孔位置度检测结构制造技术

本发明专利技术公开了一种孔位置度检测结构，该检测结构包括：滑动机构、检测销、零位限位块、百分表、以及底座。本发明专利技术通过对滑动机构、检测销、零位限位块、百分表、以及底座等装置进行合理搭配，制造出一种针对孔位置偏差进行量化检测的专用检具。该检具专门用于对产品孔位置偏差进行量化检测，由于其针对性较强使得该专用检具的结构简单，操作更加方便、测量更加可靠。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种孔位置度检测结构，特别是涉及一种操作简单和测量可靠的孔位置度检测机构。
技术介绍
检具是工业生产企业用于控制产品各种尺寸以便进行产品质量控制的简捷的检测工具，其应用于大批量产品的生产过程之中，如汽车零部件。检具主要用以替代专业测量工具，如游标卡尺，深度尺等，其用于大批量产品的生产过程之中后不仅可以使得对产品的质量检测过程更加简单，而且可以使得对产品的测量更加可靠。具体地，在设计制造用于检测产品孔位置度的检具时，需要考虑产品孔位置偏差的量化检测的应用。也就是说，根据产品孔位置的变化，需要对产品孔偏差进行量化检测， 而不是普通的定性检测即产品是否合格。综上所述，亟待解决的问题是，需要设计制造一种孔位置度检测机构，其不仅操作简单，而且测量可靠，以达到提高企业的生产效率和产品优良率，提高企业产品市场竞争力的目的。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是，提供一种孔位置度检测结构，其为用于检测产品上孔位置度的检具，不仅操作简单，而且检测准确。为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案是一种孔位置度检测结构，该检测结构包括滑动机构、检测销、零位限位块、百分表、以及底座，其中，所述零位限位块安装于所述滑动机构上用于将所述滑动机构固定于零点，解除所述零位限位块后所述滑动机构可以在垂直或水平方向移动，所述检测销随着所述滑动机构进行同步移动，所述百分表安装于所述滑动机构上以检测其移动数据。进一步，所述的孔位置度检测结构还包括弹簧，其一端作用于所述底座上，另一端作用于所述滑动机构上。进一步，所述的孔位置度检测结构还包括百分表衬套，其设置于所述百分表与滑动机构的连接处以起到衬垫作用。进一步，所述的孔位置度检测结构还包括检测销衬套，其设置于所述检测销与滑动机构的结合处以起到衬垫作用。进一步，所述的孔位置度检测结构中，所述零位限位块与所述滑动机构之间为可转动连接，所述滑动机构位于零点处时，通过螺钉对所述零位限位块进行固定。本专利技术的优点是，本专利技术通过对滑动机构、检测销、零位限位块、百分表、以及底座等装置进行合理搭配，制造出一种针对孔位置偏差进行量化检测的专用检具。该检具专门用于对产品孔位置偏差进行量化检测，由于其针对性较强使得该专用检具的结构简单，操作更加方便、测量更加可靠。附图说明图1为本专利技术孔位置度检测结构的整体结构示意图； 图2为本专利技术孔位置度检测结构的俯视图3为图2所示的孔位置度检测结构沿A-A线的剖视图。具体实施例方式为进一步揭示本专利技术的技术方案，兹结合附图详细说明本专利技术的实施方式。图1为本专利技术孔位置度检测结构的整体结构示意图，图2为本专利技术孔位置度检测结构的俯视图，图3为图2所示的孔位置度检测结构沿A-A线的剖视图，结合以上附图可知，本专利技术包括滑动机构11、检测销12、零位限位块13、百分表14、以及底座15，其中，所述零位限位块13安装于所述滑动机构11上用于将所述滑动机构11固定于零点，解除所述零位限位块13后所述滑动机构11可以在垂直或水平方向移动，所述检测销12随着所述滑动机构11进行同步移动，所述百分表14安装于所述滑动机构11上以检测其移动数据。另外，本孔位置度检测结构还包括弹簧23，其一端作用于所述底座15上，另一端作用于所述滑动机构11上以起到支撑所述滑动机构11的作用。优选地，本专利技术孔位置度检测结构还包括百分表衬套21和检测销衬套22，所述百分表衬套21设置于所述百分表14与滑动机构11的连接处以起到衬垫作用，所述检测销衬套22设置于所述检测销12与滑动机构11的结合处同样起到衬垫作用。优选地，本专利技术孔位置度检测结构中，所述零位限位块13与所述滑动机构11之间为可转动连接，其中，当所述零位限位块13转至所述滑动机构11远端时可通过一个螺钉将所述零位限位块13固定于本孔位置度检测结构的外壳上以将所述滑动机构11固定于零点ο以下结合附图说明本专利技术在实际检测过程中的动作情况以及各部件之间的连接关系。实际工作中，在检测待检产品上的圆孔偏差值时，首先，所述零位限位块13被螺丝钉锁住以将所述滑动机构11固定于零点并对其上的所述百分表14进行校零工作；然后， 解除上述螺丝钉将所述零位限位块13转至所述滑动机构11 一侧即所述零位限位块13放置到自由状态，使得所述滑动机构11可以在垂直或水平方向移动；其次，所述检测销12随着所述滑动机构11进行同步移动，通过移动所述所述滑动机构11将所述检测销12的检测端插入到待检产品的圆孔中；最后，通过安装于所述滑动机构11上的所述百分表14检测所述滑动机构11地移动数据，通过分析上述移动数据即可以得到产品孔的实际偏差值。以上通过对所列实施方式的介绍，阐述了本专利技术的基本构思和基本原理。但本专利技术绝不限于上述所列实施方式，凡是基于本专利技术的技术方案所作的等同变化、改进及故意变劣等行为，均应属于本专利技术的保护范围。权利要求1.一种孔位置度检测结构，其特征在于，该检测结构包括滑动机构(11)、检测销 (12)、零位限位块(13)、百分表(14)、以及底座(15)，其中，所述零位限位块(13)安装于所述滑动机构(11)上用于将所述滑动机构(11)固定于零点，解除所述零位限位块(13 )后所述滑动机构(11)可以在垂直或水平方向移动，所述检测销(12 )随着所述滑动机构(11)进行同步移动，所述百分表(14)安装于所述滑动机构(11)上以检测其移动数据。2.根据权利要求1所述的孔位置度检测结构，其特征在于，该检测结构还包括弹簧 (23)，其一端作用于所述底座(15)上，另一端作用于所述滑动机构(11)上。3.根据权利要求1所述的孔位置度检测结构，其特征在于，该检测结构还包括百分表衬套(21 )，其设置于所述百分表(14)与滑动机构(11)的连接处。4.根据权利要求1所述的孔位置度检测结构，其特征在于，该检测结构还包括检测销衬套(22)，其设置于所述检测销(12)与滑动机构(11)的结合处。5.根据权利要求1所述的孔位置度检测结构，其特征在于，所述零位限位块(13)与所述滑动机构(11)之间为可转动连接，所述滑动机构(11)位于零点处时，通过螺钉对所述零位限位块(13)进行固定。全文摘要本专利技术公开了一种孔位置度检测结构，该检测结构包括滑动机构、检测销、零位限位块、百分表、以及底座。本专利技术通过对滑动机构、检测销、零位限位块、百分表、以及底座等装置进行合理搭配，制造出一种针对孔位置偏差进行量化检测的专用检具。该检具专门用于对产品孔位置偏差进行量化检测，由于其针对性较强使得该专用检具的结构简单，操作更加方便、测量更加可靠。文档编号G01B5/00GK102192695SQ20111007053公开日2011年9月21日 申请日期2011年3月23日 优先权日2011年3月23日专利技术者张鸣, 董力 申请人:昆山若宇检具工业有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种孔位置度检测结构，其特征在于，该检测结构包括：滑动机构（１１）、检测销（１２）、零位限位块（１３）、百分表（１４）、以及底座（１５），其中，所述零位限位块（１３）安装于所述滑动机构（１１）上用于将所述滑动机构（１１）固定于零点，解除所述零位限位块（１３）后所述滑动机构（１１）可以在垂直或水平方向移动，所述检测销（１２）随着所述滑动机构（１１）进行同步移动，所述百分表（１４）安装于所述滑动机构（１１）上以检测其移动数据。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：董力，张鸣，
申请(专利权)人：昆山若宇检具工业有限公司，
类型：发明
国别省市：32