图3中仅示出了主光线 80。为简化计，501为2层的光盘，511和512为信息记录层。来自物镜401的主光线的最 小光斑位置位于主光线80所示的信息记录层511上，以读取信息记录层511的信息。如图 4所示，在信息记录层511上，形成循迹用导槽，主光线作为光斑94照射到该槽中，同时，子 光线以照射光斑95、96的形状照射到刚好错开半个磁迹节距的位置。照射光的焦点在记录 层511处重合，所以，该反射光沿着和入射光原路相反的方向返回到图3的物镜401上。然 后，透过检测透镜402，变成光束801入射到光检测器51上。检测透镜402存在像散，光检 测器51设置在最小弥散圆的位置。图5示出了光检测器的形状和来自光盘的反射光的入射状态。中央四分离成田字 型的检测器541检测主光线，主光线作为光斑811照射到检测器541上。子光线反射光分别 作为光斑812、813各自入射到2分离检测器M2、543之上。来自4分离检测器541的信号 记为A、B、C、D，来自2分离检测器M2的信号记为E、F，将来自2分离检测器M3的信号记 为G、H。此时，循迹误差信号TR表示为TR= (A+B) - (C+D)-k{ (E-F) +(G-H) }。其中，k为常 数，由主光线和子光线的强度比等决定。通常，设定主光线比子光线强度大10倍以上。另 外，聚焦误差信号记为AF，数据信号记为RF，AF = A+C- (B+D)、RF = A+C+B+D。TR和AF信 号在激光照射位置控制时使用。在对多层光盘照射激光时，各层反射的光检测器检测出的反射光量设计成基本相 同。为此，离物镜近的层的透过率大，离物镜远的层也能够照射到激光。在这种条件下，如 果激光焦点对焦到图3所示的信息读取目标层即511上，则部分激光作为光束82透过该层 511，由相邻层512反射，成为杂光的反射光束83。该反射光束83返回物镜401，在入射到 检测透镜402上之后，在光检测器51的正前暂时聚光，如光束804般扩束并入射到光检测 器51上。光束804在光检测器面上如图5所示成为扩束光斑841，并呈覆盖光检测器Ml、 542、543的状态。为此，光束811和812、813彼此形成干涉。该干涉受到因层间隔变动导致 的光斑841的相位变化的影响，而产生变化。光束811的全部光量即RF信号强度的变动引起RF信号的抖动而变差，将使得数 据读取时的出错率增加。另外，光束812和813的干涉引起TR信号的变动。衍射光栅分离生 成的子光线的强度设计上设定得较小，和来自相邻层的主光线的反射光的功率密度大致相 同，因此干涉效果很好。该干涉也受光盘的倾角和层间隔等影响，不均勻层间隔光盘转动会导致光斑812或者813的光量分布发生改变。结果，对TR信号的差动信号部分(E-F) + (G-H) 产生影响，循迹信号平衡打破。这样，轨迹会发生偏离，从而产生故障。同样，在相邻层512 位于读取对象层511的物镜上的场合，同样从相邻层产生反射光，产生存在问题的干涉。所以，专利文献1提出了一种降低串音的技术。在专利文献1中，在图7所示的光 拾取光学系统中，使用反射区域限制反射镜43。下面对光学系统进行说明。半导体激光器 101射出的激光通过准直透镜403和三角棱镜102，转换成圆形的准直光束。准直光束通过 衍射光栅103分离成3束光束，1束主光线和2束子光线。主光线的前进方向和入射光束 相同，而子光线则成为和光轴的两侧存在倾角的出射光。3束光束透过偏光束分光镜104， 通过λ /4板105转换成圆偏光，在物镜透镜404处照射到由转动机构转动的多层光盘501 上。其中，多层光盘501图示为2层光盘，但是也可以用3层以上的多层光盘。读取对象层 (所述层)为511，激光的最小光斑位置位于511上。邻接层512产生反射光83，这也是产 生串音的原因，即产生杂光。来自多层光盘的反射光也含杂光，返回物镜404，通过λ /4板105，转换成与最初 偏光方向正交的方向的线偏光。为此，被偏光分束器104反射，射向λ/4板106，转换成圆 偏光。之后，由反射光聚光透镜405聚光，被来自所述层即记录层511的反射光的最小光斑 位置处设置的反射板43反射。反射板43的形状如图8所示。831为主光线的最小光斑， 832,833为子光线的最小光斑。各最小光斑被由反射区域限制的反射区域431、432、433反 射。该反射区域的外侧是反射率低的部分。由反射板43反射的来自所述层的反射光返回 反射光聚光透镜405，通过λ /4板106成为与入射时偏光方向正交的偏光方向的线偏光， 并透过分束器104。406为具有像散的聚光透镜，在最小弥散圆的位置上放置光检测器42。 光检测器52的具有感度的部分的形状如图5所示。来自光检测器52的信号由信号处理回 路53处理，形成控制光斑位置的AF信号和TR信号、数据信号即RF信号。在先技术文献专利文献专利文献1日本特开2008-135097号公报
技术实现思路
然而，在图8中，作为串音的主要原因的来自其他层的杂光841照射很宽的区域， 所以，反射率低的部分也受到照射，使得射向检测器的反射光量减少。而且，因为反射区域 431、432、433也受到照射，所以，该区域的反射光返回检测器而作为另一导致串音的原因。本专利技术的目的在于提供一种光拾取装置，通过提供除去残存的所述层间串音的手 段，从而得到稳定的循迹信号及聚焦误差信号，进一步防止RF信号的信噪比降低。为了解决所述问题，本专利技术提供一种通过防止来自其他层的反射光照射于反射区 域限制反射面中的反射区域，使得层间串音减少的技术。图9和图10示出将来自多层光盘的反射光分离成2份并由反射光聚光透镜进行 聚光的状态。为了说明容易理解，在各图中将来自所述层的反射光和其他层的反射光分别 在不同的图中进行描述，但是，实际上它们二者是同时重合在一起的。在两图的左侧，来自 分离成的所述层的反射光812由反射光聚光透镜405进行聚光，在聚光面5Μ形成最小光 斑。在图9的右图中示出了来自比所述层更靠近物镜的层的杂光的反射光，由反射光聚光透镜405聚光的状态。入射到反射聚光透镜405的反射光851被分离。由于反射层离物镜 很近，在离所述层的聚光面5M更远的位置525进行聚光。在图10的右图中，示出了反射 层位于比所述层更远的场合的聚光状态，分离的反射光852，在比所述层的聚光面5M更靠 近反射光聚光透镜405的位置5 进行聚光。图11示出了图9或者图10中的聚光面524的光的分布。来自所述层的反射光的 主光线为1束，子光线为2束，主光线作为光斑821而射入，子光线作为光斑822和823而射 入。来自所述层的反射光一分为二，呈从中间分开的光量分布。例如，主光线的其他层的反 射光成8本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光拾取装置，其特征在于，具有：激光光源；将来自所述激光光源的激光聚光于多层光信息记录介质中的一个记录层上的照射光聚光光学系统；以及检测从所述多层光信息记录介质的所述记录层反射的反射光的检测光学系统，所述检测光学系统包含：将来自所述记录层的反射光平行分离于光轴两侧以使分离后的光束不通过光轴的分离光学系统；射入所述分离光学系统分离后的反射光的反射光聚光透镜；设于由所述反射光聚光透镜射入的所述反射光中的来自所述一个记录层的反射光的最小光斑位置的反射区域限制反射面；以及检测由所述反射区域限制反射面的反射面反射后的反射光的光检测器，其中，所述反射区域限制反射面反射来自所述一个记录层的反射光而不反射来自其他记录层的反射光。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：木村茂治，
申请(专利权)人：日立视听媒体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP