【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测试方法，尤其涉及一种。
技术介绍
提高和保证嵌入式设备的产品质量，是嵌入式设备生产企业的重要工作内容。在 嵌入式设备产品出厂之前，对嵌入式设备各项性能进行测试、查找出问题点，能有效地保证 嵌入式设备的品质，避免不良品流入市场。嵌入式设备的各项性能测试中，包含一项烧机测试，即对嵌入式设备长时间开机， 并检测在该长时间开机过程中嵌入式设备是否能够正常运行。然而，在以往的烧机测试中， 需要通过计算机将嵌入式设备烧机测试程序拷贝到嵌入式设备中，且需要作业员定期通过 计算机的显示器查看嵌入式设备的测试状态。若嵌入式设备通过测试，还需要将嵌入式设 备烧机测试程序从嵌入式设备中移除，降低了测试效率。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提出一种，其可以使嵌入式设备 烧机测试程序在嵌入式设备的内存中独立运行，且当嵌入式设备通过测试时，该嵌入式设 备烧机测试程序会自动从嵌入式设备的内存中清除，提高了烧机测试效率。一种，该包括于计算机中设 置测试时间并启动外置存储设备中的嵌入式设备烧机测试程序，使该嵌入式设备烧机测试 程序在嵌入式设备的内存中运行；断开计算机与嵌入式设备间的连接，并将外置存储设备 与嵌入式设备断开；在上述设置的测试时间内对该嵌入式设备进行测试；标识测试结果并 将嵌入式设备断电，使得嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中被清除。相较于现有技术，所述的，可以将外置存储设备与嵌入 式设备断开，使嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中独立运行，且当嵌入式设 备通过测试时，嵌入式设备烧机测试程序会自动从嵌入式设备的内存中清除，提高了烧机 测试效...
【技术保护点】
１．一种嵌入式设备烧机测试方法，其特征在于，该嵌入式设备烧机测试方法包括：于计算机中设置测试时间并启动外置存储设备中的嵌入式设备烧机测试程序，使该嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中运行；断开计算机与嵌入式设备间的连接，并将外置存储设备与嵌入式设备断开；在上述设置的测试时间内对该嵌入式设备进行测试；及标识测试结果并将嵌入式设备断电，使得嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中被清除。
【技术特征摘要】
1.一种嵌入式设备烧机测试方法，其特征在于，该嵌入式设备烧机测试方法包括于计算机中设置测试时间并启动外置存储设备中的嵌入式设备烧机测试程序，使该嵌 入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中运行；断开计算机与嵌入式设备间的连接，并将外置存储设备与嵌入式设备断开； 在上述设置的测试时间内对该嵌入式设备进行测试；及标识测试结果并将嵌入式设备断电，使得嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内 存中被清除。2.如权利要求1所述的嵌入式设备烧机测试方法，其特征在于，所述在上述设置的测 试时间内对该嵌入式设备进行测试的步骤包括如下步骤(a)启动嵌入式设备中的进程查看指令以查看嵌入式设备所运行的进程；(b)判断所查看到的嵌入式设备运行的进程与该嵌入式设备合...
【专利技术属性】
技术研发人员：田志海，曹朝杰，董华，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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